一种光衍射器件及其制备方法和三维显示装置制造方法及图纸

技术编号:15637544 阅读:125 留言:0更新日期:2017-06-15 06:32
本发明专利技术公开了一种基于随机激光散斑的纳米级结构光衍射器件。该结构光衍射器件的衍射结构单元只有几百纳米,甚至几十纳米,具有分辨率高,对比度高和视场角大等优势。在此基础上,本发明专利技术还提出了一种纳米级衍射器件的制作方法,即位相光场干涉光刻法。利用该方法可以制备出高品质的深度感知结构光衍射器件。相比于传统的光学元件加工技术,本发明专利技术提出的位相光场干涉光刻法具有分辨率高和位相匹配精度高等优势,与紫外投影曝光和电子束直写等光刻技术相比,本发明专利技术提出的光刻技术具有速度快、成本低等优势。

【技术实现步骤摘要】
一种光衍射器件及其制备方法和三维显示装置
本专利技术涉及显示设备
,更具体地说,涉及一种面向深度感知的光衍射器件及其制备方法和三维显示装置。
技术介绍
视觉是人类观察与认知世界最直接的途径,随着人类追求的不断提高,如何让机器或智能设备具有类似人眼的3D视觉感知能力,从而实现人与机器的自然交互、人与网络世界的虚拟交互、甚至机器与机器之间的交互成为时下的技术热点。人机交互的前提条件是机器或智能设备能够建立真实场景的三维图像,这就需要机器或智能设备对真实场景进行深度感知,获取真实场景的深度信息,其中利用的关键技术称为深度感知技术。深度感知技术作为获取三维图像的关键共性技术,对推动虚拟现实、增强现实、智能机器人、无人机、智能手机、智能监控、整形医疗等新兴产业的深入发展起着不可或缺的作用。主流的深度感知技术包括三种,立体视觉技术、飞行时间法技术和结构光技术。相较于前两种深度感知技术,结构光技术具有不受环境光影响、立体匹配算法简单、获取的深度信息更稳定准确等优势,当前和未来很长一段时间内,将成为人机交互、智能设备深度获取等领域的主流技术。当前采用结构光深度感知技术的典型产品有微软公司出品的Kinect系列深度相机、谷歌的Projecttango项目所用的结构光深度感知模组和微软Hololens深度摄像头等。根据形成机制的不同,结构光可分为照明投影型和激光衍射型。照明投影型结构光的分辨率、视场角和焦深都具有自身的局限性,相比于前者,激光衍射型结构光因其光学结构的衍射特性而能够获得更高品质的结构光图像。随着增强现实、机器视觉、智能手机等深度感知应用领域对高质量三维深度信息的要求越来越高,激光衍射型结构光技术正逐渐成为获得高分辨率、高匹配精度三维深度信息的主流技术手段。微软体感交互设备Kinect一代的深度感知模组就是通过衍射光学元件形成激光散斑图像来获取真实物体的深度信息。结构光感知技术中,从被测物体表面获取的结构光图像是反映目标物体三维形貌的信息源,因此结构光图像的分辨率、对比度、视场角等特性直接关系到深度信息的可靠性与精确度。激光衍射型结构光图像的分辨率、对比度和视场角取决于结构光元件的衍射单元尺寸和位相匹配精度。目前为止,以kinect深度相机为代表的结构光应用中,结构光衍射元件的衍射单元尺寸仅能局限于微米量级,这大大限制了结构光图像的分辨率、对比度和视场角等特性,难以充分展现衍射型结构光的优势。
技术实现思路
为了获取更高品质的结构光图像,本专利技术提出了一种基于随机激光散斑的纳米级光衍射器件。该光衍射器件具有分辨率高,对比度高和视场角大等优势。本专利技术提出的光刻技术具有速度快、成本低等优势。为达到上述目的,本专利技术的技术方案如下:一种光衍射器件的制作方法,包括以下步骤:s1,利用傅里叶变换算法计算出随机散斑的二阶频谱位图;s2,将二阶频谱位图形貌特征加工到透明基底表面,形成位相深度为浮雕结构的位相型衍射光学元件。本专利技术提出一种纳米级衍射器件的制作方法,即位相光场干涉光刻法。利用该方法可以制备出高品质的深度感知光衍射器件。相比于传统的光学元件加工技术,本专利技术提出的位相光场干涉光刻法具有分辨率高和位相匹配精度高等优势,与紫外投影曝光和电子束直写等光刻技术相比,本专利技术提出的光刻技术具有速度快、成本低等优势。优选的,步骤s2包括以下步骤:s21,首先制备微米级位相型衍射光学元件,即将所述随机散斑的二阶频谱位图的黑白分布加工到透明基底表面,形成微米级位相型二阶的表面浮雕型的微米级位相型衍射光学元件;s22,在透明基底表面涂覆光刻胶层,将微米级位相型衍射光学元件放置于位相光场干涉光刻直写装置中进行直写光刻,将此微米级位相型衍射光学元件图形结构按比例转刻到透明基底表面的光刻胶层,蚀刻后形成纳米级光衍射元件。优选的,步骤s22中,根据光栅方程:Λ·sinθ=±m·λ,m=0,1,2,…设衍射光学元件的最小衍射单元尺寸为D1,在投影物镜下进行位相光场干涉光刻,得到的最小衍射单元尺寸满足D2=(D1/a)/2的关系式,其中a为投影物镜的微缩倍率。一般而言,优选微缩倍率a=5-100倍。设微米级位相型衍射光学元件的最小衍射单元尺寸为D1,在微缩倍率a=5-100d的投影物镜下进行位相光场干涉光刻,得到的最小衍射单元尺寸满足D2=(D1/a)/2的关系式。例如当D1=10μm,a=50时,根据上述关系式,得到D2=0.1μm。优选的,步骤s22中,按比例转刻是通过透镜微缩和激光干涉光刻相结合且满足纳米级的分辨率的光刻方法。从而能够达到纳米级的分辨率和高位相匹配精度,高位相匹配精度决定了结构光的高对比度;由光栅方程可知,波长一定的情况下,衍射光学元件的衍射角和衍射单元尺寸成反比,衍射单元尺寸越小,衍射角越大,所以纳米级结构光衍射器件能够实现大视场角的结构光图像。优选的,步骤s22中,所述位相光场干涉光刻直写装置包括:激光发生装置;扩束透镜,所述激光发生装置发生的激光束经过扩束透镜形成平行光束;空间光调制器,平行光束经过空间光调制器进行光斑整形,形成一个光斑束;4f光学组件,光斑束经过4f光学组件成像于后焦面的衍射光学元件平面,形成多束衍射光;投影物镜,衍射光通过投影物镜汇聚于透明基底表面的光刻胶层进行干涉曝光,形成纳米级结构光衍射图形。优选的,步骤s22中,将微米级位相型衍射光学元件放置于所述位相光场干涉光刻直写装置中,然后开启激光发生装置;所述激光发生装置发生的激光束经过扩束透镜形成平行光束;平行光束经过空间光调制器进行光斑整形,形成一个特定形状的光斑束;光斑束经过4f光学组件成像于后焦面的衍射光学元件平面,形成多束衍射光;衍射光通过投影物镜汇聚于透明基底表面的光刻胶层进行干涉曝光,形成纳米级结构光衍射图形。优选的,步骤s22中,通过干法刻蚀将光刻胶图形转移到透明基底上,最终形成位相深度为浮雕型的纳米级光衍射元件。本专利技术还提供一种微米级位相型衍射光学元件,即二阶的表面浮雕型衍射光学元件,包括透明基底和设置透明基底表面的随机散斑频谱位图的黑白分布,所述随机散斑频谱位图的黑白分布为微米级二阶的表面浮雕。本专利技术还提供一种光衍射器件,包括透明基底和设置透明基底表面的随机散斑频谱位图的黑白分布,所述随机散斑频谱位图的黑白分布为纳米级二阶的表面浮雕。本专利技术还提供一种三维显示装置,包括上述方法制备的光衍射器件,或上述光衍射器件。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例技术中的技术方案,下面将对实施例技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是利用激光衍射的快速傅里叶变换算法计算产生随机散斑的二值位图的示意图;图2是利用傅里叶变换算法将散斑位图转换为二阶频谱位图的示意图;图3是将二阶频谱位图形貌特征加工到透明基底表面,形成位相深度为浮雕结构的纳米级位相型衍射光学元件的示意图;图4是衍射角θ与纳米级结构光衍射器件的视场角关系的示意图;图5是利用位相光场干涉光刻直写装置制备面向深度感知的光衍射器件的示意图;具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描本文档来自技高网
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一种光衍射器件及其制备方法和三维显示装置

【技术保护点】
一种光衍射器件的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:s1,利用傅里叶变换算法计算出随机散斑的二阶频谱位图;s2,将二阶频谱位图形貌特征加工到透明基底表面,形成位相深度为浮雕结构的位相型衍射光学元件。

【技术特征摘要】
1.一种光衍射器件的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:s1,利用傅里叶变换算法计算出随机散斑的二阶频谱位图;s2,将二阶频谱位图形貌特征加工到透明基底表面,形成位相深度为浮雕结构的位相型衍射光学元件。2.根据权利要求1所述的光衍射器件的制作方法,其特征在于,步骤s2包括以下步骤:s21,首先制备微米级位相型衍射光学元件,即将所述随机散斑的二阶频谱位图的黑白分布加工到透明基底表面,形成二阶的表面浮雕型的微米级位相型衍射光学元件;s22,在透明基底表面涂覆光刻胶层,将微米级位相型衍射光学元件放置于位相光场干涉光刻直写装置中进行直写光刻,将此微米级位相型衍射光学元件图形结构按比例转刻到透明基底表面的光刻胶层,蚀刻后形成纳米级光衍射元件。3.根据权利要求2所述的光衍射器件的制作方法,其特征在于,步骤s22中,根据光栅方程:Λ·sinθ=±m·λ,m=0,1,2,…设衍射光学元件的最小衍射单元尺寸为D1,在投影物镜下进行位相光场干涉光刻,得到的最小衍射单元尺寸满足D2=(D1/a)/2的关系式,其中a为投影物镜的微缩倍率。4.根据权利要求2或3所述的光衍射器件的制作方法,其特征在于,步骤s22中,按比例转刻是通过透镜微缩和激光干涉光刻相结合且满足纳米级的分辨率的光刻方法。5.根据权利要求2所述的光衍射器件的制作方法,其特征在于,步骤s22中,所述位相光场干涉光刻直写装置包括:激光发生装置;扩束透镜,所述激光发生装置发生的激光束经过扩束透镜形成平行光束...

【专利技术属性】
技术研发人员:邵仁锦浦东林朱鹏飞张瑾朱鸣陈林森
申请(专利权)人:苏州苏大维格光电科技股份有限公司苏州大学
类型:发明
国别省市:江苏,32

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