【技术实现步骤摘要】
一种用于热解析进样的进样装置
本技术应用于一种用于离子迁移谱热解析进样的样品存放装置组件,与热解析进样器配合使用,适用于固体或液体样品的进样分析。
技术介绍
离子迁移谱(IonMobilitySpectrometry,IMS)技术20世纪70年代出现的一种分离检测技术,与传统的质谱、色谱仪器相比,具有结构简单,灵敏度高,分析速度快,结果可靠的特点。热解析进样器是用于多功能离子迁移谱快速检测仪中的必备部件,它的性能好坏,直接决定了进样效率和离子迁移谱的整体性能。其加热都是通过加热棒温控加热,加热温度属于恒温控制模式,加热时间依据加热棒功率不同,目前使用时间范围5-30min。加热比较慢,而且对于仪器而言能耗比较高。用于热解析进样器的进样装置目前没有商品化仪器,各研究单位都是根据不同仪器的使用要求,进行相应设计改进进样装置。对液体样品进行分析,例如已有专利专利技术了一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片(专利号:ZL201320577522.9)。本技术中的装置是专门配用于像滤纸这样的不易手持的小进样片设计的。
技术实现思路
一种用于热解析进样的进样装置,包括一圆形平板,于圆形平板上表面开设有一用于放置”o”圈的环形凹槽,于环形凹槽内、圆形平板上表面开设有一用于平铺样品的第一凹槽;于圆形平板下表面中部设有一圆形凸起,于圆形凸起下表面开设有一用于与电机装置组件连接的第二凹槽。圆形凸起与圆形平板同轴。圆形平板直径大于圆形凸起直径;直径之差大于2mm。圆形平板下表面、圆形凸起侧表面均为光滑面,其为固定用面。环形凹槽内和第一凹槽均为圆形,且它们均与圆形平板同轴。圆形平板与圆形凸起 ...
【技术保护点】
一种用于热解析进样的进样装置,其特征在于:包括一圆形平板,于圆形平板上表面开设有一用于放置”o”圈的环形凹槽(2),于环形凹槽内、圆形平板上表面开设有一用于平铺样品的第一凹槽(1);于圆形平板下表面中部设有一圆形凸起,于圆形凸起下表面开设有一用于与电机装置组件连接的第二凹槽(3)。
【技术特征摘要】
1.一种用于热解析进样的进样装置,其特征在于:包括一圆形平板,于圆形平板上表面开设有一用于放置”o”圈的环形凹槽(2),于环形凹槽内、圆形平板上表面开设有一用于平铺样品的第一凹槽(1);于圆形平板下表面中部设有一圆形凸起,于圆形凸起下表面开设有一用于与电机装置组件连接的第二凹槽(3)。2.根据权利要求1所述的用于热解析进样的进样装置,其特征在于:圆形凸起与圆形平板同轴。3.根据权利要求1所述的用于热解析进样的进样装置,其特征在于:圆形平板直径大于圆形凸起直径;直径之差大于2mm。4.根据权利要求1所述的用于热解析进样的进样装置,其特征在于:圆形平板下表面、圆形凸起侧表面均为光滑面,其为固定用面。5.根据权利要求1所述的用于热解析进样的进样装置,其特征在于:环形凹槽(2)和第一凹槽(1)均为圆形,且它们均与圆形平板...
【专利技术属性】
技术研发人员:王新,渠团帅,李海洋,
申请(专利权)人:中国科学院大连化学物理研究所,
类型:新型
国别省市:辽宁,21
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。