基于暗场检测技术的检测方法以及该方法使用的双包层光纤微弯传感器和设备技术
Detection method of dark field detection technology and double cladding fiber used in this method and device based on microbend sensor
The invention discloses a detection method based on dark field detection technology and the method of using double clad fiber microbend sensor and device, which belongs to the technical field of optical fiber sensor, through the use of double clad fiber double clad fiber microbend sensor outside of the physical field, and the sensor to the field intensity transmitted to the photoelectric detector by double clad optical fiber coupler. The utility model has the advantages of high sensitivity, high modulation degree, good safety performance, several sensor connections, distributed sensing, electromagnetic interference resistance, simple structure, convenient installation, etc..
【技术实现步骤摘要】
基于暗场检测技术的检测方法以及该方法使用的双包层光纤微弯传感器和设备
本专利技术涉及光纤传感
，尤其涉及一种利用光纤微弯传感器进行检测的技术。
技术介绍
目前光纤微弯传感器大多为多模光纤微弯传感器。多模光纤微弯传感器通过检测弯曲损耗来测量外界的压力、位移等物理量，由于其光路的密闭性，因此可以在高压、高温、低温等恶劣环境条件下工作。然而，由于多模光纤的特性，决定了多模光纤微弯传感器主要集中在亮场检测技术，亮场检测是对纤芯中的光强度的变化来实现信号能量的转换，这就容易受到纤芯中噪声的影响，使其测量灵敏度降低。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术的不足，提出了一种基于暗场检测技术的检测方法，同时提出了该方法使用的双包层光纤微弯传感器和设备。本专利技术所述的检测方法包括如下步骤：1)选择一种双包层光纤；2)根据公式(1)，对于选定的光纤，设计变形器，最佳的变形周期为：Λc=2πan0NA---(1)]]>a为纤芯半径；n0为纤芯折射率；NA为光纤数值孔径3)将步骤2)的变形器包裹在步骤1)的双包层光纤上，构成双包层光纤微弯传感器；4)双包层微弯传感器前端通过一个双包层光纤耦合器与光源相连接，双包层光纤耦合器将光源的光载波耦合到双包层光纤的纤芯中；5)光源的光载波通过双包层光纤送给变形器，物理场通过变形器把作用力传递给光纤，使光纤产生微弯变形，由于光纤的变形导致辐射模的辐射增大或减小，从而实现了对光载波强度的调制；6)双包层微弯传感器后端通过一个双包层光纤耦合器与光电检测器相连接，通过双包层光纤耦合器将双包层光纤内包层中传输的信号提取出来并送入光电探测器进...
【技术保护点】
基于暗场检测技术的检测方法，其特征在于包括如下步骤：1)选择一种双包层光纤；
【技术特征摘要】
1.基于暗场检测技术的检测方法，其特征在于包括如下步骤：1)选择一种双包层光纤；2)根据公式(1)，对于选定的光纤，设计变形器，最佳的变形周期为：Λc=2πan0NA]]>a为纤芯半径；n0为纤芯折射率；NA为光纤数值孔径3)将步骤2)的变形器包裹在步骤1)的双包层光纤上，构成双包层光纤微弯传感器；4)双包层微弯传感器前端通过一个双包层光纤耦合器与光源相连接，双包层光纤耦合器将光源的光载波耦合到双包层光纤的纤芯中；5)光源的光载波通过双包层光纤送给变形器，物理场通过变形器把作用力传递给光纤，使光纤产生微弯变形，由于光纤的变形导致辐射模的辐射增大或减小，从而实现了对光载波强度的调制；6)双包层微弯传感器后端通过一个双包层光纤耦合器与光电检测器...
【专利技术属性】
技术研发人员：盛小玲，张维佳，
申请(专利权)人：重庆市涪陵三海兰陵有限责任公司，
类型：发明
国别省市：重庆,50
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