一种试样对中装置制造方法及图纸

技术编号:15428700 阅读:59 留言:0更新日期:2017-05-25 15:43
本实用新型专利技术提供了一种试样对中装置,属于拉伸夹具的技术领域。一种试样对中装置包括基本块、挡块以及锁紧定位结构,且锁紧定位结构包括锁紧孔和定位螺丝;本实用新型专利技术将基本块设置成矩形条状,并在基本块的一大面上设置激光刻印的刻度,有效提高对中的准确度,延长使用时间;挡块为包括长边和短边的梯形,在长边的一角上设置矩形凸块,以矩形凸块边缘为参考,保证了试样能快速且准确的实现对中,提高对中的效率;挡块上开设滑槽,与基本块配合滑行,在挡块上开设锁紧孔,并配合定位螺丝,保证挡块能临时固定在基本块上,避免挡块滑动影响对中准确度;将基本块采用磁性材料制作,保证了装置能吸附在拉伸夹具上,对中效果更好。

【技术实现步骤摘要】
一种试样对中装置
本技术涉及拉伸夹具的
,具体是涉及一种试样对中装置。
技术介绍
随着科技的发展,一些新材料不断被开发出来,并且新材料在各个领域中的应用越来越多,因此需要不断的开发新材料,并研究新材料的性能,不断提高新材料的运用率。但每一种新材料的开发都需要经过严格的性能测试,才能保证开发出来的新材料符合使用条件,安全才能得到保障。而拉伸强度作为新材料性能的主要检测指标,需要精确的测量,才能保证新材料的质量。目前一般使用万能材料试验机进行拉伸测试,但这种万能材料试验机由于测试的材料范围较广,因此造成拉伸夹具的夹块比较宽,一般夹块的宽度设置在50mm左右,但一般的拉伸测试的试样宽度范围在15~25mm之间,使得夹块与试样之间存在较大的间隙。因此在测试的过程中,很难将试样放置在试验机的夹具的正中,导致检测出来的数据存在较大的误差,给测试结果带来较大的影响,并且测试过程复杂,导致测试效率低下,不利于新材料的研究和发展。综上所述,现有的材料拉伸测试方式中存在无法保证试样放置对中,测试结果精确度不高,测试效率低下的问题。
技术实现思路
针对现有技术中存在的上述问题,现旨在提供一种试样对中装置,以设置带刻度的矩形条、梯形挡块以及锁紧定位结构,将两矩形条平行于夹具的夹块设置,并将梯形挡块滑动设置于矩形条上,再依据试样的宽度、夹块的宽度来确定居中位置位于矩形条上的哪一刻度上,并通过锁紧定位结构将梯形挡块固定在矩形条上居中的位置上,快速且准确的将试样对中,操作简单,从而保证了测试结果的精度。具体技术方案如下:一种试样对中装置,具有这样的特征,包括:基本块、挡块以及锁紧定位结构,基本块均呈矩形条状设置,且基本块的其中一大面上靠近一长棱边设置有均匀的刻度,挡块侧面为包括长边和短边的梯形,且沿挡块长边的一角伸出一矩形凸块,挡块长边向内凹陷形成滑槽,基本块嵌于滑槽内,且挡块垂直于基本块长度的方向设置,挡块上且在滑槽背离设置矩形凸块的一侧设置有锁紧定位结构。上述的一种试样对中装置,其中,锁紧定位结构包括一锁紧孔和一定位螺丝,锁紧孔垂直开设于挡块上背离矩形凸块的一侧,且锁紧孔穿过挡块与滑槽连通。上述的一种试样对中装置,其中,锁紧孔为螺纹孔,锁紧孔内的内螺纹与定位螺丝的螺纹相匹配。上述的一种试样对中装置,其中,滑槽的一截面形状呈矩形设置,且滑槽这一截面的长边与挡块的长边平行。上述的一种试样对中装置,其中,滑槽的一截面尺寸与基本块的横截面尺寸相同。上述的一种试样对中装置,其中,基本块上设置有刻度的大面朝向挡块的短边。上述的一种试样对中装置,其中,基本块为磁性材料。上述技术方案的积极效果是:1、将基本块设置为磁性材料,可稳定的吸附在夹具上,防止在放置对中的过程中,对中装置滑动或脱落,提高放置对中的准确性和安全性;2、通过在基本块上设置均匀的刻度,并将梯形挡块在基本块上滑动,滑动过程平稳,且参照基本块上的刻度比对滑动,精确度更高;3、设置锁紧定位结构,保证了在对中后固定挡块的位置,使得在放置测试材料时能快速找到中心,提高测试效率。附图说明图1为本技术的一种试样对中装置的实施例的结构图;图2为本技术一较佳实施例的装配示意图;图3为本技术一较佳实施例的基本块的结构图;图4为本技术一较佳实施例的基本块的另一视角的结构图;图5为本技术一较佳实施例的挡块的结构图;图6为本技术一较佳实施例的挡块的另一视角的结构图;图7为本技术一较佳实施例的定位螺丝的结构图。附图中:1、基本块;11、刻度;2、挡块;21、长边;22、短边;23、矩形凸块;24、滑槽;25、锁紧孔;3、定位螺丝;4、夹具;5、夹块。具体实施方式为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,以下实施例结合附图1至附图7对本技术提供的技术方案作具体阐述,但以下内容不作为本技术的限定。图1为本技术的一种试样对中装置的实施例的结构图;图2为本技术一较佳实施例的装配示意图。如图1和图2所示,本实施例提供的试样对中装置包括:基本块1、挡块2、定位螺丝3以及刻度11。图3为本技术一较佳实施例的基本块的结构图;图4为本技术一较佳实施例的基本块的另一视角的结构图;图5为本技术一较佳实施例的挡块的结构图;图6为本技术一较佳实施例的挡块的另一视角的结构图;图7为本技术一较佳实施例的定位螺丝的结构图。如图1、图3、图4、图5、图6以及图7所示,本实施例提供的试样对中装置还包括:矩形凸块23、滑槽24、锁紧孔25、长边21以及短边22。具体的,基本块1呈矩形条状设置,在基本块1的一大面上且靠近一长棱边设置有均匀的刻度11,刻度11沿基本块1长度的方向设置;基本块1的横截面同样呈矩形设置。具体的,挡块2呈梯形设置,挡块2包括一长边21和一短边22,沿挡块2长边21的一角上突出设置有一矩形凸块23。在挡块2的长边21上,长边21向内凹陷形成滑槽24,且滑槽24的一截面形状呈矩形设置,并且这一截面矩形的长边21与挡块2的长边21平行设置,这一截面矩形的尺寸与基本块1的横截面尺寸一致。挡块2上由于设置有滑槽24,滑槽24将挡块2分成两部分,一部分为设置有矩形凸块23的一侧,另一部分为滑槽24背离设置有矩形凸块23的一侧;在挡块2上背离设置有矩形凸块23的一侧垂直开设有一锁紧孔25,且锁紧孔25的设置方向与矩形凸块23长度方向保持一致的同时还与基本块1的长度方向垂直;并且锁紧孔25为螺纹孔,锁紧孔25内设置有内螺纹。更加具体的,定位螺丝3与挡块2螺纹连接,且定位螺丝3上的螺纹与锁紧孔25中的内螺纹相配合,并且定位螺丝3与挡块2上设置的锁紧孔25配合使用,方便调节定位螺丝3在锁紧孔25中的位置,并且定位螺丝3的螺纹端穿过锁紧孔25抵靠在滑槽24中的基本块1上,通过正旋或反旋定位螺丝3,使得定位螺丝3能锁紧或松开在滑槽24中的基本块1,起到将挡块2临时固定在基本块1上的作用。作为优选的实施方式,基本块1采用磁性材料制作,使得基本块1能吸附在拉伸夹具4上,防止对中装置从夹具4中脱落,影响对中过程的进度以及对中结果的准确度。作为优选的实施方式,基本块1上的刻度11为激光刻印字,防止挡块2在基本块1上滑动时过快磨损刻度11的情况发生,避免因刻度11模糊而影响对中的准确性,有效延长对中装置的使用年限。本实施例提供的试样对中装置,包括基本块1、挡块2以及锁紧定位结构,且锁紧定位结构包括锁紧孔25和定位螺丝3,结构设计合理,操作方便,能有效提高对中效率;将基本块1设置成矩形条状,并在基本块1的一大面上沿一长棱边设置均匀的激光刻印的刻度11,通过刻度11对中,有效提高了对中的准确度,并且能延长使用时间;将挡块2设置成带有一长边21和一短边22的梯形,并在长边21的一角上设置有一矩形凸块23,以矩形凸块23的边缘为参考,保证了试样能快速且准确的实现对中,提高对中的效率;挡块2上开设有滑槽24,并将挡块2在基本块1上滑行,还在挡块2上沿矩形凸块23长度的方向开设有一锁紧孔25,且锁紧孔25与定位螺丝3螺纹连接,保证了定位螺丝3能将挡块2临时固定在基本块1上,避免因挡块2的滑动而影响对中的准确度;还通过将基本块1采用磁性材料制作,保证本文档来自技高网...
一种试样对中装置

【技术保护点】
一种试样对中装置,其特征在于,包括:基本块、挡块以及锁紧定位结构,所述基本块均呈矩形条状设置,且所述基本块的其中一大面上靠近一长棱边设置有均匀的刻度,所述挡块侧面为包括长边和短边的梯形,且沿所述挡块长边的一角伸出一矩形凸块,所述挡块长边向内凹陷形成滑槽,所述基本块嵌于所述滑槽内,且所述挡块垂直于所述基本块长度的方向设置,所述挡块上且在所述滑槽背离设置所述矩形凸块的一侧设置有所述锁紧定位结构。

【技术特征摘要】
1.一种试样对中装置,其特征在于,包括:基本块、挡块以及锁紧定位结构,所述基本块均呈矩形条状设置,且所述基本块的其中一大面上靠近一长棱边设置有均匀的刻度,所述挡块侧面为包括长边和短边的梯形,且沿所述挡块长边的一角伸出一矩形凸块,所述挡块长边向内凹陷形成滑槽,所述基本块嵌于所述滑槽内,且所述挡块垂直于所述基本块长度的方向设置,所述挡块上且在所述滑槽背离设置所述矩形凸块的一侧设置有所述锁紧定位结构。2.根据权利要求1所述的一种试样对中装置,其特征在于,所述锁紧定位结构包括一锁紧孔和一定位螺丝,所述锁紧孔垂直开设于所述挡块上背离所述矩形凸块的一侧,且所述锁紧孔穿过...

【专利技术属性】
技术研发人员:周健许浩然张舒潘康康
申请(专利权)人:上纬上海精细化工有限公司
类型:新型
国别省市:上海,31

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