一种电源管理IC测试系统技术方案

技术编号:15377660 阅读:74 留言:0更新日期:2017-05-18 21:36
本实用新型专利技术公开了一种电源管理IC测试系统,涉及电子器件测试技术领域,包括电压测量件、电阻测量件、继电器矩阵单元、MCU、电源及计算机,所述电源与待测产品连接,所述继电器矩阵单元分别与所述电压测量件、电流测量件、电源、MCU连接,所述继电器矩阵单元用于建立各测量件与待测产品的电气连接并将测量件的多路输入转化为单路输出给计算机,所述MCU与所述继电器矩阵单元连接,并通过所述MCU自动化控制各单元协调动作。本实用新型专利技术通过继电器矩阵单元将被测产品与测试系统连接在一起,并通过MCU自动化控制各单元协调动作,可精确计算出电源管理IC充电过流保护响应时间及放电过流保护响应时间,从而实现同时检测多个电源管理IC的目的,有效提高了电源管理IC的测量精度,多通道的测量保证了测量的效率。

A power management IC test system

The utility model discloses a power management IC testing system, which relates to the technical field of electronic device testing, including voltage measurement, resistance measurement, relay matrix unit, MCU, and computer power supply, the power supply and the products to be tested connected to the relay matrix unit is respectively connected with the voltage measurement, current measurement a power supply MCU, the relay matrix unit is used to establish the measurement and electrical products to be tested and connected with the conversion of input into a multi-channel measurement single output to the computer, the MCU and the relay matrix unit connection, and through the MCU automation control of each unit of coordinated action. The utility model through the relay matrix unit will be measured and product testing system are connected together, and each unit of coordinated action by MCU automatic control, can accurately calculate the power management IC charging and discharging the response time and response time of current protection current protection, so as to realize the simultaneous detection of a plurality of power management IC to improve the measurement accuracy of IC power management, multi channel measurement can ensure the measurement efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种电源管理IC测试系统
本技术涉及电子器件测试
,尤其涉及一种电源管理IC测试系统。
技术介绍
传统电源管理IC测试系统的测量值通常误差较大,且只适合测试精度要不高的电源管理IC,随着电子器件的飞速发展,为了提高测量效率,通常需要同时对多个电源管理IC进行测量,但是由于现有技术的局限性,容易造成测量数据的不准确,因此专利技术一种测量准确方便的电源管理IC测量系统显得尤为重要。专利集成电路IC测试装置及测试方法(申请公布号CN104977527A),公开了一种集成电路IC测试装置及测试方法,该集成电路IC测试装置包括测试被测试设备的集成电路IC测试模块、生成控制集成电路IC测试模块的上位机信号的测试控制模块、从测试控制模块接收上位机信号并发送到集成电路IC测试模块的传输接口;集成电路IC测试模块具有:对应上位机系统1的上位机信号而工作的第1集成电路IC测试模块、对应在所述上位机系统1的上位机信号上追加扩展区域的上位机系统2的上位机信号而工作的第2集成电路IC测试模块。但是该测试装置及方法较为复杂,测量精度无法保证。
技术实现思路
本技术目的在于解决现有技术中存在的上述技术问题,提供一种多通道高精度且运行方便的电源管理IC测试系统。为了解决上述技术问题,本技术采用如下技术方案:包括电压测量件、电阻测量件、继电器矩阵单元、MCU、电源及计算机,所述电源与待测产品连接,所述继电器矩阵单元分别与所述电压测量件、电流测量件、电源、MCU连接,所述继电器矩阵单元用于建立各测量件与待测产品的电气连接并将测量件的多路输入转化为单路输出给计算机,所述MCU与所述继电器矩阵单元连接,并通过所述MCU自动化控制各单元协调动作。优选地,所述测试系统还包括串口通讯接口,所述串口通讯接口分别与所述继电器矩阵单元、MCU、待测产品、计算机电连接,方便控制程序的更新,并使得所述继电器矩阵单元与计算机实时通讯。优选地,所述电源还包括电压单元和电流单元,所述电压单元和电流单元分别与待测产品电连接。优选地,所述电压单元和所述电流单元分别为可调电压单元和可调电流单元,可为待测量产品提供可调电压及可调电流。本技术具有以下有益效果:通过继电器矩阵单元将被测产品与测试系统连接在一起,并通过MCU自动化控制各单元协调动作,可精确计算出电源管理IC充电过流保护响应时间及放电过流保护响应时间,从而实现同时检测多个电源管理IC的目的,有效提高了电源管理IC的测量精度,多通道的测量保证了测量的效率,避免测量多个电源管理IC时相互之间的干扰,MCU单元还通过串口通讯接口与计算机通讯,达到计算机可以在测试中灵活控制各继电器切换的目的。附图说明下面结合附图对本技术作优选的说明:图1为本技术系统结构示意图。图中标记为:1、电压测量件;2、电阻测量件;3、继电器矩阵单元;4、MCU;5、串口通讯接口;6、计算机;7、待测产品;8、电源。具体实施方式如图1所示,为本技术一种电源管理IC测试系统,包括电压测量件1、电阻测量件2、继电器矩阵单元3、MCU4、串口通讯接口5、待测产品7、电源8及计算机6,电源8与待测产品7连接,电源8为待测产品7提供电源,串口通讯接口5分别与MCU4、待测产品7、计算机6连接,继电器矩阵单元3用于建立各测量件与待测产品7的电气连接并将测量件的多路输入转化为单路输出给计算机6,MCU4与继电器矩阵单元3连接,并通过MCU4自动化控制各单元协调动作,电压测量件1测量电源管理IC保护电压值,电阻测量件2测量电源管理IC内部MOS管导通电阻,串口通讯接口5用于将测量值输出给计算机6,并传输计算机6控制命令,计算机6快速准确地计算出测量结果,MCU4协调各单元协调动作,并实时与计算机6通讯。MCU和串口通讯接口之间还可添加电气隔离,可以在不同电位和不同阻抗之间传输电信号,电气隔离可采用光耦隔离,MCU上可添加掉电检测单元,保证MCU正常工作,提高装置可靠性。电源8还包括可调电压单元和可调电流单元,可调电压单元和可调电流单元分别与待测产品电连接,可调电压单元为待测产品提供可程控的恒定电压,可调电流单元为待测产品提供可程控的恒定电流。本技术通过继电器矩阵单元分别与电压测量件、电流测量件、电源、MCU、串口通讯接口连接,并通过MCU与计算机实时通讯,自动化控制测试系统正常运行,从而实现同时检测多个电源管理IC的目的,有效提高了电源管理IC的测量精度,同时,使用单一的输入电源可提供多种独立的输出电压,多通道的测量保证了测量的效率,避免测量电源管理IC时相互之间的干扰,MCU还连接有串口通讯接口,方便了控制程序的更新,同时是与计算机连接,达到计算机可以在测试中灵活控制各继电器切换的目的。以上仅为本技术的具体实施例,但本技术的技术特征并不局限于此。任何以本技术为基础,为解决基本相同的技术问题,实现基本相同的技术效果,所作出的简单变化、等同替换或者修饰等,皆涵盖于本技术的保护范围之中。本文档来自技高网...
一种电源管理IC测试系统

【技术保护点】
一种电源管理IC测试系统,其特征在于:包括电压测量件、电阻测量件、继电器矩阵单元、MCU、电源及计算机,所述电源与待测产品连接,所述继电器矩阵单元分别与所述电压测量件、电流测量件、电源、MCU连接,所述继电器矩阵单元用于建立各测量件与待测产品的电气连接并将测量件的多路输入转化为单路输出给计算机,所述MCU与所述继电器矩阵单元连接,并通过所述MCU自动化控制各单元协调动作。

【技术特征摘要】
1.一种电源管理IC测试系统,其特征在于:包括电压测量件、电阻测量件、继电器矩阵单元、MCU、电源及计算机,所述电源与待测产品连接,所述继电器矩阵单元分别与所述电压测量件、电流测量件、电源、MCU连接,所述继电器矩阵单元用于建立各测量件与待测产品的电气连接并将测量件的多路输入转化为单路输出给计算机,所述MCU与所述继电器矩阵单元连接,并通过所述MCU自动化控制各单元协调动作。2.根据权利要求1所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员:许映山李训练唐承亮
申请(专利权)人:苏州市运泰利自动化设备有限公司
类型:新型
国别省市:江苏,32

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