The utility model discloses a power management IC testing system, which relates to the technical field of electronic device testing, including voltage measurement, resistance measurement, relay matrix unit, MCU, and computer power supply, the power supply and the products to be tested connected to the relay matrix unit is respectively connected with the voltage measurement, current measurement a power supply MCU, the relay matrix unit is used to establish the measurement and electrical products to be tested and connected with the conversion of input into a multi-channel measurement single output to the computer, the MCU and the relay matrix unit connection, and through the MCU automation control of each unit of coordinated action. The utility model through the relay matrix unit will be measured and product testing system are connected together, and each unit of coordinated action by MCU automatic control, can accurately calculate the power management IC charging and discharging the response time and response time of current protection current protection, so as to realize the simultaneous detection of a plurality of power management IC to improve the measurement accuracy of IC power management, multi channel measurement can ensure the measurement efficiency.
【技术实现步骤摘要】
一种电源管理IC测试系统
本技术涉及电子器件测试
,尤其涉及一种电源管理IC测试系统。
技术介绍
传统电源管理IC测试系统的测量值通常误差较大,且只适合测试精度要不高的电源管理IC,随着电子器件的飞速发展,为了提高测量效率,通常需要同时对多个电源管理IC进行测量,但是由于现有技术的局限性,容易造成测量数据的不准确,因此专利技术一种测量准确方便的电源管理IC测量系统显得尤为重要。专利集成电路IC测试装置及测试方法(申请公布号CN104977527A),公开了一种集成电路IC测试装置及测试方法,该集成电路IC测试装置包括测试被测试设备的集成电路IC测试模块、生成控制集成电路IC测试模块的上位机信号的测试控制模块、从测试控制模块接收上位机信号并发送到集成电路IC测试模块的传输接口;集成电路IC测试模块具有:对应上位机系统1的上位机信号而工作的第1集成电路IC测试模块、对应在所述上位机系统1的上位机信号上追加扩展区域的上位机系统2的上位机信号而工作的第2集成电路IC测试模块。但是该测试装置及方法较为复杂,测量精度无法保证。
技术实现思路
本技术目的在于解决现有技术中存在的上述技术问题,提供一种多通道高精度且运行方便的电源管理IC测试系统。为了解决上述技术问题,本技术采用如下技术方案:包括电压测量件、电阻测量件、继电器矩阵单元、MCU、电源及计算机,所述电源与待测产品连接,所述继电器矩阵单元分别与所述电压测量件、电流测量件、电源、MCU连接,所述继电器矩阵单元用于建立各测量件与待测产品的电气连接并将测量件的多路输入转化为单路输出给计算机,所述MCU与所述继电器矩阵单元 ...
【技术保护点】
一种电源管理IC测试系统,其特征在于:包括电压测量件、电阻测量件、继电器矩阵单元、MCU、电源及计算机,所述电源与待测产品连接,所述继电器矩阵单元分别与所述电压测量件、电流测量件、电源、MCU连接,所述继电器矩阵单元用于建立各测量件与待测产品的电气连接并将测量件的多路输入转化为单路输出给计算机,所述MCU与所述继电器矩阵单元连接,并通过所述MCU自动化控制各单元协调动作。
【技术特征摘要】
1.一种电源管理IC测试系统,其特征在于:包括电压测量件、电阻测量件、继电器矩阵单元、MCU、电源及计算机,所述电源与待测产品连接,所述继电器矩阵单元分别与所述电压测量件、电流测量件、电源、MCU连接,所述继电器矩阵单元用于建立各测量件与待测产品的电气连接并将测量件的多路输入转化为单路输出给计算机,所述MCU与所述继电器矩阵单元连接,并通过所述MCU自动化控制各单元协调动作。2.根据权利要求1所述的一...
【专利技术属性】
技术研发人员:许映山,李训练,唐承亮,
申请(专利权)人:苏州市运泰利自动化设备有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏,32
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