一种电子扫描式的尺寸测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术属于仪器领域，具体涉及一种电子扫描式的尺寸测量装置及方法。包括光信号发射阵列和板子，板子上等间距开设有N+1个信号发射孔，板子的正面设有N+1条相互平行的刻度线，每个信号发射孔对应一条刻度线；光信号发射阵列包括N+1个光信号发射原件，光信号发射原件设置在板子的背面，每个信号发射孔对应一个光信号发射元件且光信号发射元件发射的光信号从信号发射孔中射出，在板子正面的上方设置有能够接收所有光信号发射元件从光信号发射孔射出的光信号的光信号接收器；光信号发射阵列接入信号发射器电路，光信号接收器将接收到的光信号进行解码和处理并得到被测量物件的尺寸。本发明专利技术是对测量方式的补充和丰富，测量一致性好，方便快捷，效率高。

Electronic scanning type size measuring device and method

The invention belongs to the field of instruments, in particular to an electronic scanning type size measuring device and method. Including the optical signal transmitting array and the board, the board is provided with equal spacing N+1 signal transmitting hole board is provided with N+1 parallel lines, each corresponding to a signal transmitting hole line; optical signal transmitting array includes N+1 optical signal transmitting original components are arranged on the back side of each light emitting signal. The signal transmitting hole corresponding to a light emitting element signal and optical signal transmitting optical signal emitted from the signal emitting element emits a hole at the top of the front board, provided with a light signal receiver capable of receiving all the light emitted from the light emitting element signal signal transmitting aperture optical signal; optical signal transmitting array access signal transmitter circuit, light the signal receiver will receive optical signals decoding and processing and the measured object size. The invention is complementary and rich to the measuring mode, and has the advantages of good measurement consistency, convenient and fast and high efficiency.

【技术实现步骤摘要】
一种电子扫描式的尺寸测量装置及方法
本专利技术属于仪器领域，具体涉及一种电子扫描式的尺寸测量装置及方法。
技术介绍
生活中的常见的尺寸测量方法有以下几种：用尺子直接测量，人工读数；将被测物体固定，用可移动的扫描头，顺着被测物，进行移动扫描，从而自动测量出被测物的尺寸；用投影的方式进行测量；用光的发射-反射历经的时间，来测量长度尺寸等。本专利技术是对测量方式的一种补充和丰富，本专利技术是运用电子扫描方式测量，测量过程无需机械移动部件，测量读数无需人工参与，系统自动显示被测物体的尺寸读数。测量一致性好，并且测量过程方便快捷，效率高。
技术实现思路
为解决现有技术中存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种电子扫描式的尺寸测量装置及方法，通过该装置测量时，测量读数无需人工参与，系统自动显示被测物体的尺寸读数，测量结果排除了人为读数的影响，测量一致性好，并且测量过程方便快捷。一种电子扫描式的尺寸测量装置，包括光信号发射阵列和板子，板子上等间距开设有N+1个信号发射孔，板子的正面设有N+1条相互平行的刻度线，每个信号发射孔对应一条刻度线，刻度线依次由0至N编号；光信号发射阵列包括N+1个光信号发射原件，光信号发射原件设置在板子的背面，每个信号发射孔对应一个光信号发射元件且光信号发射元件发射的光信号从信号发射孔中射出，在板子正面的上方设置有能够接收所有光信号发射元件从光信号发射孔射出的光信号的光信号接收器；光信号发射阵列接入能够为每个光信号发射元件进行编码和控制所有光信号发射原件逐次发射光信号的信号发射器电路，光信号接收器能够将接收到的光信号进行解码和处理并得到被测量物件的尺寸。所述刻度线的间距不大于被测量物件尺寸公差带的一半。所述信号发射器电路包括：编码扫描电路，用于对光信号发射阵列中的每个光信号发射原件进行编码，并向光信号发射阵列发送扫描驱动信号；驱动电路，根据编码扫描电路发送的扫描驱动信号驱动光信号发射阵列发射光信号；电源电路，用于向编码扫描电路和驱动电路供电。所述光信号接收器包括信号接收器电路，信号接收器电路包括：光信号接收电路，用于接收光信号发射元件发出的光信号，并且将光信号转换成数字电信号；处理器，对光信号接收电路输出的数字电信号进行解码，并进行被测量物件的长度计算；电源电路，用于向光信号接收电路和处理器供电。所述处理器上连接有显示电路，显示电路上连接有显示器。一种电子扫描式的尺寸测量方法，包括如下步骤：步骤一，将被测量物件放在板子上，使被测量物件遮挡住信号发射孔；步骤二，信号发射电路为每个光信号发射元件进行编码并控制所有光信号发射原件逐次发射光信号；步骤三，光信号接收器逐个接收光信号发射元件发出的光信号，然后将接收到的光信号进行解码和处理并得到被测量物件的尺寸。所述步骤三中，每个没有被被测量物件遮挡的光信号都会被光信号接收器接收到，在一个扫描过程完毕之后，光信号接收器根据接收到的光信号组得到未接收到光信号的光信号发射元件的编码信息，并根据未接收到光信号的光信号发射元件的编码信息计算被测量物件被测部位的尺寸。所述步骤二中，信号发射电路为每个光信号发射元件进行编码的编码结构为：头标志+刻度编号+刻度代码+CRC16校验码，其中：头标志为每个完整编码的开始标志，是一个4字节的固定二进制数；刻度编号：为从0刻度到N刻度编号分别用0到N号自然数进行编码，每个刻度编号都对应一个光信号发射元件；刻度代码：用一个字节表示，底四位表示刻度单位，高四位表示刻度数值；CRC16校验码：为头标志+刻度编号+单位刻度代码中从第一个字节开始的所有的字节，按照顺序，做CRC16校验后得到的16位校验值。所述步骤三中，光信号接收器依次接收到光信号发射元件的光信号后，对每个光信号的编码进行验证，如果验证无误，则计算被测量物件的尺寸，计算过程如下：{(最小刻度×缺失段连续的光信号个数)+[最小刻度×(缺失段之后接收到的第一个刻度编号-缺失段之前接收到的最后一个刻度编号)]}÷2。所述光信号接收器对每个光信号的编码进行验证的过程如下：首先，验证编码的前四个字节是否是头标志，如果是，则从编码中第一个字节开始到倒数第3个字节做CRC16校验，如果校验值和编码中的最后两个字节相等，则说明该编码完整无误；如果数据包有任何错误，则光信号接收器发出错误提示。与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：本专利技术通过在板子上等间距开设有N+1个信号发射孔，在板子的正面设置N+1条相互平行的刻度线，每个信号发射孔对应一条刻度线，刻度线依次由0至N编号；光信号发射原件设置在板子的背面，每个信号发射孔对应一个光信号发射元件且光信号发射元件发射的光信号从信号发射孔中射出，在板子正面的上方设置有能够接收所有光信号发射元件从光信号发射孔射出的光信号的光信号接收器；光信号发射阵列接入能够为每个光信号发射元件进行编码和控制所有光信号发射原件逐次发射光信号的信号发射器电路，光信号接收器能够将接收到的光信号进行解码和处理并得到被测量物件的尺寸，在测量被测量物件时，将被测量物件放在板子上，使被测量物件遮挡住信号发射孔，再由信号发射电路为每个光信号发射元件进行编码并控制所有光信号发射原件逐次发射光信号，光信号接收器逐个接收光信号发射元件发出的光信号，然后将接收到的光信号进行解码和处理并得到被测量物件的尺寸，在计算被测量物件的尺寸时，由于被测量物件的遮挡，处于被测量物件下方的发射孔被堵住，从这些发射孔发射的光信号无法到达光信号接收器，光信号接收器就可以根据未被接收到的信号，结合相邻两个发射孔之间的距离，计算出被测量物件的尺寸。进一步的，本专利技术的刻度线的间距不大于被测量物件尺寸公差带的一半，因此在测量时能够保证被测量物件测量尺寸的精度。进一步的，通过设置显示器，能够使得测量结果及时显示，方便记录和观看。【附图说明】图1为本专利技术的测量装置的结构示意图；图2为本专利技术的测量装置测量被测量物件时的示意图；图3为本专利技术的板子上的刻度的局部示意图；图4为本专利技术的电路及功能框图。其中，1-板子，2-信号发射孔，3-光信号发射元件，3-1-光信号，4-光信号接收器，5-被测量物件，6-刻度线。【具体实施方式】下面结合附图来对本专利技术作进一步的说明。如图1至图4所示，本专利技术的电子扫描式的尺寸测量装置，包括光信号发射阵列和板子1，板子1上等间距开设有N+1个信号发射孔2，板子1的正面设有N条相互平行的刻度线6，每个信号发射孔2对应一条刻度线，刻度线依次由0至N编号，刻度线的间距X不大于被测量物件5尺寸公差带的一半；光信号发射阵列包括N+1个光信号发射原件3，光信号发射原件3设置在板子1的背面，每个信号发射孔2对应一个光信号发射元件3，且光信号发射元件3发射的光信号从信号发射孔2中射出，在板子1正面的上方设置有能够接收所有光信号发射元件3从光信号发射孔2射出的光信号的光信号接收器4；光信号发射阵列是接入能够为每个光信号发射元件3进行编码和控制所有光信号发射原件逐次发射光信号的信号发射器电路，光信号接收器4能够将接收到的光信号进行解码和计算并显示被测量物件5的尺寸；如图4所示，信号发射器电路包括：编码扫描电路，用于对光信号发射阵列中的每个光信号发射原件3进行编码，并向光信号发射阵列发送扫描驱动信号；驱动电路本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子扫描式的尺寸测量装置，其特征在于，包括光信号发射阵列和板子(1)，板子(1)上等间距开设有N+1个信号发射孔(2)，板子(1)的正面设有N+1条相互平行的刻度线(6)，每个信号发射孔(2)对应一条刻度线，刻度线依次由0至N编号；光信号发射阵列包括N+1个光信号发射原件(3)，光信号发射原件(3)设置在板子(1)的背面，每个信号发射孔(2)对应一个光信号发射元件(3)且光信号发射元件(3)发射的光信号从信号发射孔(2)中射出，在板子(1)正面的上方设置有能够接收所有光信号发射元件(3)从光信号发射孔(2)射出的光信号的光信号接收器(4)；光信号发射阵列接入能够为每个光信号发射元件(3)进行编码和控制所有光信号发射原件逐次发射光信号的信号发射器电路，光信号接收器(4)能够将接收到的光信号进行解码和处理并得到被测量物件(5)的尺寸。

【技术特征摘要】
1.一种电子扫描式的尺寸测量装置，其特征在于，包括光信号发射阵列和板子(1)，板子(1)上等间距开设有N+1个信号发射孔(2)，板子(1)的正面设有N+1条相互平行的刻度线(6)，每个信号发射孔(2)对应一条刻度线，刻度线依次由0至N编号；光信号发射阵列包括N+1个光信号发射原件(3)，光信号发射原件(3)设置在板子(1)的背面，每个信号发射孔(2)对应一个光信号发射元件(3)且光信号发射元件(3)发射的光信号从信号发射孔(2)中射出，在板子(1)正面的上方设置有能够接收所有光信号发射元件(3)从光信号发射孔(2)射出的光信号的光信号接收器(4)；光信号发射阵列接入能够为每个光信号发射元件(3)进行编码和控制所有光信号发射原件逐次发射光信号的信号发射器电路，光信号接收器(4)能够将接收到的光信号进行解码和处理并得到被测量物件(5)的尺寸。2.根据权利要求1所述的一种电子扫描式的尺寸测量装置，其特征在于，所述刻度线的间距不大于被测量物件(5)尺寸公差带的一半。3.根据权利要求1所述的一种电子扫描式的尺寸测量装置，其特征在于，所述信号发射器电路包括：编码扫描电路，用于对光信号发射阵列中的每个光信号发射原件(3)进行编码，并向光信号发射阵列发送扫描驱动信号；驱动电路，根据编码扫描电路发送的扫描驱动信号驱动光信号发射阵列发射光信号；电源电路，用于向编码扫描电路和驱动电路供电。4.根据权利要求1所述的一种电子扫描式的尺寸测量装置，其特征在于，所述光信号接收器(4)包括信号接收器电路，信号接收器电路包括：光信号接收电路，用于接收光信号发射元件(3)发出的光信号，并且将光信号转换成数字电信号；处理器，对光信号接收电路输出的数字电信号进行解码，并进行被测量物件的长度计算；电源电路，用于向光信号接收电路和处理器供电。5.根据权利要求4所述的一种电子扫描式的尺寸测量装置，其特征在于，所述处理器上连接有显示电路，显示电路上连接有显示器。6.一种基于权利要求1的测量装置的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，将被测量物件(5)放在板子(1)上，使被测量物件(5)遮挡住信号发射孔；步骤二，信号发射...

【专利技术属性】
技术研发人员：归一恒，梁志鹏，李怡，吴锦凤，肖志欣，
申请(专利权)人：西安岭川电子信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：陕西,61