The invention discloses a network design method of L type impedance matching: a two-dimensional impedance plane, and the starting point in the 2D impedance plane; the starting point according to the design of L type impedance matching network, and measuring the characteristic impedance of Z (n, n), and determine whether the starting point for matching points, if, according to the matching design of L type impedance matching network; otherwise, continue to increase; the starting point corresponds to the value of capacitance and inductance values, and measured the characteristic impedance value corresponding to the Z (m, m), when Z (m, m) than Z (n, n) closer to the center of the chart, execution continues otherwise, re select the corresponding increase; the capacitance and inductance value, when Z (m, m) is greater than the initial distance between Smith and the original center distance, matching the impedance plane point is located in the point of the previous point in the third quadrant; reduce the matching point range, obtains the final match Area, and design L type impedance matching network.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于射频电路设计领域,具体涉及一种L型阻抗匹配网络设计方法。
技术介绍
阻抗匹配是射频电路中一个非常重要的概念,只有当信号源所驱动电路的输入阻抗和信号源阻抗共轭时,该电路从信号源吸收的功率才能达到最大值,这时称信号源所驱动电路达到了输入阻抗匹配条件。为了满足阻抗匹配条件从而使传输功率达到最大,常常需要将某一阻抗(源阻抗)变换到另一特定的阻抗(负载阻抗),实现这一功能的电路就是阻抗匹配网络。目前有多种网络可以实现阻抗匹配功能,其中L型阻抗匹配网络是射频电路设计中最常用到的阻抗匹配网络,因其所用元器件最少,拓扑结构最简单,由两个无源元件(电容和电感)组成。为了避免繁琐的手工计算,工程上一般使用Smith圆图来设计阻抗匹配网络,但是设计人员须具备丰富的实践经验才能够操作。所以研究L型阻抗匹配网络设计方法具有重大的理论价值和现实意义。传统的阻抗匹配网络设计需要进行大量复杂的手工计算或者软件模拟仿真,而且得到的参数均为理想值,实际的电子元器件因为存在寄生参数,往往导致计算的理想值和实际值偏差非常大,后期仍然需要借助Smith圆图来精确设计。所以在实际操作中大部分设计人员会凭借经验直接用Smith圆图来设计阻抗匹配网络,通过实验的方法得到电子元器件的参数。所以无论设计人员是否计算仿真,最终都是用Smith圆图来设计阻抗匹配网络。具体设计时因人而异,根据设计人员的水平和习惯,设计方法千差万别,没有固定方法。水平高经验丰富的设计人员可能设计的快速一些,初级的设计人员往往设计的慢一些,甚至设计失败。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种L型阻抗匹配网 ...
【技术保护点】
一种L型阻抗匹配网络设计方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、建立二维阻抗平面坐标系,并在所述二维阻抗平面内选取起始点(n,n),其中,n>0;步骤二、根据所述起始点(n,n)设计L型阻抗匹配网络,并测量所述L型阻抗匹配网络的特征阻抗值Z(n,n);判断(n,n)是否为匹配点;若是,根据所述匹配点设计L型阻抗匹配网络;否则,继续执行步骤三;步骤三、增加步骤二中起始点对应的电容值和电感值,直至得出电容值和电感值所对应的点(m,m),点(m,m)满足以下条件:测量出点(m,m)对应的特征阻抗值Z(m,m),Z(m,m)与史密斯圆图中心点的距离小于Z(n,n)与史密斯圆图中心点的距离;其中,m>n>0;步骤四、增加步骤三中点(m,m)对应的电容值和电感值,直至得出电容值和电感值所对应的两个相邻点(m1,m1)、(m2,m2),点(m1,m1)、(m2,m2)满足以下条件:与所述史密斯原图中心点之间的距离小于步骤三中Z(m,m)与史密斯圆图中心点的距离,且与史密斯原图中心点之间的距离大于步骤三中Z(m,m)与史密斯圆图中心点的距离;则判断匹配点位于以(m1,m1)为坐标原点 ...
【技术特征摘要】
1.一种L型阻抗匹配网络设计方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、建立二维阻抗平面坐标系,并在所述二维阻抗平面内选取起始点(n,n),其中,n>0;步骤二、根据所述起始点(n,n)设计L型阻抗匹配网络,并测量所述L型阻抗匹配网络的特征阻抗值Z(n,n);判断(n,n)是否为匹配点;若是,根据所述匹配点设计L型阻抗匹配网络;否则,继续执行步骤三;步骤三、增加步骤二中起始点对应的电容值和电感值,直至得出电容值和电感值所对应的点(m,m),点(m,m)满足以下条件:测量出点(m,m)对应的特征阻抗值Z(m,m),Z(m,m)与史密斯圆图中心点的距离小于Z(n,n)与史密斯圆图中心点的距离;其中,m>n>0;步骤四、增加步骤三中点(m,m)对应的电容值和电感值,直至得出电容值和电感值所对应的两个相邻点(m1,m1)、(m2,m2),点(m1,m1)、(m2,m2)满足以下条件:与所述史密斯原图中心点之间的距离小于步骤三中Z(m,m)与史密斯圆图中心点的距离,且与史密斯原图中心点之间的距离大于步骤三中Z(m,m)与史密斯圆图中心点的距离;则判断匹配点位于以(m1,m1)为坐标原点的阻抗平面内第三象限且m2>m1>m>0,继续执行步骤五;步骤五、缩小步骤四中匹配点所处的范围,得出最终匹配区域,则最终匹配区域内的任一点均为匹配点,并根据匹配点对应的电容值和电感值设计L型阻抗匹配网络。2.如权利要求1所述的L型阻抗匹配网络设计方法,其特征在于,所述步骤一的具体方法为:建立二维阻抗平面坐标系,横轴为电感轴,纵轴为电容轴,在所述二维阻抗平面内选择起始点(n,n)其中,所述起始点(n,n)表示在L型阻抗...
【专利技术属性】
技术研发人员:申向顺,周文益,
申请(专利权)人:西安航天华迅科技有限公司,
类型:发明
国别省市:陕西;61
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