The invention discloses a method of pulse acoustic material properties measuring device, measuring system and method, measuring device comprises a two-dimensional waveguide structure, arranged on the planar waveguide structure of the sound source, mounted on the two-dimensional waveguide structure of the first and two microphone microphone, and two dimensional waveguide structure in contact with air filled with sound absorption materials. The sample is installed on the two-dimensional waveguide structure which is positioned between the first and second microphone microphone, and the clamping device are fixed. The width and absorption material test samples of different sizes through the clamping device of the invention in the thickness adjustment; pulse method in the measurement of common materials can be measured quickly; because of the measurement in the time domain, can effectively avoid the influence on the error transfer function of the loudspeaker in the traditional method and at the end of the multiple reflection by hard reference; the wall and the air contrast measurement, and can overcome the center distance of microphone two error caused by the inaccurate problem of phase matching method in the previous multi microphone.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及材料测试
,特别是涉及一种脉冲法声学材料性质测量装置、测量系统及测量方法。
技术介绍
传统声学材料性质测量一般采用阻抗管测量,利用“三传声器法”,由样品表面反射,入射波与反射波形成驻波,用两只传声器把入射波和反射波分离,末端放置理论上没有反射的劈尖消声端,利用第三支传声器进行采集透射波,测量精度与末端吸收直接相关;而改良的“四传声器法”通过更换不同消声端,在一定程度上可以减弱消声端影响。然而传统阻抗管测量方法只考虑了样品的单次反射,一般针对吸声材料测量,在样品无吸收或者吸收很小的情况下不适用,且样品的尺寸受限于阻抗管的尺寸,无法对声子晶体等尺寸无法任意更改的样品进行测量。因此,针对上述技术问题,有必要提供一种脉冲法声学材料性质测量装置、测量系统及测量方法。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的在于提供一种脉冲法声学材料性质测量装置、测量系统及测量方法。为了实现上述目的,本专利技术实施例提供的技术方案如下:一种脉冲法声学材料性质测量装置,所述测量装置包括二维波导结构、安装于二维波导结构中的声源、安装于二维波导结构上的第一传声器及第二传声器、以及二维波导结构与空气接触部分填充的吸声材料,待测样品安装于二维波导结构中且位于第一传声器与第二传声器之间,并通过夹持装置进行固定。作为本专利技术的进一步改进,所述二维波导结构由上下排列的第一有机玻璃板与第二有机玻璃板形成,所述第一有机玻璃板与第二有机玻璃板的厚度大于或等于5mm。作为本专利技术的进一步改进,所述声源为等间距排列形成的扬声器阵列。作为本专利技术的进一步改进,所述第一有机玻璃板上沿纵长方 ...
【技术保护点】
一种脉冲法声学材料性质测量装置,其特征在于,所述测量装置包括二维波导结构、安装于二维波导结构中的声源、安装于二维波导结构上的第一传声器及第二传声器、以及二维波导结构与空气接触部分填充的吸声材料,待测样品安装于二维波导结构中且位于第一传声器与第二传声器之间,并通过夹持装置进行固定。
【技术特征摘要】
1.一种脉冲法声学材料性质测量装置,其特征在于,所述测量装置包括二维波导结构、安装于二维波导结构中的声源、安装于二维波导结构上的第一传声器及第二传声器、以及二维波导结构与空气接触部分填充的吸声材料,待测样品安装于二维波导结构中且位于第一传声器与第二传声器之间,并通过夹持装置进行固定。2.根据权利要求1所述的脉冲法声学材料性质测量装置,其特征在于,所述二维波导结构由上下排列的第一有机玻璃板与第二有机玻璃板形成,所述第一有机玻璃板与第二有机玻璃板的厚度大于或等于5mm。3.根据权利要求1所述的脉冲法声学材料性质测量装置,其特征在于,所述声源为等间距排列形成的扬声器阵列。4.根据权利要求2所述的脉冲法声学材料性质测量装置,其特征在于,所述第一有机玻璃板上沿纵长方向的中心轴线形成有第一通孔和第二通孔,所述第一传声器与第二传声器分别安装于第一通孔与第二通孔内。5.根据权利要求4所述的脉冲法声学材料性质测量装置,其特征在于,所述第一通孔中心距离声源和待测样品大于或等于30cm,以保证入射脉冲和反射脉冲分离。6.根据权利要求1所述的脉冲法声学材料性质测量装置,其特征在于,所述待测样品的宽度与夹持装置的宽度相等,待测样品的高度与吸声材料的高度相等,夹持装置的宽度及吸声材料的高度根据待测样品的宽度和高度进行设置。7.根据权利要求4所述的脉冲法声学材料性质测量装置,其特征在于,所述第二通孔位于待测样品后方,第二通孔中心距离末端吸声吸声材料大于或等于30cm,以分离透射波及末端的反射波。8.一种脉冲法声学材料性质测量系统,其特征在于,所述测量系统包括信号发生器及功率放大...
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