用于测量元素含量的设备制造技术

本实用新型专利技术提出了一种用于测量元素含量的设备，该设备包括：第一探头，所述第一探头设置有原级X射线发生装置；第二探头，所述第二探头设置有特征X射线检测装置；屏蔽-准直装置，所述屏蔽-准直装置分别与所述第一探头、所述第二探头相连；以及分析装置，所述分析装置与所述第二探头相连。该设备采用可调节的插入式探头，探头可直接插入待测物体中，实现对待测物体，尤其对土壤等松散介质中不同位置/深度处的Ca、K、Au、U、Am等微量元素的浓度进行有效测量和分析。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量领域，具体的，本技术涉及用于测量元素含量的设备，更具体的，本技术涉及测量松散介质中不同位置/深度处元素含量的设备。
技术介绍
X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。在物质成分分析工作中，尤其是当分析工作所关注的元素在介质中分布不均匀时，不仅需要掌握介质表面/表层中关注元素的种类及浓度，通常还需要知道介质内部关注元素的种类和浓度。对于现有的X射线荧光分析仪器，无论是台式，还是便携式分析仪，在对介质内部/表面下介质中关注元素的浓度进行分析时，均需要采集样品。当待分析样品体积较大或数量较多时，工作量大且耗时长。因此，X射线荧光分析仪器仍有待进一步改进。
技术实现思路
本技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本技术提出了一种可以插入松散介质中，实现对土壤、砂土、矿砂等>松散介质中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量元素含量的设备，其特征在于，包括：第一探头，所述第一探头设置有原级X射线发生装置；第二探头，所述第二探头设置有特征X射线检测装置；屏蔽‑准直装置，所述屏蔽‑准直装置分别与所述第一探头、所述第二探头相连；以及分析装置，所述分析装置与所述第二探头相连。

【技术特征摘要】
1.一种用于测量元素含量的设备，其特征在于，包括：
第一探头，所述第一探头设置有原级X射线发生装置；
第二探头，所述第二探头设置有特征X射线检测装置；
屏蔽-准直装置，所述屏蔽-准直装置分别与所述第一探头、所述第二探头
相连；以及
分析装置，所述分析装置与所述第二探头相连。
2.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，所述
第一探头和所述第二探头被设置为适于插入疏松介质中。
3.根据权利要求2所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，所述
疏松介质为土壤。
4.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于，所述
原级X射线发生装置为X射线放射源、X射线发生器的至少之一。
5.根据权利要求1所述的用于测量元素含量的设备，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：程建平，曾志，马豪，李君利，苏川英，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：新型
国别省市：北京;11