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本实用新型提出了一种用于测量元素含量的设备，该设备包括：第一探头，所述第一探头设置有原级X射线发生装置；第二探头，所述第二探头设置有特征X射线检测装置；屏蔽-准直装置，所述屏蔽-准直装置分别与所述第一探头、所述第二探头相连；以及分析装置，所...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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