一体定位式荧光测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一体定位式荧光测试仪，包括安装板、测试卡承载盘、拨卡装置、进卡装置、读卡检测装置和取卡装置，其中拨卡装置叠置于测试卡承载盘上并可在测试卡承载盘上转动，所述拨卡装置上沿圆周均匀设置有多个测试卡固定件，测试卡固定件沿径向延伸至测试卡承载盘的外圆周，每个测试卡固定件上包括用于放置测试卡的凹槽，凹槽的宽度与测试卡的宽度相匹配；所述进卡装置沿径向输送测试卡至所述凹槽，所述读卡检测装置可沿所述拨卡装置径向移动以检测凹槽内的测试卡的荧光强度，所述取卡装置沿径向将经检测后的测试卡从凹槽内取出。本实用新型专利技术能防止测试卡在读卡检测装置工作期间发生横向位置偏移，提高测试仪的准确度和可靠性。

Integrated positioning type fluorescent tester

The utility model discloses a positioning type fluorescent test instrument, which comprises an installation plate, bearing plate, dial test card card device, card device, card detection device and card device, wherein the dial card device superimposed on the test card bearing disc and bearing disc rotation on the card in the test, the dial card device along the circumference is provided with a fixing piece of a plurality of test card, test card fixing parts along the radial direction extends to the outer circumference of the clamping disc bearing test, each test card holder for placing test card groove width and groove matching test card; the card into the device along the radial transmission test card to the groove, the card detection device along the dial fluorescence intensity card device to detect the radial movement in the groove of the test card, the card device along its radial direction after the detection of the test card is removed from the groove. The utility model can prevent the transverse position of the test card from occurring during the operation of the card reading device, so as to improve the accuracy and reliability of the tester.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及医疗检测仪器领域，具体涉及一体定位式荧光测试仪。
技术介绍
相关技术中的转盘式荧光测试仪，为方便在卡槽中取放测试卡，其用于承载测试卡的卡槽的宽度一般略大于测试卡的宽度。由于测试卡和所述卡槽之间存在较大的间隙，测试卡在随荧光测试仪的转盘转动的过程中会发生偏移，而用于读取、检测测试卡的读卡检测装置与所述卡槽之间的位置关系是固定的，因此所述测试卡的横向位置偏移会影响读卡检测装置对测试卡的读取和检测，无法确保每次均是沿测试卡的中轴线进行读取和检测，从而降低了荧光测试仪的测试准确度。
技术实现思路
针对上述问题，本技术要解决问题是提供一种可防止测试卡发生横向位置偏移的一体定位式荧光测试仪。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：一体定位式荧光测试仪，包括安装板、测试卡承载盘、拨卡装置、进卡装置、读卡检测装置和取卡装置，安装板固定设置，进卡装置、读卡检测装置和取卡装置安装于所述安装板上，测试卡承载盘水平固设于安装板的上方，拨卡装置叠置于所述测试卡承载盘上并可在测试卡承载盘上转动。所述拨卡装置上沿圆周均匀设置有多个测试卡固定件，所述测试卡固定件沿径向延伸至测试卡承载盘的外圆周，每个测试卡固定件上包括开口向上的用于放置测试卡的凹槽，所述凹槽的宽度与测试卡的宽度相匹配；所述进卡装置沿径向输送测试卡至所述凹槽，所述读卡检测装置可沿所述拨卡装置径向移动以检测所述凹槽内的测试卡的荧光强度，所述取卡装置沿径向将经过检测后的测试卡从所述凹槽内取出。进一步地，所述测试卡固定件的两侧和一端均设有定位块，所述定位块的中心设有用于将测试卡固定件安装到所述拨卡装置上的定位孔，所述测试卡固定件的另一端沿径向延伸至测试卡承载盘的外圆周。其中，所述进卡装置包括进卡承载盘、进卡导轨和下方开槽的进卡盒，所述进卡导轨位于所述进卡承载盘的下方并沿所述拨卡装置径向设置，所述进卡承载盘上均匀设置有用于安装所述进卡盒的引导槽，所述引导槽沿所述进卡导轨径向设置。其中，所述读卡检测装置位于所述拨卡装置的上方，其包括互相平行的螺纹丝杆和导轨支架，螺纹丝杆和导轨支架沿拨卡装置的径向水平固定于所述安装板，所述螺纹丝杆装有用于检测所述凹槽内的测试卡的测量光路盒。进一步地，所述一体定位式荧光测试仪还包括位于所述测试卡承载盘下方的顶卡装置，所述进卡导轨沿所述拨卡装置的轴心径向移动所述进卡盒底部的测试卡时，所述顶卡装置向上凸起穿过所述测试卡承载盘和拨卡装置，伸入所述凹槽的末端，并伸入所述进卡盒的下方开设的槽中，推动所述进卡盒底部的测试卡至所述凹槽中。进一步地，所述取卡装置位于所述拨卡装置的上方，其包括由皮带轮驱动而沿所述拨卡装置径向移动的取卡器。优选地，所述测试卡承载盘和拨卡装置均为圆盘状，所述测试卡承载盘的直径大于所述拨卡装置的直径。本技术有益效果在于：1、通过设置测试卡承载盘和拨卡装置，测试卡承载盘水平固定于安装板上，拨卡装置叠置于测试卡承载盘上，由于设置的拨卡装置相对较薄且轻，其转动惯性小，能大幅度降低耗能，并提高转速。2、通过在拨卡装置上沿圆周均匀设置多个测试卡固定件，其中测试卡固定件包括用于放置测试卡的开口向上的凹槽，凹槽的宽度与测试卡的宽度相匹配，防止了测试卡发生横向位置偏移，从而确保了读卡检测装置沿测试卡的中轴线进行读取和检测，从而提高荧光测试仪的测试准确度。附图说明图1是本技术的结构示意图。图2是本技术的结构爆炸图。图3是本技术测试卡位于测试卡固定件时的示意图。其中，安装板1、测试卡承载盘2、拨卡装置3、进卡装置4、读卡检测装置5、取卡装置6、顶卡装置7、测试卡8、测试卡固定件9、进卡导轨40、进卡盒41、进卡承载盘42、引导槽421、螺纹丝杆50、导轨支架51、取卡器60、皮带轮61、凹槽90、定位件91、定位孔911。具体实施方式结合附图，对本技术结构作进一步说明。参见图1至图3，本技术的一体定位式荧光测试仪，包括安装板1、测试卡承载盘2、拨卡装置3、进卡装置4、读卡检测装置5和取卡装置6，安装板1固定设置，进卡装置4、读卡检测装置5和取卡装置6安装于所述安装板1上，测试卡承载盘2水平固设于安装板1的下方，拨卡装置3叠置于所述测试卡8承载盘2上并可在测试卡承载盘2上转动。所述拨卡装置3上沿圆周均匀设置有多个测试卡固定件9，所述测试卡固定件9沿径向延伸至测试卡承载盘2的外圆周，每个测试卡固定件9上包括用于放置测试卡8的开口向上的凹槽90，所述凹槽90的宽度与测试卡8的宽度相匹配；所述进卡装置4沿径向输送测试卡8至所述凹槽90，所述读卡检测装置5可沿所述拨卡装置3径向移动以检测所述凹槽90内的测试卡8的荧光强度，所述取卡装置6沿径向将经过检测后的测试卡8从所述凹槽90内取出。进一步地，所述测试卡固定件9的两侧和一端均设有定位块91，所述定位块91的中心设有用于将测试卡固定件9安装到所述拨卡装置3上的定位孔911，所述测试卡固定件9的另一端沿径向延伸至测试卡承载盘2的外圆周。其中，所述进卡装置4包括进卡承载盘42、进卡导轨40和下方开槽的进卡盒41，所述进卡导轨40位于所述进卡承载盘42的下方并沿所述拨卡装置3径向设置，所述进卡承载盘42上均匀设置有用于安装所述进卡盒41的引导槽421，所述引导槽421沿所述进卡导轨40径向设置。其中，所述读卡检测装置5位于所述拨卡装置3的上方，其包括互相平行的螺纹丝杆50和导轨支架51，螺纹丝杆50和导轨支架51沿拨卡装置3的径向水平固定于所述安装板1，所述套螺纹丝杆50装有所述套螺纹丝杆装有用于检测所述凹槽90内的测试卡8的测量光路盒。进一步地，所述一体定位式荧光测试仪还包括位于所述测试卡承载盘2下方的顶卡装置7，所述进卡导轨40沿所述拨卡装置3的轴心径向移动所述进卡盒41底部的测试卡8时，所述顶卡装置7向上凸起穿过所述测试卡承载盘2和拨卡装置3，伸入所述凹槽90的末端，并伸入所述进卡盒41的下方开设的槽中，推动所述进卡盒41底部的测试卡8至所述凹槽90中。进一步地，所述取卡装置6位于所述拨卡装置3的上方，其包括由皮带轮61驱动而沿所述拨卡装置3径向移动的取卡器60。优选地，所述测试卡承载盘2和拨卡装置3均为圆盘状，所述测试卡承载盘2的直径大于所述拨卡装置3的直径。最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本专利技术创造的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本专利技术创造进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本专利技术创造各实施例技术方案的精神和范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一体定位式荧光测试仪，包括安装板、测试卡承载盘、拨卡装置、进卡装置、读卡检测装置和取卡装置，安装板固定设置，进卡装置、读卡检测装置和取卡装置安装于所述安装板上，测试卡承载盘水平固设于安装板的上方，其特征是：所述拨卡装置上沿圆周均匀设置有多个测试卡固定件，所述测试卡固定件沿径向延伸至测试卡承载盘的外圆周，每个测试卡固定件上包括开口向上的凹槽，所述凹槽的宽度与测试卡的宽度相匹配；所述进卡装置沿径向输送测试卡至所述凹槽，所述读卡检测装置可沿所述拨卡装置径向移动以检测所述凹槽内的测试卡的荧光强度，所述取卡装置沿径向将经过检测后的测试卡从所述凹槽内取出。

【技术特征摘要】
2015.11.23 CN 201520945136X1.一体定位式荧光测试仪，包括安装板、测试卡承载盘、拨卡装置、进卡装置、读卡检测装置和取卡装置，安装板固定设置，进卡装置、读卡检测装置和取卡装置安装于所述安装板上，测试卡承载盘水平固设于安装板的上方，其特征是：所述拨卡装置上沿圆周均匀设置有多个测试卡固定件，所述测试卡固定件沿径向延伸至测试卡承载盘的外圆周，每个测试卡固定件上包括开口向上的凹槽，所述凹槽的宽度与测试卡的宽度相匹配；所述进卡装置沿径向输送测试卡至所述凹槽，所述读卡检测装置可沿所述拨卡装置径向移动以检测所述凹槽内的测试卡的荧光强度，所述取卡装置沿径向将经过检测后的测试卡从所述凹槽内取出。2.根据权利要求1所述的一体定位式荧光测试仪，其特征是：所述测试卡固定件的两侧和一端均设有定位块，所述定位块的中心设有用于将测试卡固定件安装到所述拨卡装置上的定位孔，所述测试卡固定件的另一端沿径向延伸至测试卡承载盘的外圆周。3.根据权利要求1所述的一体定位式荧光测试仪，其特征是：所述进卡装置包括进卡承载盘、进卡导轨和下方开槽的进...

【专利技术属性】
技术研发人员：王治才，李军民，
申请(专利权)人：王治才，
类型：新型
国别省市：广东;44