用于补偿电子设备中的工艺变化的装置和方法制造方法及图纸

提供了用于补偿工艺变化的电子设备。该电子设备包括第一电路和第二电路，第一电路被配置为消耗供应给第一电路的电流，第二电路被配置为控制供应给第一电路的电流。第二电路被配置为：基于使用与第一电路的第一元件的种类相同的种类的第二元件生成的脉冲信号的频率，来生成用于控制供应给所述电路的电流的信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开涉及根据电子设备中的工艺变化(processvariation)的对电路元件(circuitcomponent)的特性差异补偿。
技术介绍
电子设备包括许多电路。特别地，通信电子设备可以包括用于控制射频(RF)的电路，并且该电路主要包括用于生成信号的频率合成器。在频率合成器中，用于生成具有期望的频率的信号的部件被称为压控振荡器(VCO)，并且VCO是消耗相对大量电流的电路之一。当半导体电路被制造时，由于在晶圆上的位置，可能发生工艺变化。在互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺中，晶体管相对容易遭受大的工艺变化。例如，基于工艺变化，晶体管在慢-慢(Slow-Slow，SS)角中工作缓慢，在快-块(Fast-Fast，FF)角中工作快速，并且在典型-典型(Typical-Typical，TT)角中正常工作。被设计为即使在工艺变化中仍然稳定工作的诸如VCO的电路被典型地基于最差工艺条件(也就是说，基于其中晶体管最缓慢地工作的工艺特性)来设计。结果，具有相对不同工作速度的设备消耗比必要的更多的电流。以上信息作为背景信息呈现仅仅是为了帮助对本公开的理解。对于上述任何内容是否可用作关于本公开的现有技术，没有做出任何确定，也没有做出断言。
技术实现思路
技术问题本公开的各种方面解决至少上述问题和/或缺点，并且提供至少下述优点。因此，本公开的一方面提供用于补偿电子设备中的工艺变化的装置和方法。因此，本公开的另一方面提供用于在电子设备中防止由于工艺变化而供应的过电流的装置和方法。本公开的又一方面提供用于在电子设备中根据工艺变化监视设备特性的装置和方法。本公开的又一方面提供用于通过根据电子设备中的工艺变化而增大或减小电流来最优化功率消耗的装置和方法。本公开的又一方面提供用于通过在根据电子设备中的工艺变化而变化的电路的输出信号的恒定电平处增大或减小电流，来最小化电流偏差的装置和方法。本公开的又一方面提供用于最小化电流消耗以便监视和补偿电子设备中的工艺变化的装置和方法。根据本公开的一方面，提供了一种电子设备。该电子设备包括第一电路和第二电路，第一电路被配置为消耗供应给第一电路的电流，第二电路被配置为控制供应给第一电路的电流。这里，第二电路被配置为：基于使用与第一电路的第一元件的种类相同的种类的第二元件生成的脉冲信号的频率，来生成用于控制所述电流的信号。根据本公开的另一方面，提供了用于操作电子设备的方法。该方法包括：使用与电路的第一元件的种类相同的种类的第二元件来生成脉冲信号，所述电路消耗供应给所述电路的电流，以及基于所述脉冲信号的频率生成用于控制供应给所述电路的电流的信号。从下面结合附图来披露本公开的各种实施例的详细描述中，本公开的其它方面、优点、和显著特征将对本领域技术人员而言变得清楚。附图说明从以下结合附图的描述，本专利技术的一定实施例的以上及其它方面、特征、和优点将更加清楚，其中：图1示出根据本公开的实施例的电子设备；图2示出根据本公开的实施例的电子设备中的工艺变化监视电路；图3示出根据本公开的实施例的电子设备中的工艺变化监视电路的操作；图4示出根据本公开的实施例的压控振荡器(VCO)的电路；图5示出根据本公开的实施例的VCO的信号发生电路的电路；图6示出根据本公开的实施例的VCO的电流源的电路；图7示出根据本公开的实施例的VCO的另一电路；图8示出根据本公开的实施例的VCO的电流源的另一电路；图9示出根据本公开的实施例的VCO的又一电路；图10示出根据本公开的实施例的电子设备的操作；以及图11示出根据本公开的另一实施例的电子设备的操作。贯穿附图，相似的参考标号将被理解为指代相似的部分、组件、和结构。具体实施方式以下参考附图的描述被提供来帮助全面地理解如权利要求及其等同物所定义的本公开的各种实施例。其包括各种具体细节以帮助该理解，但是这些具体细节将被认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员将认识到，可以对这里描述的各种实施例进行各种改变和修改，而不脱离本公开的范围和精神。此外，为了清楚和简洁，对熟知的功能和结构的描述可以被省略。在下面的描述和权利要求中使用的术语和词语不限于文献学含义，而仅仅是被专利技术人用来使得对本公开的理解清楚和一致。因此，本领域技术人员应该清楚，以下对本公开的各种实施例的描述仅仅是为了例示的目的而提供，而不是为了限制如所附权利要求及其等同物所定义的本公开的目的而提供。将理解，单数形式的“一”、“该”包括复数的指示物，除非上下文清楚地另外规定。因此，例如，对“组件表面”的引用包括对这样的表面中的一个或多个的引用。通过术语“基本上”，其意味着：所叙述的特性、参数、或者值不必精确地实现，相反，包括例如容差、测量误差、测量精度限制和本领域技术人员所熟知的其它因素的偏差或者变化可以以不妨碍所述特性意图提供的效果的量来发生。本公开的各种实施例提供了用于补偿电子设备中的工艺变化的技术。在下文中，工艺变化指示根据半导体制造中的物理/环境因素而发生的元件的性能方面的变化。例如，工艺变化可以包括缓慢工作速度的慢-慢(SS)角、快速工作速度的快-快(FF)角、以及典型工作速度的典型-典型(TT)角，并且还可以包括那些三个角之外的其它情况。为了容易理解，包括第一工艺特性、第二工艺特性、和第三工艺特性的三个工艺特性被示出。在下文中，第一工艺特性对应于快速工作速度和FF角，第二工艺特性对应于典型工作速度和TT角，而第三工艺特性对应于缓慢工作速度和SS角。图1是根据本公开的实施例的电子设备的框图。参考图1，电子设备包括相位频率检测器110、电荷泵120、环路滤波器130、压控振荡器(VCO)140、N划分器(N-divider)150、和监视器160。相位频率检测器110接收参考时钟以及来自N划分器150的反馈信号Fdiv，并且确定参考时钟和所述反馈信号的频率差和相位差。相位频率检测器110基于所述参考时钟和Fdiv信号来输出升信号(up-signal)UP和降信号(down-signal)DN之一。也就是说，相位频率检测器110将参考时钟和接收到的反馈信号的相位进行比较，并且根据所述比较来输出升信号或者降信号。更详细地，当参考时钟的相位比反馈信号的相位更快时，相位频率检测器110输出升信号，而当参考时钟的相位比反馈信号的相位更慢时，相位频率本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子设备，包括：第一电路，被配置为消耗供应给第一电路的电流；以及第二电路，被配置为控制供应给第一电路的电流，其中，第二电路被配置为：基于使用与第一电路的第一元件的种类相同的种类的第二元件生成的脉冲信号的频率，来生成用于控制供应给第一电路的电流的信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.11.12 KR 10-2013-01370171.一种电子设备，包括：
第一电路，被配置为消耗供应给第一电路的电流；以及
第二电路，被配置为控制供应给第一电路的电流，
其中，第二电路被配置为：基于使用与第一电路的第一元件的种类相同
的种类的第二元件生成的脉冲信号的频率，来生成用于控制供应给第一电路
的电流的信号。
2.如权利要求1所述的电子设备，还包括环形压控振荡器(VCO)，其
被配置为生成所述脉冲信号。
3.如权利要求1所述的电子设备，其中，第二电路被配置为基于所述频
率确定第一电路的第一元件的工艺特性，以及生成与所述工艺特性相对应的
信号。
4.如权利要求1所述的电子设备，其中，第二电路被配置为确定信号值，
然后被关断。
5.如权利要求1所述的电子设备，其中，第二电路被配置为在电子设备
初始操作时进行操作。
6.一种用于操作电子设备的方法，该方法包括：
使用与电路的第一元件的种类相同的种类的第二元件来生成脉冲信号，
所述电路消耗供应给所述电路的电流；以及
基于所述脉冲信号的频率生成用于控制供应给所述电路的电流的信号。
7.如权利要求6所述的方法，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：李准熙，崔钟元，韩相昱，李诚俊，李永宅，夫荣健，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR