用于烹饪器具的防溢检测装置和烹饪器具制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于烹饪器具的防溢检测装置和烹饪器具，所述用于烹饪器具的防溢检测装置包括：导电柱，所述导电柱为柱状，所述导电柱的一个端面朝下设置；绝缘体，所述绝缘体至少包覆所述导电柱的侧表面和/或下表面，所述绝缘体的侧表面和/下表面构成检测面，所述导电柱的电容值随所述检测面接触介质的变化而变化；电容检测芯片，所述电容检测芯片与所述导电柱相连，所述电容检测芯片通过检测所述导电柱的电容值变化量以生成检测信号。根据本实用新型专利技术实施例的用于烹饪器具的防溢检测装置具有成本低、误判断几率低等优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电器制造
，具体而言，涉及一种用于烹饪器具的防溢检测装置和具有所述用于烹饪器具的防溢检测装置的烹饪器具。
技术介绍
诸如电饭煲等烹饪器具，为了实现防溢出功能通常设有防溢检测装置。相关技术中应用于烹饪器具的防溢检测装置，通过检测水的电阻特性来实现溢出信号的检测，需要设置至少两根探针，成本较高，且误判断几率高。
技术实现思路
本技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的上述技术问题之一。为此，本技术提出一种用于烹饪器具的防溢检测装置，该用于烹饪器具的防溢检测装置具有成本低、误判断几率低等优点。本技术还提出一种具有所述用于烹饪器具的防溢检测装置的烹饪器具。为实现上述目的，根据本技术的第一方面的实施例提出一种用于烹饪器具的防溢检测装置，所述用于烹饪器具的防溢检测装置包括：导电柱，所述导电柱为柱状，所述导电柱的一个端面朝下设置；绝缘体，所述绝缘体至少包覆所述导电柱的侧表面和/或下表面，所述绝缘体的侧表面和/下表面构成检测面，所述导电柱的电容值随所述检测面接触介质的变化而变化；电容检测芯片，所述电容检测芯片与所述导电柱相连，所述电容检测芯片通过检测所述导电柱的电容值变化量以生成检测信号。根据本技术实施例的用于烹饪器具的防溢检测装置具有成本低、误判断几率低等优点。另外，根据本技术的用于烹饪器具的防溢检测装置还可以具有如下附加的技术特征：根据本技术的一个实施例，所述导电柱竖直设置。根据本技术的一个实施例，所述导电柱为具有沿所述导电柱的轴向贯穿所述导电柱的中心通孔的中空柱体，所述绝缘体包覆所述导电柱的侧表面和下表面且所述绝缘体的侧表面构成所述检测面。根据本技术的一个实施例，所述导电柱的横截面为圆环形。根据本技术的一个实施例，所述导电柱为实心柱体，所述绝缘体包覆所述导电柱的侧表面和下表面且所述绝缘体的侧表面和下表面构成所述检测面。根据本技术的一个实施例，所述导电柱的横截面为圆形。根据本技术的一个实施例，所述绝缘体限定有上表面敞开的容纳腔，所述导电柱设在所述容纳腔内。根据本技术的一个实施例，所述容纳腔的高度等于所述导电柱的高度。根据本技术的一个实施例，所述容纳腔的侧壁由下至上向外倾斜。根据本技术的一个实施例，所述防溢检测装置还包括：主控芯片，所述主控芯片与所述电容检测芯片进行通信以接收所述检测信号，并根据所述检测信号判断是否发生溢出现象。根据本技术的一个实施例，所述电容检测芯片与所述导电柱之间连接有电阻。根据本技术的一个实施例，所述绝缘体的厚度为1-10mm。根据本技术的一个实施例，所述导电柱的外表面的总面积为70-1250平方毫米。根据本技术的第二方面的实施例提出一种烹饪器具，所述烹饪器具包括根据本技术的第一方面的实施例所述的用于烹饪器具的防溢检测装置。根据本技术实施例的烹饪器具，通过利用根据本技术的第一方面的实施例所述的用于烹饪器具的防溢检测装置，具有防溢检测的成本低、误判断几率小等优点。根据本技术的一个实施例，所述烹饪器具为电饭煲或电压力锅。附图说明图1是根据本技术实施例的烹饪器具的结构示意图。图2是根据本技术另一个实施例的烹饪器具的结构示意图。图3是根据本技术另一个实施例的烹饪器具的结构示意图附图标记：用于烹饪器具的防溢检测装置10、导电柱100、绝缘体200、检测面210、中心通孔220、电容检测芯片300、主控芯片400、电阻500。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。下面参考附图描述根据本技术实施例的用于烹饪器具的防溢检测装置10，用于烹饪器具的防溢检测装置10为电容式检测装置。本领域的技术人员可以理解地是，电容式检测装置是指，依据电容感应原理，当被测介质浸汲检测装置时，引起其电容变化，这种变化被转换成标准电流信号，进而实现防溢相关控制。具体而言，如图1-图3所示，根据本技术实施例的用于烹饪器具的防溢检测装置10包括导电柱100和绝缘体200。导电柱100为柱状，导电柱100的一个端面朝下。绝缘体200至少包覆导电柱100的侧表面和/或下表面，即绝缘体200至少包覆导电柱100的外周面和/或一个端面，绝缘体200的侧表面和/下表面构成检测面210，导电柱100的电容值随检测面210接触介质的变化而变化。电容检测芯片300与导电柱100相连，电容检测芯片300通过检测导电柱100的电容值变化量以生成检测信号。根据本技术实施例的用于烹饪器具的防溢检测装置10，采用导电柱100和绝缘体200的结合，形成电容式检测装置，当烹饪器具内的液体(如泡沫)接触检测面210时，电容检测芯片300即可实现溢出信号的检测，成本更低，且导电柱100为柱状结构，绝缘体200包覆导电柱100后也大体呈柱状，这样当有泡沫遗留在防溢检测装置10上时，这些泡沫会沿着防溢检测装置10滑落，从而减少泡沫粘连，避免检测面210上残留泡沫而导致误判断，进而大幅减小了防溢检测的误判断几率。因此，根据本技术实施例的用于烹饪器具的防溢检测装置10具有成本低、误判断几率低等优点。下面参考附图描述根据本技术具体实施例用于烹饪器具的防溢检测装置10。如图1所示，根据本技术实施例的用于烹饪器具的防溢检测装置10包括导电柱100和绝缘体200。具体而言，如图1所示，导电柱100竖直设置，即导电柱100的轴向沿上下方向定向，导电柱100的一个端面水平朝下，由此可以进一步方便防溢检测装置10上的泡沫滑落，防止泡沫残留在检测面210上，从而进一步降低防溢检测的误判断几率。可选地，导电柱100的外表面的总面积为70-1250平方毫米，由此可以在保证检测面积足够大的同时，减小导电柱100的体积以减小防溢检测装置10的整体占用空间。在本技术的一些具体示例中，如图1所示，导电柱100具有沿导电柱100的轴向贯穿导电柱100的中心通孔220，即导电柱100为中空柱体。绝缘体200包覆导电柱100的侧表面和下表面。这里需要理解地是，绝缘体200包覆导电柱100的下表面是指，绝缘体200包覆导电柱100的整个下表面，包括中空的部分。绝缘体200的侧表面构成检测面210，由此可以简化导电柱100的结构，减少导电柱100的重量，降低导电柱100的成本。其中，可以根据实际应用中对检测信号的大小要求调整绝缘体200的侧表面的面积大小，即检测面210的面积大小。有利地，导电柱100的横截面为圆环形，即导电柱100为中空的圆柱体形，绝缘体200的下表面为圆形，这样不仅方便加工制造，而且烹饪器具的烹饪腔的横截面通常为圆形，外轮廓为圆形的防溢检测装置10适用性更高，其上的泡沫也更容易滑落。在本技术的一些具体示例中，如图2所示，导电柱100为实心柱体，绝缘体200包覆导电柱100的侧表面和下表面，绝缘体200的侧表面和下表面构成检测面210。由此，绝缘体200的下表面和侧表面均为检测面210，检测面积更大，从而检测灵敏度本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于烹饪器具的防溢检测装置，其特征在于，包括：导电柱，所述导电柱为柱状，所述导电柱的一个端面朝下设置；绝缘体，所述绝缘体至少包覆所述导电柱的侧表面和/或下表面，所述绝缘体的侧表面和/下表面构成检测面，所述导电柱的电容值随所述检测面接触介质的变化而变化；电容检测芯片，所述电容检测芯片与所述导电柱相连，所述电容检测芯片通过检测所述导电柱的电容值变化量以生成检测信号。

【技术特征摘要】
1.一种用于烹饪器具的防溢检测装置，其特征在于，包括：导电柱，所述导电柱为柱状，所述导电柱的一个端面朝下设置；绝缘体，所述绝缘体至少包覆所述导电柱的侧表面和/或下表面，所述绝缘体的侧表面和/下表面构成检测面，所述导电柱的电容值随所述检测面接触介质的变化而变化；电容检测芯片，所述电容检测芯片与所述导电柱相连，所述电容检测芯片通过检测所述导电柱的电容值变化量以生成检测信号。2.根据权利要求1所述的用于烹饪器具的防溢检测装置，其特征在于，所述导电柱竖直设置。3.根据权利要求1所述的用于烹饪器具的防溢检测装置，其特征在于，所述导电柱为具有沿所述导电柱的轴向贯穿所述导电柱的中心通孔的中空柱体，所述绝缘体包覆所述导电柱的侧表面和下表面且所述绝缘体的侧表面构成所述检测面。4.根据权利要求3所述的用于烹饪器具的防溢检测装置，其特征在于，所述导电柱的横截面为圆环形。5.根据权利要求1所述的用于烹饪器具的防溢检测装置，其特征在于，所述导电柱为实心柱体，所述绝缘体包覆所述导电柱的侧表面和下表面且所述绝缘体的侧表面和下表面构成所述检测面。6.根据权利要求5所述的用于烹饪器具的防溢检测装置，其特征在于，所述导电柱的横截面为圆形。7.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷俊，刘文华，王云峰，黄庶锋，江德勇，张帆，
申请(专利权)人：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44