本实用新型专利技术公开了一种测试轴类零件残余应力的打孔定位装置，包括打孔部分和V形块定位部分，打孔部分与V形块定位部分，通过第一强力磁座、第二强力磁座、第三强力磁座、第四强力磁座与V形块定位部分的压盖连接，压盖上开有U型口卡槽，连接套筒的下端外圆面与定位盖的过盈配合，连接套筒内孔可安装显微观察镜或钻杆，该装置能避免在轴类零件面上打孔时出现打偏心的现象，其可准确定心，实现打孔垂直，保证打孔精度，并且结构简单，操作方便。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及残余应力测试领域，具体涉及一种测试轴类零件残余应力的打孔定位装置。
技术介绍
在机械加工过程中，外力和温度变化引起的不均匀塑性变形是产生残余应力的主要原因。在铸造、锻造、焊接及各类切削加工过程中，工件均会由于受外力和温度的作用而引起残余应力。残余应力的存在对零件的尺寸精度、抗疲劳强度、抗应力腐蚀和抗蠕变开裂的能力，以及机器设备的性能和使用寿命有着重大影响。因此，残余应力的测试对改善零件质量和科学试验具有非常重大的意义。各工业发达国家都很重视残余应力测试技术的研究，残余应力的测试方法按其对于被测构件是否具有破坏性，可分为有损测试法和无损测试法两大类。有损测试法的主要原理是破坏性的应力释放，使其释放部分产生相应的位移与应变，测量出这些位移和应变，经换算得到构件原有的应力，常用的方法有钻孔法、切槽法、剥层法，这方面技术和理论较为成熟，其中为了降低构件因钻孔而受损伤的程度，通常采用盲孔法，该方法测量较可靠，已成为一种现场实测的标准试验方法(见ASTME837-99)。无损测试的主要方法有X射线法、超声波法、磁性法，这些方法不会对工件造成破坏，但是在实际工程应用中局限性较大，并且仪器价格昂贵。在实际测量应用过程中，目前多采用盲孔法对工件的残余应力进行测量，影响残余应力的测量精度和准确性的主要因素是在应变花中心位置打孔，在现有的残余应力打孔部分中，大多是针对平面零件的平面打孔部分，这种部分存在以下不足之处：对于轴类零件残余应力的测量，难以对粘贴在工件面上的应变花中心位置进行定位打孔，并且容易出现打孔打偏现象，对测量结果造成不良影响甚至导致结果错误。
技术实现思路
本技术为了解决现有技术的不足，提供一种测试轴类零件残余应力的打孔定位装置，该装置可对轴类零件面上的应变花中心位置进行准确定位，并保证打孔垂直，不容易出现打孔偏差，对测量结果不会造成不良影响。实现本技术目的的技术方案是：一种测试轴类零件残余应力的打孔定位装置，包括打孔部分和V形块定位部分，打孔部分与V形块定位部分的连接，通过打孔部分的第一强力磁座、第二强力磁座、第三强力磁座、第四强力磁座吸附固定在V形块定位部分的定位盖上进行连接；打孔部分包括：压盖、连接套筒、打孔部分体、第一微调螺钉、第二微调螺钉、第一调高螺丝、第二调高螺丝、第三调高螺丝、第四调高螺丝、第一上紧锁螺帽、第二上紧锁螺帽、第三上紧锁螺帽、第四上紧锁螺帽、第一下紧锁螺帽、第二下紧锁螺帽、第三下紧锁螺帽、第四下紧锁螺帽、第一支座、第二支座、第三支座、第四支座、第一强力磁座、第二强力磁座、第三强力磁座、第四强力磁座、钻头、钻杆、第一夹紧螺钉、第二夹紧螺钉、万向节、显微观察镜；第一强力磁座、第二强力磁座、第三强力磁座、第四强力磁座配装在打孔部分体的底部，使其水平固定放置在定位盖上，并配装有第一支座、第二支座、第三支座、第四支座；第一调高螺丝配装有第一上紧锁螺帽、第一下紧锁螺帽、第一支座，并安装在打孔部分体上；第二调高螺丝配装有第二上紧锁螺帽、第二下紧锁螺帽、第二支座，并安装在打孔部分体上；第三调高螺丝配装有第三上紧锁螺帽、第三下紧锁螺帽、第三支座，并安装在打孔部分体上；第四调高螺丝配装有第四上紧锁螺帽、第四下紧锁螺帽、第四支座，并安装在打孔部分体上；连接套筒外圆与打孔部分体内孔采用过盈配合连接；压盖与打孔部分体采用螺纹连接，旋转压盖对连接套筒轴向约束进行压紧；连接套筒上配装有第一微调螺钉、第二微调螺钉与打孔部分体采用螺纹连接，第一微调螺钉、第二微调螺钉对连接套筒周向约束进行锁紧；连接套筒内孔与显微观察镜外圆采用过盈配合，连接套筒内孔还与钻杆外圆为过盈配合；第一夹紧螺钉和第二夹紧螺钉配装在万向节，钻头装夹在钻杆的夹持端并进行夹紧，万向节通过第一夹紧螺钉和第二夹紧螺钉固定连接在钻杆上；连接套筒下端外圆面与定位盖上的U型口卡槽为过盈配合，定位盖的U型口卡槽对连接套筒进行约束定位；所述的连接套筒外圆与打孔部分体内孔的同轴度为毫米；所述的钻杆外圆采用外圆磨床精磨加工，连接套筒内孔精磨加工，钻杆外圆面与连接套筒内圆面采用过盈配合，钻杆与连接套筒的同轴度为毫米。V形块定位部分包括：定位盖、第一定位销、第二定位销、第三定位销、第四定位销、V形块、第一调节螺栓、第二调节螺栓、第三调节螺栓、第四调节螺栓、第一上紧固螺母、第二上紧固螺母、第三上紧固螺母、第四上紧固螺母、第一下紧固螺母、第二下紧固螺母、第三下紧固螺母、第四下紧固螺母、第一底座、第二底座、第三底座、第四底座；第一底座、第二底座、第三底座、第四底座配装在V形块的底部，使其水平放置；第一调节螺栓配装有第一上紧固螺母、第一下紧固螺母、第一底座，并安装在V形块的螺栓孔上；第二调节螺栓配装有第二上紧固螺母、第二下紧固螺母、第二底座，并安装在V形块的螺栓孔上；第三调节螺栓配装有第三上紧固螺母、第三下紧固螺母、第三底座，并安装在V形块的螺栓孔上；第四调节螺栓配装有第四上紧固螺母、第四下紧固螺母、第四底座，并安装在V形块的螺栓孔上；定位盖通过配装在V形块的V形面上的第一定位销、第二定位销、第三定位销、第四定位销与V形块相连接。所述的定位盖中心开有U型通孔卡槽，定位盖中心U型卡槽两侧平行平面的中心面与V形块两侧斜面夹角的角平分面的平面度为0.01毫米。有益效果本技术提供一种测试轴类零件残余应力的打孔定位装置，该装置结构设计科学合理，定位盖与V形块采用第一定位销进行定位，提高了连接的可靠性，通过第一支脚上配装的第一强力磁座进行固定使打孔部分更加稳定，旋转压盖对连接套筒进行压紧，可保证套筒的垂直，连接套筒外圆与打孔部分体内孔采用过盈配合，且两者间同轴度为毫米，钻杆外圆与连接套筒内孔过盈配合，并且两者间同轴度为毫米，连接套筒外圆与定位盖U型口过盈配合，利用U型口卡槽约束连接套筒进行定位，使钻杆和钻头定心更加稳定精准，从而可确保钻杆及钻头的中心轴向向量线与轴类零件曲面上所测试点的法向向量线重合，精准完成定位，并保证垂直打孔的功能。附图说明图1是本技术装置的主示图图2是打孔准备示意图图3是打孔部分的局部结构左视图示意图图4是打孔部分的局部结构斜右视图示意图图5是V形块定位部分示意图之一图6是V形块定位部分示意图之二图7是打孔部分的局部结构与V形块定位部分装配示意图图8是钻杆示意图图中标记与零部件对应为：压盖1、连接套筒2、打孔部分体8、第一微调螺钉9-本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试轴类零件残余应力的打孔定位装置，其特征在于，包括打孔部分和V形块定位部分， 打孔部分与V形块定位部分，通过打孔部分的第一强力磁座、第二强力磁座、第三强力磁座、第四强力磁座吸附固定在V形块定位部分的定位盖上进行连接。
【技术特征摘要】
1.一种测试轴类零件残余应力的打孔定位装置，其特征在于，包括打孔部分和V形块定位部分，打孔部分与V形块定位部分，通过打孔部分的第一强力磁座、第二强力磁座、第三强力磁座、第四强力磁座吸附固定在V形块定位部分的定位盖上进行连接。
2.根据权利要求1所述的测试轴类零件残余应力的打孔定位装置，其特征在于，打孔部分包括：压盖、连接套筒、打孔部分体、第一微调螺钉、第二微调螺钉、第一调高螺丝、第二调高螺丝、第三调高螺丝、第四调高螺丝、第一上紧锁螺帽、第二上紧锁螺帽、第三上紧锁螺帽、第四上紧锁螺帽、第一下紧锁螺帽、第二下紧锁螺帽、第三下紧锁螺帽、第四下紧锁螺帽、第一支座、第二支座、第三支座、第四支座、第一强力磁座、第二强力磁座、第三强力磁座、第四强力磁座、钻头、钻杆、第一夹紧螺钉、第二夹紧螺钉、万向节、显微观察镜；
第一强力磁座、第二强力磁座、第三强力磁座、第四强力磁座配装在打孔部分体的底部，使其水平固定放置在定位盖上，并配装有第一支座、第二支座、第三支座、第四支座；
第一调高螺丝配装有第一上紧锁螺帽、第一下紧锁螺帽、第一支座，并安装在打孔部分体上；第二调高螺丝配装有第二上紧锁螺帽、第二下紧锁螺帽、第二支座，并安装在打孔部分体上；第三调高螺丝配装有第三上紧锁螺帽、第三下紧锁螺帽、第三支座，并安装在打孔部分体上；第四调高螺丝配装有第四上紧锁螺帽、第四下紧锁螺帽、第四支座，并安装在打孔部分体上；
连接套筒外圆与打孔部分体内孔采用过盈配合连接；
压盖与打孔部分体采用螺纹连接，旋转压盖对连接套筒轴向约束进行压紧；
连接套筒上配装有第一微调螺钉、第二微调螺钉与打孔部分体采用螺纹连接，第一微调螺钉、第二微调螺钉对连接套筒周向约束进行锁紧；
连接套筒内孔与显微观察镜外圆采用过盈配合，连接套筒内孔还与钻杆外圆为过盈配合；
第一夹紧螺钉和第二夹紧螺钉配装在万向节，钻头装夹在钻杆的夹持端并进行夹紧，钻杆通过万向节连接手钻，旋转第一夹...
【专利技术属性】
技术研发人员：王荣，钟盛，魏德强，胡超凡，
申请(专利权)人：桂林电子科技大学，
类型：新型
国别省市：广西;45
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