CPU串行电压识别信号测试装置及方法制造方法及图纸

一种CPU串行电压识别信号测试装置，包括一采集模块、一电压侦测模块及一处理模块。该采集模块用于接收来自CPU输出的串行电压识别信号，该电压侦测模块用于侦测CPU所接收的实际电压值，该处理模块分别与该采集模块及电压侦测模块连接，用于接收该采集模块所输出的串行电压识别信号及该电压侦测模块所侦测的实际电压值。该处理模块将该串行电压识别信号转换为一模拟电压值并与该实际电压值进行比较。本发明专利技术还提供一种CPU串行电压识别信号测试方法。本发明专利技术CPU串行电压识别信号测试装置及方法可方便的测试出CPU发送的串行电压识别信号及电压调节模组输出的电压是否正确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试装置及方法，特别涉及一种对CPU（CentralProcessingUnit，中央处理器）串行电压识别信号进行测试的装置及方法。
技术介绍
现在CPU的输入电压一般采用自适应电压调节技术。开机后CPU向电压调节模组发送SVID（SerialVoltageIdentificationDefinition，串行电压识别）信号，以向该电压调节模组请求所需电压，然后电压调节模组根据CPU所发送的SVID信号输出正确电压。然而，在工程设计的时候需要知道CPU发送的SVID信号及电压调节模组输出的电压是否正确。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种CPU串行电压识别信号测试装置及方法，可方便的测试CPU发送的SVID信号及电压调节模组输出的电压是否正确。一种CPU串行电压识别信号测试装置，包括：一显示模块；一采集模块，用于接收来自CPU的串行电压识别信号；一电压侦测模块，用于侦测CPU所接收的实际电压值；一处理模块，该处理模块分别与该采集模块及电压侦测模块连接，用于接收该采集模块所输出的串行电压识别信号及该电压侦测模块所侦测的实际电压值，该处理模块还将接收到的串行电压识别信号转换成二进制信号，并根据一串行电压识别协定将该二进制信号翻译为一模拟电压值后与该电压侦测模块所侦测的实际电压值进行比较，该处理模块控制该显示模块显示该模拟电压值与该实际电压值比较结果的误差百分比。一采集模块接收CPU所输出的串行电压识别信号，并将所接收的串行电压识别信号传输至一处理模块；一电压侦测模块侦测CPU所接收的实际电压值，并将侦测到的实际电压值传输至该处理模块；该处理模块接收该采集模块所传输的串行电压识别信号及该电压侦测模块所侦测到的实际电压值，并将该串行电压识别信号转换为二进制信号；该处理模块根据串行电压识别协定将二进制信号转换成模拟电压值并将模拟电压值与该实际电压值进行比较；及该处理模块控制一显示模块显示该模拟电压值与该实际电压值比较结果的误差百分比。本专利技术CPU串行电压识别信号测试装置及方法通过该采集模块接收该CPU输出的SVID信号及该电压侦测模块侦测到的实际电压值，该处理模块将该SVID信号转换为二进制信号，并根据一串行电压识别协议将该二进制信号翻译成一模拟电压值与该实际电压值进行比较。如此可得知CPU发送的SVID信号及电压调节模组输出的电压是否正确。附图说明下面结合附图及较佳实施方式对本专利技术作进一步详细描述：图1是本专利技术CPU串行电压识别信号测试装置的较佳实施方式的架构图。图2是本专利技术CPU串行电压识别信号测试方法的较佳实施方式的流程图。主要元件符号说明CPU串行电压识别信号测试装置1采集模块10时钟信号采集单元100数字信号采集单元102电压侦测模块20处理模块30存储模块40校验模块50显示模块60操作面板70CPU80如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式如图1所示，本专利技术CPU串行电压识别信号测试装置1的较佳实施方式包括一采集模块10、一电压侦测模块20、一处理模块30、一存储模块40、一校验模块50、一显示模块60及一操作面板70。本实施方式中，该操作面板70用于输入开机指令。本实施方式中，该采集模块10用于接收一CPU80所传输的SVID信号，该采集模块10包括一时钟信号采集单元100及一数字信号采集单元102。该数字信号采集单元102及该时钟信号采集单元100分别用于接收来自该CPU80所传输的SVID信号中的数字信号及时钟信号，并将所采集的数字信号及时钟信号传输给该处理模块30。该电压侦测模块20用于侦测该CPU80随时间变化所接收的实际电压值，并将侦测的实际电压值传输给该处理模块30。本实施方式中，该处理模块30用于接收该电压侦测模块20传输的实际电压值。本实施方式中，该处理模块30还用于接收该采集模块10所传输的SVID信号，该处理模块30将接收到的SVID信号进行处理，例如，对该采集模块10所传输的SVID信号进行杂讯识别处理，以得到精确的数字信号及时钟信号。该处理模块30还用于将该采集模块10所传输的数字信号转换成二进制信号，例如0或者1。其中，该处理模块30根据该采集模块10所传输的时钟信号对数字信号进行转换。例如当t=0至t=0.05s时刻是一个时钟信号周期，如此，该处理模块30判断该采集模块10在t=0至t=0.05s这一时钟信号周期所传输的数字信号的电平状态。若该数字信号在t=0至t=0.05s这一时钟信号周期为一高电平信号，该处理模块30则将该数字信号转换成二进制信号1，若该数字信号在t=0至t=0.05s这一时钟信号周期为一低电平信号，该处理模块30则将该数字信号转换成二进制信号0。如此使得该处理模块30可对整个采集模块10所传输的数字信号根据时钟信号转换成由0和1所组合的二进制信号，并将该二进制信号输出给该校验模块50。本实施方式中，该校验模块50用于接收经该处理模块30所输出的二进制信号，并将这些由0和1组成的二进制信号进行校验。本实施方式中，该校验模块50可采用一内存奇偶校验方法对二进制信号进行校验。在其他实施方式中，该校验模块50亦可采用一结果对比校验方法对二进制信号进行校验。本实施方式中，该校验模块50将通过校验的二进制信号输出至该存储模块40，如此使得该处理模块30在处理过程中从存储模块40调用所需的数据信息。本实施方式中，该处理模块30还用于将经该校验模块50校验输出后的二进制信号分为若干段，该处理模块30根据SVID协议将每一段二进制信号进行翻译，以得到对应的模拟电压值，该处理模块30还将经转换得出的模拟电压值和所接收的实际电压值进行比较，并控制该显示模块60显示该模拟电压值与该实际电压值比较结果的误差百分比。工作时，用户通过操作面板70输入开机指令，CPU串行电压识别信号测试装置1启动。此时，将该采集模块10（如一探针）连接到CPU80的串行电压识别引脚上，该采集模块10开始接收该CPU80所传输的SVID信号，该电压侦测模块20开始侦测该CPU80所接收的随时间变化的实际电压值，并将所侦测的实际电压值传输至该处理模块30。该处理模块30将该采集模块10所传输的SVID信号中的数字信号转换成由0和1组合的二进制信号，并通过该校验模块50对该二进制信号进行校验后存储在该存储模块40中，以便于该处理模块30在处理过程中调用所需的数据信息。该处理模块30将经该校验模块50校验输出后的二进制信号根据串行电压识别协定将该二进制信号翻译成一模拟电压值。此时，该处理模块30将得到的模拟电压值与实际电压值进行比较，并控制该显示模块60显示该模拟电压值与该实际电压值比较结果的误差百分比。如图2所示，本专利技术CPU串行电压识别信号测试方法的较佳实施方式包括以下步骤：步骤S100，接收用户输入的开机指令，CPU串行电压识别信号测试装置1启动；步本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种CPU串行电压识别信号测试装置，包括：一显示模块；一采集模块，用于接收来自CPU的串行电压识别信号；一电压侦测模块，用于侦测CPU所接收的实际电压值；一处理模块，该处理模块分别与该采集模块及电压侦测模块连接，用于接收该采集模块所输出的串行电压识别信号及该电压侦测模块所侦测的实际电压值，该处理模块还将接收到的串行电压识别信号转换成二进制信号，并根据一串行电压识别协定将该二进制信号翻译为一模拟电压值后与该电压侦测模块所侦测的实际电压值进行比较，该处理模块控制该显示模块显示该模拟电压值与该实际电压值比较结果的误差百分比。

【技术特征摘要】
1.一种CPU串行电压识别信号测试装置，包括：
一显示模块；
一采集模块，用于接收来自CPU的串行电压识别信号；
一电压侦测模块，用于侦测CPU所接收的实际电压值；
一处理模块，该处理模块分别与该采集模块及电压侦测模块连接，用于接收该采集模块所输出的串行电压识别信号及该电压侦测模块所侦测的实际电压值，该处理模块还将接收到的串行电压识别信号转换成二进制信号，并根据一串行电压识别协定将该二进制信号翻译为一模拟电压值后与该电压侦测模块所侦测的实际电压值进行比较，该处理模块控制该显示模块显示该模拟电压值与该实际电压值比较结果的误差百分比。
2.如权利要求1所述的CPU串行电压识别信号测试装置，其特征在于：该CPU串行电压识别信号测试装置还包括一校验模块及一存储模块，该校验模块用于对该处理模块转换后的二进制信号进行校验，并将校验后的二进制信号存储在存储模块中，该处理模块能够读取存储在存储模块中的二进制信号。
3.如权利要求1所述的CPU串行电压识别信号测试装置，其特征在于：该采集模块为一探针。
4.如权利要求1所述的CPU串行电压识别信号测试装置，其特征在于：该采集模块还包括一数字信号采集单元及一时钟...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄永兆，彭一弘，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业武汉有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42