【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测量装置领域，特别地，涉及一种量具。
技术介绍
现有生产中，常需要对零件上加工的内花键的跨棒距进行测量，零件的结构如附图图1所示，零件10上加工有两端连通的轴孔101，轴孔101的内壁上加工有待测量的内花键102。测量内花键102的跨棒距是否合格时，采用如附图图2所示的滚棒50与卡尺配合测量，测量前，首先将两根滚棒50分别与内花键102上相对设置的两个花键槽1020固定，然后再采用卡尺测量两根滚棒50之间的距离，两根滚棒50之间的距离即为内花键102的跨棒距。该测量要求操作人员具有一定的操作经验，否则测量的尺寸偏差较大，易对零件的合格与否产生误判；测量时需要先将滚棒50与花键槽1020的两个侧壁固定，然后再用卡尺测量两根滚棒50之间的距离，操作步骤多且使用的测量工具多，测量结果误差大，不适用于多件大批量的测量。
技术实现思路
本技术提供了一种量具，以解决现有测量内花键的跨棒距时存在的要求操作人员具有一定的操作经验、测量的尺寸偏差较大、易对零件的合格与否产生误判、且操作步骤多且使用的测量工具多、不适用于多件大批量的测量的技术问题。本技术采用的技术方案如下：一种量具，用于测量零件上加工的内花键的跨棒距是否合格，其中，零件上加工有两端连通的轴孔，轴孔的内壁上加工有内花键，量具包括能穿过轴孔的通段和不能穿过轴孔的止段，通段和止段结构相同且对称设置；通段包括两条相对设置且沿量具的轴向延伸的第一凸齿条，第一...
【技术保护点】
一种量具，用于测量零件上加工的内花键的跨棒距是否合格，其中，所述零件(10)上加工有两端连通的轴孔(101)，所述轴孔(101)的内壁上加工有内花键(102)，其特征在于，所述量具包括能穿过所述轴孔(101)的通段(20)和不能穿过所述轴孔(101)的止段(30)，所述通段(20)和所述止段(30)结构相同且对称设置；所述通段(20)包括两条相对设置且沿所述量具的轴向延伸的第一凸齿条(21)，所述第一凸齿条(21)的截面形状与所述内花键(102)的花键槽(1020)的截面形状匹配，且两条所述第一凸齿条(21)顶部之间的距离为相对设置的两个所述花键槽(1020)底部之间的距离在公差范围内的最小值；所述止段(30)包括两条相对设置且沿所述量具的轴向延伸的第二凸齿条(31)，所述第二凸齿条(31)的截面形状与所述内花键(102)的花键槽(1020)的截面形状匹配，且两条所述第二凸齿条(31)顶部之间的距离为相对设置的两个所述花键槽(1020)底部之间的距离在公差范围内的最大值。
【技术特征摘要】
1.一种量具，用于测量零件上加工的内花键的跨棒距是否合格，其中，所述零件(10)上
加工有两端连通的轴孔(101)，所述轴孔(101)的内壁上加工有内花键(102)，其特征
在于，
所述量具包括能穿过所述轴孔(101)的通段(20)和不能穿过所述轴孔(101)的
止段(30)，所述通段(20)和所述止段(30)结构相同且对称设置；
所述通段(20)包括两条相对设置且沿所述量具的轴向延伸的第一凸齿条(21)，所
述第一凸齿条(21)的截面形状与所述内花键(102)的花键槽(1020)的截面形状匹配，
且两条所述第一凸齿条(21)顶部之间的距离为相对设置的两个所述花键槽(1020)底
部之间的距离在公差范围内的最小值；
所述止段(30)包括两条相对设置且沿所述量具的轴向延伸的第二凸齿条(31)，所
述第二凸齿条(31)的截面形状与所述内花键(102)的花键槽(1020)的截面形状匹配，
且两条所述第二凸齿条(31)顶部之间的距离为相对设置的两个所述花键槽(1020)底
部之间的距离在公差范围内的最大值。
2.根据权利要求1所述的量具，其特征在于，
所述通段(20)还包括沿所述量具的轴向延伸的第一量杆(22)，两条所述第一凸齿
条(21)对称设置于所述第一量杆(22)的外壁上且沿所述第一量杆(22)的轴向延伸。
3.根据权利要求2所述的量具，其特征在于，
所述第一凸齿条(21)包括相连的第一凸齿段(211)和第一连接段(212)，所述第
一凸齿段(211)的截面形状与所述花键槽(1020)的截面形状匹配，所述第一连接段(212)
的截面形状为半圆形。
4.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：王熔，杨慧，刘慧琴，
申请(专利权)人：中航动力株洲航空零部件制造有限公司，
类型：新型
国别省市：湖南;43
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