基于SAR严密成像模型的子像素级角反射器自动定位方法技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及雷达干涉处理
，特别涉及一种基于SAR严密成像模型的子像素级角反射器自动定位方法。
技术介绍
合成孔径雷达(SAR)技术诞生于1951年，它通过收集和记录目标、背景在微波波段内的电磁波辐射、散射能量，利用信号处理技术加工整理，提取识别目标物体或现象的有用信息，广泛应用于测绘地形地物、检测海洋、探测地球资源和侦察监视军事目标等。角反射器(CR)在合成孔径雷达影像中具有高反射回波、强稳定性等特点，已应用于SAR影像的几何纠正和合成孔径雷达干涉测量(InSAR)检校中。目前对角反射器的设计工作主要集中在如角反射器面的选择、设计、加工公差、角度误差、入射角对准误差等，但是涉及对角反射器的自动定位的较少，尤其现有技术中并没有子像素级的反射器的自动定位。现有的反射器定位技术多是利用角反射器点具有较强的回波信号与周围地物具有相对较弱的回波信号特性，利用一定大小的窗口模板去检测、匹配图像，计算相应的相关系数，相关系数高的点即为角反射器所在的位置，这种方法计算速度较快，然而其探测精度只能到像素级。此外，现有技术中还有基于提取PS点的方法识别角反射器点，计算角反射器点周围一定窗口内的相干系数、振幅离差值，具有高的信噪比点即为角反射器点位置，这种方法优于相关系数法，精度可控制在1-2像素以内，然而影像数目动辄数十景，成本过高；另外，现有技术中还有基于信噪比(SCR)的角反射器提取方法，该方法首先估算初始定位的最大偏移，确定角反射器目标的大致范围，然后绘制确定的角反射器目标范围的SCR值图，SCR值最大的点即为角反射器目标。然而，现有技术的这三种方法由于缺少...
【技术保护点】
一种基于SAR严密成像模型的子像素级角反射器自动定位方法，其特征在于，所述方法具体包括以下步骤：S1，采集原始数据，所述原始数据包括角反射器点的坐标、主影像以及所述主影像的成像参数；S2，利用采集的原始数据构建SAR严密成像模型，并基于构建的SAR严密成像模型计算所有角反射器点的初始像素坐标(x0,y0)，得到所有角反射器点的初始像素坐标的集合{Pinit}；S3，基于步骤S2获取的角反射器点的初始像素坐标集合{Pinit}，使用最大振幅算法解算所有角反射器点在主影像中的像素级坐标(x1,y1)，并得到所有角反射器点在主影像中的像素级坐标集合{(Ppix)}；S4，对角反射器点的像素级坐标集合{(Ppix)}中所有角反射器点的像素级坐标进行干涉参数测量校验，获得角反射器点的子像素级坐标(x2,y2)。
【技术特征摘要】
1.一种基于SAR严密成像模型的子像素级角反射器自动定位方法，其特征在于，所述方法具体包括以下步骤：S1，采集原始数据，所述原始数据包括角反射器点的坐标、主影像以及所述主影像的成像...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐新明，高小明，李涛，陈乾福，陈卫南，吴丹芹，张文君，
申请(专利权)人：国家测绘地理信息局卫星测绘应用中心，
类型：发明
国别省市：北京;11
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