一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于工程测量技术领域，具体涉及一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置，目的是解决技术现有连续波信号微光探测技术中，放大电路有限的增益带宽积难以实现高增益的问题。该装置包括光电探测器APD、放大器AMP、本振信号源VLO、偏置电压HV、限流电阻R1、负载电阻R2、端接电阻R3、跨阻R4、滤波电容C1、交流耦合电容C2和旁路电容C3。本方案将光电探测器APD本身作为混频单元，将本振信号加到光电探测器的基准电压端，通过本振信号调制光电探测器的偏置电压来实现对APD探测器增益的调制。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于工程测量
，具体涉及一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置。
技术介绍
微光探测技术广泛用于激光测距、激光雷达、长距离无线激光通信、激光敌我识别等领域。由于要提取出深埋于散弹噪声和电路热噪声的微弱信号，获得一定的信噪比满足后续处理电路的要求，所以对探测放大电路噪声、增益、工艺设计提出了较高要求。在连续波信号微光探测放大电路中，除光电探测器本身的限制因素外，限制放大电路增益的主要因素是放大器有限的增益带宽积，即调制频率越高，获得的增益就越低。然而，在大多数的应用场合中，连续波信号都具有较高的调制频率。因此，在高调制频率的情况下，提高放大电路的增益是连续波信号微光探测中的关键技术，能够提高连续波信号微光探测系统的探测能力。目前，尚没有提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置的相关报道。
技术实现思路
本专利技术的目的是解决技术现有连续波信号微光探测技术中，放大电路有限的增益带宽积难以实现高增益的问题，提供一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置。本专利技术是这样实现的：一种提高连续波信号微光探测放本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置，包括光电探测器APD、放大器AMP、本振信号源VLO、偏置电压HV、限流电阻R1、负载电阻R2、端接电阻R3、跨阻R4、滤波电容C1、交流耦合电容C2和旁路电容C3；其中，光电探测器APD的正极分别与交流耦合电容C2的一端和负载电阻R2的一端连接，光电探测器APD的负极分别与限流电阻R1的一端、滤波电容C1的一端、跨阻R4的一端和放大器AMP的同相输入端连接；交流耦合电容C2的另一端与端接电阻R3的一端连接，端接电阻R3的另一端与本振信号源VLO的一端连接；本振信号源VLO的另一端接地；负载电阻R2的一端接地；限流电阻R1的另一端分别与旁路电容C3...

【技术特征摘要】
1.一种提高连续波信号微光探测放大电路增益的装置，包括光电探测器
APD、放大器AMP、本振信号源VLO、偏置电压HV、限流电阻R1、负载电阻
R2、端接电阻R3、跨阻R4、滤波电容C1、交流耦合电容C2和旁路电容C3；
其中，光电探测器APD的正极分别与交流耦合电容C2的一端和负载电阻R2
的一端连接，光电探测器APD的负极分别与限流电阻R1的一端、滤波电容C1
的一端、跨阻R4的一端和放大器AMP的同相输入端连接；交流耦合电容C2
的另一端与端接电阻R3的一端连接，端接电阻R3的另一端与本振信号源VLO
的一端连接；本振信号源VLO的另一端接地；负载电阻R2的一端接地；限流
电阻R1的另一端分别与旁路电容C3的一端、滤波电容C1的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：董利军，刘柯，缪寅宵，宋金城，郭磊，高越，
申请(专利权)人：北京航天计量测试技术研究所，中国运载火箭技术研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11