短距离传输万兆光模块的综合测试系统及应用方法技术方案

本发明专利技术公开了一种短距离传输万兆光模块的综合测试系统，包括：第一评估板，其上设置有待测万兆光模块，所述待测万兆光模块的接收端与一误码仪连接，输出端通过一光分路器分别连接至光功率计和第二评估板，且所述光分路器与第二评估板之间还设置有一第一光衰减器，以构成待测光模块发端的测试模块；其中，所述第二评估板上设置有一标准万兆光模块，以通过一第二光衰减器连接至第一评估板，进而通过所述第一评估板与误码仪连接，构成成待测光模块收端的测试模块。本发明专利技术提供一种短距离传输万兆光模块的综合测试系统及应用方法，其引入了算法优化的方式，将传统的4个调测试步骤整合为1个，工艺流程显著减少，生产效率高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种在光模块生产或测试情况下使用的调试系统。更具体地说，本专利技术涉及一种用在光模块生产或测试情况下的短距离传输万兆光模块的综合测试系统。
技术介绍
万兆光模块中的万兆SR(短距离)光模块，其指的是万兆850nm波长全双工光收发模块，是目前短距离(300m以内)传输的主流光模块，其广泛应用于企业级的以太网网络中。对于目前的万兆SR光模块生产工艺来说，主要包括光模块的组装及后期参数的测试，而测试又分为发端调试、发端测试、收端调试、收端测试四个步骤，每个步骤都要采用独立的仪器以对相应的指标进行测试和控制，其主要指标及所需仪器如下表所示：对于当前主流的光模块制造商，仍采用上述传统的生产工艺来进行光模块的生产，同时采用分四步的方法完成万兆SR产品的调测试，其发端测试、调试时各器件工位搭建的连接示意图如图1所示，而收端测试、调试时各器件工位搭建的连接示意图如图2所示。但是传统生产工艺虽被业界广泛采用，工艺流程也较完善，但具有如下劣势：1、工艺流程较多，生产效率不够理想；2、使用了成本高昂的“光示波器”，生产线搭建成本较高；3、多工位独立，所需仪器数量成倍增加，且各工位引入的仪器误差会产生累积；4、光示波器采集波形需要等待较长时间，限制了生产的高效运行。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是解决至少上述问题和/或缺陷，并提供至少后面将说明的优点。本专利技术还有一个目的是提供一种短距离传输万兆光模块的综合测试系统，其将传统的4个调测试步骤整合为1个，以待测模块与标准模块之间的实际通讯效果作为判断依据，取代低效的眼图质量测试，工艺流程显著减少，生产效率得到大大提高，且避免了误差的累积；同时因其采用标准模块配合调测试，保证生产模块的产品性能参数良好。本专利技术还有一个目的是通过应用综合测试系统的方法，提高测试的效率，同时因其采用算法来实现光功率、消光比的调试，不必使用成本高昂的光示波器，具有成本可控，稳定性好，效率提高的效果。为了实现根据本专利技术的这些目的和其它优点，提供了一种短距离传输万兆光模块的综合测试系统，包括：第一评估板，其上设置有待测万兆光模块，所述待测万兆光模块的接收端与一误码仪连接，输出端通过一光分路器分别连接至光功率计和第二评估板，且所述光分路器与第二评估板之间还设置有一第一光衰减器，以构成待测光模块发端的测试模块；其中，所述第二评估板上设置有一标准万兆光模块，以通过一第二光衰减器连接至第一评估板，进而通过所述第一评估板与误码仪连接，构成成待测光模块收端的测试模块。优选的是，其中，所述第一评估板及第二评估板上分别设置有PC控制板。本专利技术的目的还可以进一步地由一种应用综合测试系统的方法实现，包括：测试准备：将所述待测万兆光模块插入第一评估板中，所述第一评估板中的PC控制板基于待测万兆模块的预定光功率进行相应计算，以将得到相应的技术参数写入到待测万兆模块中；发端测试：所述误码仪发送一电信号至待测万兆光模块，所述待测万兆光模块基于其内的技术参数产生相应的第一光信号，以通过待测万兆光模块与标准万兆光模块之间的通信效果以及光功率计上的读数，进而判断待测万兆光模块的发端性能；收端测试：所述标准万兆光模块发送一第二光信号至待测万兆光模块，以通过所述待测万兆光模块进行光电转换后输出至误码仪，进而判断测万兆光模块的收端性能。优选的是，其中，在准备阶段，还包括对测试系统中各器件进行的测试、点检并记录相关的参数。优选的是，其中，所述测试包括对各链接光路的插损参数测试，所述点检包括对各仪器与标准仪器测试时得到的差异参数，所述参数包括插损参数、差异参数、及标准万兆光模块的性能参数。优选的是，其中，所述技术参数包括：激光器工作时的偏置电流Ibias；光模块在传输“1”信号和“0”信号时所产生的交流电流Imod；光模块的信号丢失阈值Los。优选的是，其中，所述偏置电流Ibias基于以下公式获得：AOP＝SE*Ibias其中，SE为激光器发光效率所对应的一常量，Ibias为偏置电流，AOP为预定光功率。优选的是，其中，所述交流电流Imod基于以下公式获得：ER＝10*log((Ibias+1/2*Imod)/(Ibias–1/2*Imod))其中，ER为光模块的消光比，Ibias为基于预定光功率计算得出的偏置电流。优选的是，其中，在所述发端测试中，所述光分路器基于从待测光模块处接收到的光信号，一路通过光纤传递给光功率计，以读取一最终光功率值以确定待测万兆光模块发光功率是否正常；另一路通过第一光衰减器连接至第二评估板上的标准万兆光模块，并通过调整第一光衰减器的衰减大小，以使输出至标准万兆模块的光功率值接近标准万兆光模块的灵敏度值，以通过标准万兆光模块能否收到光信号进而判断待测万兆光模块的消光比是否在预定范围内。优选的是，其中，在所述收端测试中，所述标准万兆光模块在PC控制板的控制下发出第二光信号至待测万兆光模块，并通过调整第二光衰减器的衰减大小，通过误码仪测试待测万兆光模块的过载，灵敏度，信号丢失阈值。本专利技术至少包括以下有益效果：其一，本专利技术的综合测试系统，其将传统的4个调测试步骤整合为1个综合测试系统，工艺流程显著减少，大幅度提高生产效率，且同时避免了多个工位的相互独立，带来的测试误差。其二，本专利技术的综合测试系统，其引进了标准模块进行配合调测试，保证生产模块的产品性能参数良好，并以待测模块与标准模块之间的实际通讯效果作为判断依据，取代低效的眼图质量测试，大大提高了效率。其三，本专利技术应用综合测试系统的方法中，其采用算法优化的生产工艺，采用算法来实现光功率、消光比的调试，而不必使用成本高昂的光示波器，具有成本可控，稳定性好，效率提高的效果。本专利技术的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本专利技术的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。附图说明图1为传统的万兆光模块发端调试、测试时工位搭建的连接示意图；图2为传统的万兆光模块收端调试、测试时工位搭建的连接示意图；图3为本专利技术的一个实施例中短距离传输万兆光模块的综合测试系统中各器件的连接示意图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。应当理解，本文所使用的诸如“具有”、“包含”以及“包括”术语并不配出一个或本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种短距离传输万兆光模块的综合测试系统，其特征在于，包括：第一评估板，其上设置有待测万兆光模块，所述待测万兆光模块的接收端与一误码仪连接，输出端通过一光分路器分别连接至光功率计和第二评估板，且所述光分路器与第二评估板之间还设置有一第一光衰减器，以构成待测光模块发端的测试模块；其中，所述第二评估板上设置有一标准万兆光模块，以通过一第二光衰减器连接至第一评估板，进而通过所述第一评估板与误码仪连接，构成成待测光模块收端的测试模块。

【技术特征摘要】
1.一种短距离传输万兆光模块的综合测试系统，其特征在于，包括：
第一评估板，其上设置有待测万兆光模块，所述待测万兆光模块的接收
端与一误码仪连接，输出端通过一光分路器分别连接至光功率计和第二评估
板，且所述光分路器与第二评估板之间还设置有一第一光衰减器，以构成待
测光模块发端的测试模块；
其中，所述第二评估板上设置有一标准万兆光模块，以通过一第二光衰
减器连接至第一评估板，进而通过所述第一评估板与误码仪连接，构成成待
测光模块收端的测试模块。
2.如权利要求1所述的短距离传输万兆光模块的综合测试系统，其特征
在于，所述第一评估板及第二评估板上分别设置有PC控制板。
3.一种应用如权利要求1-2任一项所述的综合测试系统的方法，其特征
在于，包括：
测试准备：将所述待测万兆光模块插入第一评估板中，所述第一评估板
中的PC控制板基于待测万兆模块的预定光功率进行相应计算，以将得到相应
的技术参数写入到待测万兆模块中；
发端测试：所述误码仪发送一电信号至待测万兆光模块，所述待测万兆
光模块基于其内的技术参数产生相应的第一光信号，以通过待测万兆光模块
与标准万兆光模块之间的通信效果以及光功率计上的读数，进而判断待测万
兆光模块的发端性能；
收端测试：所述标准万兆光模块发送一第二光信号至待测万兆光模块，
以通过所述待测万兆光模块进行光电转换后输出至误码仪，进而判断测万兆
光模块的收端性能。
4.如权利要求3所述的应用方法，其特征在于，在准备阶段，还包括对
测试系统中各器件进行的测试、点检并记录相关的参数。
5.如权利要求4所述的应用方法，其特征在于，所述测试包括对各链接
光路的插损参数测试，所述点检包括对各仪器与标准仪器...

【专利技术属性】
技术研发人员：范巍，侯羿，
申请(专利权)人：四川华拓光通信股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51