通过共同优化逻辑核块和存储器冗余来实现面积减小的技术制造技术
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开内容总体上涉及半导体器件的设计，并且更具体地涉及用于通过共同优化逻辑核块和存储器冗余来实现面积减小的技术以及由此产生的结构。
技术介绍
嵌入式静态随机存取存储器(SRAM)被用作半导体器件(例如微处理器)中的高速缓存存储器并且被用作专用集成电路(IC)中的通用存储器。这些器件通过具有嵌入式存储器阵列来接收显著的性能增强，与利用外部存储器器件相反，但以例如管芯空间为代价。典型的管芯例如可以被配置有很多嵌入式SRAM阵列。这些和其它类型的存储器阵列包括被组织成行和列的数百万个可寻址存储单元(位)并不罕见。在每个阵列中的位的数量增加有缺陷的位的机会，并且因此增加管芯在制造之后变得不稳定的可能性。由于这个原因，制造准则规定：冗余应被构建到每个存储器阵列中，以便于维持可接受的产量。冗余主要通过每个阵列来实现，每个阵列具有一些数量的备用行和列来代替有缺陷的行和列。这种类型的冗余典型地被称为随机存取存储器(RAM)冗余或冗余存储器。存储器冗余倾向于增加阵列尺寸以对备用件负责，这在存在嵌入管芯内的很多或不寻常地小的或不完整的存储器阵列时是特别成问题的。在一些情况下，例如当...
【技术保护点】
一种系统，包括：存储器；处理器，其耦合到所述存储器并且被配置为：接收全局过程参数，所述全局过程参数包括至少一个子部件和对应的缺陷密度；接收设计特性，所述设计特性包括基于冗余构造和所述至少一个子部件的管芯组成；并且基于所述全局过程参数和所述设计特性来计算一个或多个产量值；其中，所述一个或多个产量值基于包括一个或多个备用核并且在所述管芯的冗余核区中无冗余存储器的所述管芯组成。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种系统，包括：存储器；处理器，其耦合到所述存储器并且被配置为：接收全局过程参数，所述全局过程参数包括至少一个子部件和对应的缺陷密度；接收设计特性，所述设计特性包括基于冗余构造和所述至少一个子部件的管芯组成；并且基于所述全局过程参数和所述设计特性来计算一个或多个产量值；其中，所述一个或多个产量值基于包括一个或多个备用核并且在所述管芯的冗余核区中无冗余存储器的所述管芯组成。2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述管芯组成定义具有N个冗余核的冗余核区，并且所述一个或多个产量值是包括第一产量值和第二产量值的多个产量值，并且其中，所述处理器被配置为：基于被配置有第一百分比的冗余存储器的每个冗余核来确定所述第一产量值；基于所述N个冗余核中的被配置为备用核的一个或多个核来确定所述第二产量值，其中，每个冗余核被配置有小于所述第一百分比的冗余存储器的第二百分比的冗余存储器；并且将所述第一产量值与所述第二产量值进行比较以确定所述第一产量值和所述第二产量值是否处于预定容限内；其中，所述处理器还被配置为：基于在制造具有包括所述第一百分比的冗余存储器的组成的管芯所需的面积与制造具有包括所述第二百分比的冗余存储器的组成的管芯所需的面积之间的差异来确定管芯面积减小百分比。3.一种计算机程序产品，包括在其上进行非暂态编码的多个指令，所述指令在被执行时使处理器：接收全局过程参数，所述全局过程参数包括至少一个子部件和对应的缺陷密度；接收设计特性，所述设计特性包括基于冗余构造和所述至少一个子部件的管芯组成；并且基于所述全局过程参数和所述设计特性来计算一个或多个产量值。其中，所述一个或多个产量值基于包括至少一个备用核并且在所述管芯的冗余核区中无冗余存储器的所述管芯组成。4.根据权利要求3所述的计算机程序，其中，所述管芯组成定义具有N个冗余核的冗余核区，并且所述一个或多个产量值是包括第一产量值和第二产量值的多个产量值，并且其中，所述指令使所述处理器：基于被配置有第一百分比的冗余存储器的每个冗余核来确定所述第一产量值；基于所述N个冗余核中的被配置为备用核的至少一个核来确定所述第二产量值，其中，每个冗余核被配置有小于所述第一百分比的冗余存储器的第二百分比的冗余存储器；并且将所述第一产量值与所述第二产量值进行比较以确定所述第一产量值和所述第二产量值是否处于预定容限内；其中，所述指令还使所述处理器：基于在...
【专利技术属性】
技术研发人员：S·E·布加扎利，A·高希，N·戈埃尔，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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