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一种千分尺制造技术

技术编号:14578020 阅读:66 留言:0更新日期:2017-02-08 01:00
本实用新型专利技术公开了一种千分尺,包括固定套筒(1)和微分筒(2),在所述固定套筒(1)上设置有轴向的零线(11),其特征在于:在所述固定套筒(1)上设置有能够提高精度的刻度单元;所述刻度单元包括设置在所述固定套筒(1)上的轴向刻度线。采用本实用新型专利技术的千分尺能够提高精度且避免误读。

【技术实现步骤摘要】

:本技术涉及一种千分尺,尤其涉及一种旋转类千分尺。
技术介绍
:千分尺作为一种精密量具,广泛运用于各种需要测量的场合中。目前,市场上销售的及工厂中使用的千分尺均包括固定套筒及微分筒,在所述套筒上设置有两排刻度,其中上排刻度每一个为1mm,下排刻度的刻线分设在上排刻度的每一个中间,所以上排刻度之间相邻两刻线相差1mm,下排刻度的每一条刻线与其相邻的上牌刻度的刻线之间相差0.5mm,在微分筒的圆周上设置有50等分的刻度线,微分筒每旋转一周即在轴线移动0.5mm,所以微分筒每旋转一格即在轴向移动0.5/50=0.01mm。在测量的时候,将被测量物体置于测微螺杆与测砧之间,转动微分筒,使得被测物体与测微螺杆和测砧接触,并且调节微调旋钮,避免产生过大压力又可使测量结果精确。调整完毕以后开始读数,首先先读固定套筒上的上排刻度,再度下排刻度,若下排刻度线露出则记做0.5mm,若下排刻度线未露出则记做0.0mm;然后再读微分筒上的可动刻度,记做nx0.01mm,将固定套筒上的固定刻度加上微分筒上的可动刻度即是被测物体的最终尺寸,其精度可达到0.01mm,另外在读微分筒上的刻度是需进行估读,最终读数的单位为0.001mm。但是,即使现有的千分尺已经能够达到了0.01mm的精度,但是有时候需要更高精度的测量时,千分尺却无法满足,且在使用千分尺进行估读时也容易发生误差。另外,现有的千分尺在读数过程中普遍存在的一个问题,即工作人员常常会出现r>看不清固定套筒上的上排刻度线和下排刻度线与微分筒边缘的位置,从而导致误读,使得测量结果出现0.5mm的误差,而0.5mm的误差足以导致被测物体的报废,进而使得制造者损失巨大。
技术实现思路
:本技术的目的在于提供一种精度更高的千分尺(包括内径、外径及深度千分尺)。为了实现上述目的,本技术是这样实现的:一种千分尺,包括固定套筒和微分筒,在所述固定套筒上设置有轴向的零线,在所述固定套筒上设置有能够提高精度的刻度单元。采用这种方式能够提高现有的千分尺的精度。优选地,所述刻度单元包括设置在所述固定套筒上的轴向刻度线。所述轴向刻度线能够通过与所述微分筒上的刻度相匹配从而提高所述千分尺的精度。为了进一步提高精度,所述轴向刻度线包括与所述零线周向间距为3.6°的刻度线L。为了进一步提高精度,所述轴向刻度线还包括与所述刻度线L周向间距为1.8°的刻度线M,且所述刻度线M与所述零线分设在所述刻度线L的两侧。为了进一步提高精度,所述轴向刻度线还包括与所述刻度线M周向间距为0.9°的刻度线N,且所述刻度线N与所述刻度线L分设在所述刻度线M的两侧。为了进一步避免误读,所述轴向刻度线与所述零线之间通过扩大角进行扩大。优选地,所述零线与所述刻度线L之间的扩大角度为3.6°的偶数倍,所述刻度线M与所述零线之间的扩大角度为1.8°的偶数倍,所述刻度线N与所述零线之间的扩大角度为0.9°的偶数倍。为了进一步避免误读,所述微分筒旋转一周即沿轴向移动1mm。采用上述技术方案所述的千分尺,不会产生误读,因为微分筒旋转一周即轴向移动1mm,且所述固定套筒上的刻度线的测量精度为1mm,即最小格为1mm。这样就不会因为误读而产生半毫米的误差了。为了进一步避免误读,在所述微分筒的圆周上设置有50等分的刻度线。微分筒的圆周上设置有50等分的刻度线,这样就不会由于看错固定套筒或者微分筒上的刻度而发生误读了。采用本技术的千分尺,具有以下有益效果:1:能够提高测量精度;在所述固定套筒上设置的轴向刻度线,根据所述微分筒上的刻度线与所述轴向刻度线的匹配关系,能够提高所述千分尺的精度。2:能够避免误读;首先本技术去掉了现有的常规的千分尺上的下排半毫米刻度线,然后本技术将所述微分筒上的刻度设置为50等分,这样使用千分尺的工作人员就不会因为刻度线之间的间距过于小从而导致误读了。附图说明:图1为本技术实施例1的结构图;图2为图1的放大图A;图3为本技术实施例2的结构图;图4为图3的放大图B;图5为本技术实施例3的结构图;图6为图5的放大图C;图7为本技术实施例4的结构图;图8为图7的放大图D;图9为本技术实施例5的结构图。标号说明:1.固定套筒;11.零线;2.微分筒;3刻度线L;4.刻度线M;5.刻度线N。具体实施方式:下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明,但本技术并不局限于这些实施方式,任何在本实施例基本精神上的改进或代替,仍属于本技术权利要求所要求保护的范围。实施例1:如图1和图2所示,一种千分尺,包括固定套筒1和微分筒2,在所述固定套筒1上设置有轴向的零线11,并且在所述固定套筒1上设置有能够提高精度的刻度单元,所述刻度单元包括设置在所述固定套筒1上的轴向刻度线,所述轴向刻度线为与所述零线11周向间距为3.6°的刻度线L。本实施例的千分尺的固定套筒1上的最小一格代表0.5mm,微分筒2的圆周上设置了50等分的刻度,每一小格代表0.01mm;刻度线L3能够使得所述千分尺的精度达到0.005mm。在测量的时候,将被测量物体置于测微螺杆与测砧之间,转动微分筒2,使得被测物体与测微螺杆和测砧接触,并且调节微调旋钮,以避免产生过大压力又可使测量结果精确。调整完毕以后开始读数,首先先读固定套筒1上的刻度,然后再读微分筒2上转过所述固定套筒1上的最后一根刻度线对应的刻度,最后比较零线11与刻度线L3,观察哪一根线与微分筒2上的刻度线更接近,若零线1更接近则读到0.01位,若刻度线L3更接近,则读到0.005mm位。在本实施例中,所述刻度线L3设置在所述零线11的下端;当然,所述刻度线L3也可设置在所述零线11的上端。本实施例的千分尺是用于测量内径的千分尺,当然也可用于测量外径的千分尺或者用于测量深度的千分尺。实施例2:如图3和图4所示,一种千分尺,包括固定套筒1和微分筒2,在所述固定套筒1上设置有轴向的零线11及刻度线,所述微分筒2旋转一周即沿轴向移动1mm,在所述微分筒2的圆周上设置有50等分的刻度线。另外,在所述固定套筒1上设置有能够提高精度的刻度单元,所述刻度单元包括设置在所述固定套筒1上的轴向刻度线,所述轴线刻度线包括刻度线L3,所述刻度线L3设置在所述零线11的上端且与所述零线11的周向间距为3.6°,本实施例的千分尺能够使得所述千分尺的精度达到0.01mm。在测量的时候,本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种千分尺,包括固定套筒(1)和微分筒(2),在所述固定套筒(1)上设置有轴向的零线(11),其特征在于:在所述固定套筒(1)上设置有能够提高精度的刻度单元;所述刻度单元包括设置在所述固定套筒(1)上的轴向刻度线。

【技术特征摘要】
1.一种千分尺,包括固定套筒(1)和微分筒(2),在所述固定套筒(1)上设置有轴向的零
线(11),其特征在于:在所述固定套筒(1)上设置有能够提高精度的刻度单元;所述刻度单
元包括设置在所述固定套筒(1)上的轴向刻度线。
2.如权利要求1所述的千分尺,其特征在于:所述轴向刻度线包括与所述零线(11)周向
间距为3.6°的刻度线L(3)。
3.如权利要求2所述的千分尺,其特征在于:所述轴向刻度线还包括与所述刻度线L(3)
周向间距为1.8°的刻度线M(4),且所述刻度线M(4)与所述零线(11)分设在所述刻度线L(3)
的两侧。
4.如权利要求3所述的千分尺,其特征在于:所述轴向刻度线还包括与所述刻度线M(4)
周向间距为0.9°的刻度...

【专利技术属性】
技术研发人员:田逢毅
申请(专利权)人:田逢毅
类型:新型
国别省市:重庆;50

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