【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学精密测试领域，特别涉及到一种具有望远光学系统辐射标定方法
技术介绍
在辐射定标领域，目前已经解决了具有照相光学系统的光谱测温仪在实验室内辐射标定的问题，对于具有望远光学系统的光谱测温仪主要完成相对辐射功率的校准，或在外场进行远距离的校准。对于第一种方法，只给出辐射功率相对的大小，不能准确给出辐射功率到底是多少；第二种方法在外场远距离的校准，由于受到环境光照和天气条件的影响校准精度不高。因此对于具有望远光学系统的光谱测温仪进行绝对辐射功率的校准一直是行业内的难题。
技术实现思路
本专利技术设计了一种具有望远光学系统辐射标定方法，通过对光谱功率响应函数的标定来解决长期以来具有望远光学系统光谱测温仪的辐射标定问题。本专利技术的技术方案如下：一种具有望远光学系统辐射标定方法，包括以下步骤：1）设计具有望远光学系统光谱测温仪的标准装置根据具有望远光学系统光谱测温仪的测试要求，其成像在无限远处，因此，具有望远光学系统光谱测温仪的标准装置一般由标准光源模块和光学准直系统组成，如图1所示。
【技术保护点】
一种具有望远光学系统辐射标定方法，其特征在于：包括以下步骤：1）设计具有望远光学系统光谱测温仪的标准装置根据具有望远光学系统光谱测温仪的测试要求，其成像在无限远处，因此，具有望远光学系统光谱测温仪的标准装置一般由标准光源模块和光学准直系统组成， 其中标准光源模块包括标准光源及其供电系统、光谱辐射亮度监控单元、可变光栏等，提供在光谱分布不变的情况下输出连续可调的辐射功率，光学准直系统主要由光学准直镜及其精密安装调整底座等组成，最后，标准光源的光谱功率分布和光学准直镜的光谱反射率均由计量部门进行校准；2）建立具有望远光学系统辐射标定的数学模型；根据光学成像原理和光谱辐射探测理论...
【技术特征摘要】
1.一种具有望远光学系统辐射标定方法，其特征在于：包括以下步骤：
1）设计具有望远光学系统光谱测温仪的标准装置
根据具有望远光学系统光谱测温仪的测试要求，其成像在无限远处，因此，具有望远光学系统光谱测温仪的标准装置一般由标准光源模块和光学准直系统组成，
其中标准光源模块包括标准光源及其供电系统、光谱辐射亮度监控单元、可变光栏等，提供在光谱分布不变的情况下输出连续可调的辐射功率，光学准直系统主要由光学准直镜及其精密安装调整底座等组成，最后，标准光源的光谱功率分布和光学准直镜的光谱反射率均由计量部门进行校准；
2）建立具有望远光学系统辐射标定的数学模型；
根据光学成像原理和光谱辐射探测理论可知，在标准光源的照射下达光谱测温仪的光谱功率响应函数K(λ)由下式给出：
K(λ)=Φs(λ)·ρ(λ)/[V(λ)-V0]
式中，Φs(λ)为标准光源的光谱功率，ρ(λ...
【专利技术属性】
技术研发人员：李建强，马金海，王辉，安俊鑫，赵玉清，李春，曹盼，吴明峰，李起凡，蒋光辉，宋武，
申请(专利权)人：豫西工业集团有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41
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