辐射性事件的光学检测制造技术

本发明专利技术涉及一种用于光学检测辐射性事件的相干光纤阵列。该相干光纤阵列具有圆顶状检测表面和平面输出表面。来自辐射性事件的光能在圆顶状检测表面被检测到并被传输到输出表面。当传输来自圆顶状检测的光能时，相干光纤阵列保持辐射性事件的方向性。

【技术实现步骤摘要】
检测辐射性事件的方法和光学检测系统
技术介绍
能够检测和跟踪辐射性事件，例如炮火、火箭推进式榴弹(RPG)以及来自人造抛光表面太阳反光的光学传感器封装被广泛用于军事。带有这种能力的光学传感器封装也具有民用用途。当前的传感器封装使用平的焦平面阵列跟踪辐射性事件。焦平面阵列按照直角坐标描述辐射性事件。不过辐射性事件最好按照球坐标描述。当前传感器封装未能有效地捕捉按照球坐标的辐射性事件。当前传感器封装也使用扫描装置，来获得宽范围视野和宽范围仰角。由于孔径尺寸和云台单元需要移动传感器来搜索感兴趣区域，这些传感器封装大且笨重。
技术实现思路
根据本文的实施例，一种方法包括利用相干光纤阵列来光学检测辐射性事件。相干光纤阵列具有圆顶状检测表面和平面输出表面。来自辐射性事件的光能在圆顶状检测表面被检测到并被传输到输出表面。当将来自圆顶状检测表面的光能传输到平面输出表面时，相干光纤阵列保持辐射性事件的方向性。根据本文的另一个实施例，光学检测系统包括相干光纤阵列(CFA)，具有圆顶状检测表面和平面输出表面。该CFA包括用于在检测表面聚集光能和将聚集的光能传输到输出表面的多根光纤。该系统进一步包括用于创建CFA输出本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测辐射性事件的方法，所述方法包括利用具有圆顶状检测表面和平面输出表面的相干光纤阵列光学检测来自辐射性事件的光能，电磁辐射在圆顶状检测表面被检测到并被传输到平面输出表面；其中当来自圆顶状检测表面的光能传输到平面输出表面时，相干光纤阵列保持辐射性事件的方向性。

【技术特征摘要】
2011.07.19 US 13/185,5301.一种检测辐射性事件的方法，所述方法包括利用具有圆顶状检测表面和平面输出表面的相干光纤阵列光学检测来自辐射性事件的光能，电磁辐射在圆顶状检测表面被检测到并被传输到平面输出表面；其中当来自圆顶状检测表面的光能传输到平面输出表面时，相干光纤阵列保持辐射性事件的方向性；其中所述方法进一步包括利用焦平面阵列创建相干光纤阵列输出表面的图像；以及处理图像来测量事件的球坐标，其中所述球坐标包括方位角(Θ)和仰角(Φ)。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述处理包括确定辐射性事件的形心。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述焦平面阵列的每个像素被映射到相干光纤阵列的至少一根光纤上。4.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括在所述圆顶状检测表面和所述输出表面中的一个过滤光能。5.根据权利要求4所述的方法，其中所述过滤被量身定做用于辐射性事件，所述事件是枪炮射击、火箭推进式榴弹或来自抛光的人造表面的太阳反光之中的一个。6.一种光学检测系统，其包括：具有圆顶状检测表面和平坦输出表面的相干光纤阵列即CFA，所述CFA包括用于在检测表面聚...

【专利技术属性】
技术研发人员：D·K·墨佛得，R·A·史密斯，
申请(专利权)人：波音公司，
类型：发明
国别省市：