双面图形位置相对偏差的测量设备制造技术

本发明专利技术公开了双面图形位置相对偏差的测量设备，包括台面，台面为大理石量具专用台面，其上设置有放置双面图形产品的工作台，工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机，上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点，台面的一侧设置有用于获取上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑，微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。本发明专利技术简易、快速、直接地对双面图形位置进行测量，提高测量准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量设备应用领域，尤其涉及一种双面图形位置相对偏差的测量设备。
技术介绍
目前，对于双面图形位置的测量大多采用X-RAY光透射设备进行测量或3D量测仪器进行测量，X-RAY设备因为X射线存在安全健康隐患，不利于长时间使用，并且背光量测技术的误差也比较大；而3D量测仪器成本比较高,且测量时通常只能单面测量，需对产品的不同面分别测量后再进行偏差计算，最终得出偏移量结果，操作比较繁琐。
技术实现思路
为克服上述缺点，本专利技术的目的在于提供一种双面图形位置相对偏差的测量设备，已达到简易、快速、直接地对双面图形位置进行测量，提高测量准确性的目的。为了解决上述技术问题，本专利技术提供双面图形位置相对偏差的测量设备，包括台面，所述台面为大理石量具专用台面，其上设置有放置双面图形产品的工作台，所述工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机，所述上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点，所述台面的一侧设置有用于获取所述上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑，所述微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。本文档来自技高网...

【技术保护点】
双面图形位置相对偏差的测量设备，包括台面，其特征在于：所述台面为大理石量具专用台面，其上设置有放置双面图形产品的工作台，所述工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机，所述上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点，所述台面的一侧设置有用于获取所述上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑，所述微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。

【技术特征摘要】
1.双面图形位置相对偏差的测量设备，包括台面，其特征在于：所述台面为大理石量具专用台面，其上设置有放置双面图形产品的工作台，所述工作台的正上方和正下方分别设置有相配合的上CCD摄像机和下CCD摄像机，所述上CCD摄像机和下CCD摄像机实时采集预先设计在双面图形产品上、下两面图形的基准点，所述台面的一侧设置有用于获取所述上CCD摄像机和下CCD摄像机所采集的图像的微型电脑，所述微型电脑内设置有运算图形位置偏差公式的软件。2.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡茂尚，徐登峰，
申请(专利权)人：昆山昆尚电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32