一种用于测量MIMO天线方向图的定位装置制造方法及图纸

一种用于测量MIMO天线方向图的定位装置，包括支撑单元，所述支撑单元位于装置底部，使装置水平地放置在地面上；X轴平移调整台，所述X轴平移调整台位于所述支撑单元的顶部；Y轴平移调整台，所述Y轴平移调整台位于所述X轴平移调整台的顶部；剪叉式升降平台，所述剪叉式升降平台位于所述Y轴平移调整台的顶部；Z轴旋转台，所述Z轴旋转台位于所述剪叉式升降平台的顶部；天线轴向旋转机构，所述天线轴向旋转机构位于所述Z轴旋转台的顶部。本发明专利技术能够从各个维度对天线进行调节，通过本发明专利技术的装置测量得到的方向图精度更高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测量MIMO天线方向图的定位装置。
技术介绍
现有技术没有专门用于测量MIMO天线方向图的定位装置，现有技术一般采用固定天线的转台，这样的转台结构较为简单且测量精度不高。
技术实现思路
为克服现有技术的不足，本专利技术提供一种用于测量MIMO天线方向图的定位装置。本专利技术提供的技术方案为：一种用于测量MIMO天线方向图的定位装置，包括支撑单元，所述支撑单元位于装置底部，使装置水平地放置在地面上；X轴平移调整台，所述X轴平移调整台位于所述支撑单元的顶部；Y轴平移调整台，所述Y轴平移调整台位于所述X轴平移调整台的顶部；剪叉式升降平台，所述剪叉式升降平台位于所述Y轴平移调整台的顶部；Z轴旋转台，所述Z轴旋转台位于所述剪叉式升降平台的顶部；天线轴向旋转机构，所述天线轴向旋转机构位于所述Z轴旋转台的顶部；其中，所述X轴平移调整台和Y轴平移调整台用于调整所述天线轴向旋转机构的水平位置，所述剪叉式升降平台用于调整所述天线轴向旋转机构的竖直高度，所述Z轴旋转台用于使所述天线轴向旋转机构以竖直方向为轴进行轴向旋转；所述天线轴向旋转机构用于使MIMO天线位于垂直于水平面的面内进行旋本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量MIMO天线方向图的定位装置，其特征在于：包括支撑单元，所述支撑单元位于装置底部，使装置水平地放置在地面上；X轴平移调整台，所述X轴平移调整台位于所述支撑单元的顶部；Y轴平移调整台，所述Y轴平移调整台位于所述X轴平移调整台的顶部；剪叉式升降平台，所述剪叉式升降平台位于所述Y轴平移调整台的顶部；Z轴旋转台，所述Z轴旋转台位于所述剪叉式升降平台的顶部；天线轴向旋转机构，所述天线轴向旋转机构位于所述Z轴旋转台的顶部；其中，所述X轴平移调整台和Y轴平移调整台用于调整所述天线轴向旋转机构的水平位置，所述剪叉式升降平台用于调整所述天线轴向旋转机构的竖直高度，所述Z轴旋转台用于使所述天线轴向旋转...

【技术特征摘要】
1.一种用于测量MIMO天线方向图的定位装置，其特征在于：包括支撑单元，所述支撑单元位于装置底部，使装置水平地放置在地面上；X轴平移调整台，所述X轴平移调整台位于所述支撑单元的顶部；Y轴平移调整台，所述Y轴平移调整台位于所述X轴平移调整台的顶部；剪叉式升降平台，所述剪叉式升降平台位于所述Y轴平移调整台的顶部；Z轴旋转台，所述Z轴旋转台位于所述剪叉式升降平台的顶部；天线轴向旋转机构，所述天线轴向旋转机构位于所述Z轴旋转台的顶部；其中，所述X轴平移调整台和Y轴平移调整台用于调整所述天线轴向旋转机构的水平位置，所述剪叉式升降平台用于调整所述天线轴向旋转机构的竖直高度，所述Z轴旋转台用于使所述天线轴向旋转机构以竖直方向为轴进行轴向旋转；所述天线轴向旋转机构用于使MIMO天线位于垂直于水平面的面内进行旋转。2.根据权利要求1所述的用于测量MIMO天线方向图的定位装置，其特征在于：所述X轴平移调整台和Y轴平移调整台的结构相同且在水平面的移动方向相互垂直。3.根据权利要求2所述的用于测量MIMO天线方向图的定位装置，其特征在于：所述X轴平移调整台的底部固定在所述支撑单元顶部，所述X轴平移调整台上包括X轴滑动丝杠，所述X轴滑动丝杠的一端通过轴控电机控制其转动，所述X轴滑动丝杠带动X轴平移调整台的顶部平台沿X轴方向运动；所述Y轴平移调整台的底部固定在所述滑动丝杠带动X轴平移调整台的顶部平台上，所述Y轴平移调整台上包括Y轴滑动丝杠，所述Y轴滑动丝杠的一端通过轴控电机控制其转动，所述Y轴滑动丝杠带动Y轴平移调整台的顶部平台沿Y轴方向运动。4.根据权利要求1所述的用于测量MIMO天线方向图的定位装置，其特征在于：所述剪叉式升降平台包...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘君荣，刘子瑜，
申请(专利权)人：广州赛宝计量检测中心服务有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44