本申请实施例了提供一种用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置，该用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置包括：DFB光源用于提供第一光信号。SLD/SLED光源用于提供第二光信号。第一光开关其中一端耦接DFB光源。第一程控光衰减器其中一端耦接第一光开关的另一端。第二光开关其中一端耦接SLD/SLED光源。第二程控光衰减器其中一端通过消偏光纤耦接第二光开关的另一端。光合束器其中一端耦接第一程控光衰减器的另一端和第二程控光衰减器的另一端。起偏器的输入端用于耦接光合束器的另一端，起偏器的输出端用于光输出。本申请实施例的技术方案可以输出PDL值在（0.1~20）dB连续可调的目标混合光，且目标混合光PDL值的精度优于0.1dB。且目标混合光PDL值的精度优于0.1dB。且目标混合光PDL值的精度优于0.1dB。
【技术实现步骤摘要】
用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置
[0001]本申请实施例涉及光学测量领域
，尤其涉及一种用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置。
技术介绍
[0002]随着光纤通信的迅速发展，光无源器件的使用逐渐增多。而偏振依赖损耗（PDL）是衡量光无源器件好坏的重要指标。PDL可以通过PDL测试仪进行测量。然而，在计量（校准）PDL测试仪时，通过PDL标准件产生的PDL值的范围较小，而PDL测试仪的测量范围一般较大，标准件的PDL值不能覆盖PDL测试仪的范围。
[0003]需要说明的是，上述内容并不必然是现有技术，也不用于限制本申请的专利保护范围。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置，以解决或缓解上面提出的一项或更多项技术问题。
[0005]本申请实施例的一个方面提供了一种用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置，所述装置包括：DFB光源，用于提供第一光信号；SLD/SLED光源，用于提供第二光信号；第一光开关，其中一端耦接DFB光源，用于控制DFB光源的通断；第一程控光衰减器，其中一端耦接所述第一光开关的另一端，用于控制DFB光源的输出功率；第二光开关，其中一端通过消偏光纤耦接SLD/SLED光源，用于控制SLD/SLED光源的通断；第二程控光衰减器，其中一端耦接第二光开关的另一端，用于控制SLD/SLED光源的输出功率；光合束器，其中一端耦接第一程控光衰减器的另一端和第二程控光衰减器的另一端；起偏器，起偏器的输入端用于耦接光合束器的另一端，起偏器的输出端用于光输出；其中，第一光信号经由第一光开关进入第一程控光衰减器，第一程控光衰减器对第一光信号进行调整并将调整后的第一光信号输出给光合束器；第二光信号经过消偏光纤消偏并经由第二光开关进入第二程控光衰减器，第二程控光衰减器对消偏后的第二光信号进行调整并将调整后的第二光信号输出给光合束器；光合束器将调整后的第一光信号和调整后的第二光信号合成为单路混合光； 起偏器调整单路混合光的偏振状态；单路混合光经过起偏器调整偏振状态后得到目标混合光，目标混合光用于输出至PDL测试仪，以使PDL测
试仪根据目标混合光测量实际PDL值，所述实际PDL值用于确定PDL测试仪的误差。
[0006]可选地，还包括：驱动电路，分别耦合 DFB光源和SLD/SLED光源，为DFB光源和SLD/SLED光源提供直流电流，以使DFB光源和SLD/SLED光源进行光电转换。
[0007]可选地，还包括：温度控制电路，分别耦合 DFB光源和SLD/SLED光源，用于控制DFB光源和SLD/SLED光源均工作在预设恒定温度下。
[0008]可选地，所述温度控制电路包括半导体恒温装置。
[0009]可选地，还包括：偏振控制器，耦合起偏器的输出端，用于扰偏目标混合光；光功率计，耦合偏振控制器，用于测量扰偏后的目标混合光的功率，以获取功率最大值和功率最小值。
[0010]可选地，溯源PDL值根据所述功率最大值和所述功率最小值计算得到。
[0011]可选地，第一光开关通信耦合计算机设备，并用于接收计算机设备的指令控制通断；第二光开关通信耦合计算机设备，并用于接收计算机设备的指令控制通断。
[0012]可选地，第一程控光衰减器通信耦合计算机设备，并用于接收计算机设备的指令控制第一光信号的输出功率；第二程控光衰减器通信耦合计算机设备，并用于接收计算机设备的指令控制第二光信号的输出功率。
[0013]可选地，所述目标混合光对应的模拟PDL值通过以下操作得到：根据第一程控光衰减器调整后的第一光信号的输出功率和第二程控光衰减器调整后的第二光信号的输出功率，计算模拟PDL值；其中模拟PDL值用于提供校准参考值。
[0014]本申请实施例采用上述技术方案可以包括如下优势：DFB光源发出的第一光信号依次经由第一光开关、第一程控光衰减器进入至光合束器。SLD/SLED光源发出的第二光信号依次经由消偏光纤、第二光开关、第二程控光衰减器进入至光合束器。光合束器将来自第一程控光衰减器和第二程控光衰减器的第一光信号、第二光信号合成为单路混合光，并将单路混合光输入至起偏器，经过起偏器调整偏振状态后得到目标混合光。可知，在本技术方案中可以根据第一光开关和第二光开关控制光源，同时通过第一程控光衰减器和第二程控光衰减器各光源的光输出功率，因此，可以实现单路或混合光的PDL调整。在实际应用中，输出的目标混合光PDL值在（0.1~20）dB连续可调，且目标混合光输出PDL值的精度优于0.1dB。
附图说明
[0015]附图示例性地示出了实施例并且构成说明书的一部分，与说明书的文字描述一起用于讲解实施例的示例性实施方式。所示出的实施例仅出于例示的目的，并不限制权利要求的范围。在所有附图中，相同的附图标记指代类似但不一定相同的要素。
[0016]图1示意性示出了根据本申请实施例一的用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置的结构示意图；
图2示意性示出了根据本申请实施例一的偏振依赖损耗测试仪的校准流程图；图3示意性示出了根据本申请实施例一的偏振依赖损耗测试仪校准装置的溯源流程图。
具体实施方式
[0017]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0018]需要说明的是，在本申请实施例中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。
[0019]在本申请的描述中，需要理解的是，步骤前的数字标号并不标识执行步骤的前后顺序，仅用于方便描述本申请及区别每一步骤，因此不能理解为对本申请的限制。
[0020]首先，提供本申请涉及的术语解释：偏振依赖损耗（Polarization
‑
dependent loss，PDL）：用于描述光信号在传输过程中受到不同偏振态影响而引起的损耗。
[0021]偏振依赖损耗（PDL）测试仪：用于测量光纤、光学器件或光学系统中的偏振依赖损耗的仪器设备。
[0022]PDL源（PDL Source）：用于产生偏振依赖损耗（PDL）的信号源。
[0023]PDL标准件（PDL Standard）：用于校准和验证偏振依赖损耗（PDL）测量设备的参考器件。
[0024]DFB光源（Distributed Feedback Laser Source）：一种基于分布本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于偏振依赖损耗测试仪的校准装置，其特征在于，包括：DFB光源，用于提供第一光信号；SLD/SLED光源，用于提供第二光信号；第一光开关，其中一端耦接DFB光源，用于控制DFB光源的通断；第一程控光衰减器，其中一端耦接所述第一光开关的另一端，用于控制DFB光源的输出功率；第二光开关，其中一端通过消偏光纤耦接SLD/SLED光源，用于控制SLD/SLED光源的通断；第二程控光衰减器，其中一端耦接第二光开关的另一端，用于控制SLD/SLED光源的输出功率；光合束器，其中一端耦接第一程控光衰减器的另一端和第二程控光衰减器的另一端；起偏器，起偏器的输入端用于耦接光合束器的另一端，起偏器的输出端用于光输出；其中，第一光信号经由第一光开关进入第一程控光衰减器，第一程控光衰减器对第一光信号进行调整并将调整后的第一光信号输出给光合束器；第二光信号经过消偏光纤消偏并经由第二光开关进入第二程控光衰减器，第二程控光衰减器对消偏后的第二光信号进行调整并将调整后的第二光信号输出给光合束器；光合束器将调整后的第一光信号和调整后的第二光信号合成为单路混合光；起偏器调整单路混合光的偏振状态；单路混合光经过起偏器调整偏振状态后得到目标混合光，目标混合光用于输出至偏振依赖损耗PDL测试仪，以使PDL测试仪根据目标混合光测量实际PDL值，所述实际PDL值用于确定PDL测试仪的误差。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：驱动电路，分别耦合DFB光源和SLD/SLED光源，为DFB光源和SLD/SLED...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏阳，李胜海，刘鹏，黄帅，陈东，
申请(专利权)人：广州赛宝计量检测中心服务有限公司，
类型：发明
国别省市：
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