一种基带单元的测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种基带单元的测试方法及装置，其测试方法包括：接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据，并将上行基带数据转发至待测基带单元；采集待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据，并将下行基带数据转发至外部基带数据处理设备；根据上行基带数据和下行基带数据分别获取数字发射载波功率和接收宽带功率，并将数字发射载波功率和接收宽带功率上报至待测基带单元，完成测试。本发明专利技术实施例通过对上下行基带数据的转发，使得对基带单元的测试可以跳过射频处理直接接收基带数据，排除可能由射频转换引入的干扰与问题，在保证基带数据的准确性的同时直接对基带单元进行测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信
，特别涉及一种基带单元的测试方法及装置。
技术介绍
分布式基站已成为无线通信系统的主流结构，它由射频拉远单元(RadioRemoteUnit，以下简称RRU)和基带单元(BaseBandUnit，以下简称BBU)组成，分别完成基站的射频处理功能和基带处理功能。在分布式基站系统中的射频拉远单元和基带单元可以相对独立的安装及放置，它们之间通过专用的标准化接口相连。分布式基站以3GPP协议标准为基础开发，能够针对无线网络运营商的不同需求、不同环境提供无线网络的接入方案，满足各种使用情况下网络覆盖的需求。随着分布式基站的广泛使用，对分布式基站的测试方法仍然主要是在射频拉远单元侧的外部接口Uu口和基带单元侧的外部接口Iub口进行处理。Uu口测试主要是通过模拟UE或信号分析仪，从Uu口灌入上行基带数据，但总会在空口带入干扰或在射频处理时射频拉远单元引入误差；Iub口测试主要是通过模拟RNC和商用仪表发送NBAP信令进行测试。但是现有技术中并没有通过射频拉远单元与基带单元之间的接口对基带单元进行测试的方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基带单元的测试方法及装置，排除可能由射频转换引入的干扰和与问题，在保证基带数据准确性的同时直接完成对基带单元的测试。为了达到上述目的，本专利技术实施例提供一种基带单元的测试方法，包括：接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据，并将所述上行基带数据转发至所述待测基带单元；采集所述待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据，并将所述下行基带数据转发至所述外部基带数据处理设备；根据所述上行基带数据和所述下行基带数据分别获取数字发射载波功率和接收宽带功率，并将所述数字发射载波功率和接收宽带功率上报至所述待测基带单元，完成测试。其中，所述接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据，并将所述上行基带数据转发至所述待测基带单元，具体包括：通过低电压差分信号LVDS接口接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据；将所述上行基带数据转换为对应通路的上行码片级基带数据，并通过通用公共无线电CPRI接口将所述上行码片级基带数据发送至所述待测基带单元。其中，所述采集所述待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据，并将所述下行基带数据转发至所述外部基带数据处理设备，具体包括：通过CPRI接口采集所述待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据；将所述下行基带数据转换为对应通路的下行码片级基带数据，并通过LVDS接口将所述下行码片级基带数据发送至所述外部基带数据处理设备。其中，所述根据所述上行基带数据和所述下行基带数据分别获取数字发射载波功率和接收宽带功率，具体包括：通过现场可编程门阵列FPGA对所述上行基带数据进行测量，获取数字发射载波功率；通过FPGA对所述下行基带数据进行测量，获取接收宽度功率。其中，所述测试方法还包括：与所述待测基带单元的高层信令交互，使得所述待测基带单元识别射频拉远单元。其中，与所述待测基带单元之间通过拉远光纤连接。本专利技术实施例还提供一种基带单元的测试装置，其特征在于，包括：接收转发模块，用于接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据，并将所述上行基带数据转发至所述待测基带单元；采集转发模块，用于采集所述待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据，并将所述下行基带数据转发至所述外部基带数据处理设备；上报模块，用于根据所述上行基带数据和所述下行基带数据分别获取数字发射载波功率和接收宽带功率，并将所述数字发射载波功率和接收宽带功率上报至所述待测基带单元，完成测试。其中，所述接收转发模块包括：接收模块，用于通过低电压差分信号LVDS接口接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据；第一发送模块，用于将所述上行基带数据转换为对应通路的上行码片级基带数据，并通过通用公共无线电CPRI接口将所述上行码片级基带数据发送至所述待测基带单元。其中，所述采集转发模块包括：采集模块，用于通过CPRI接口采集所述待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据；第二发送模块，用于将所述下行基带数据转换为对应通路的下行码片级基带数据，并通过LVDS接口将所述下行码片级基带数据发送至所述外部基带数据处理设备。其中，所述上报模块包括：第一获取模块，用于通过现场可编程门阵列FPGA对所述上行基带数据进行测量，获取数字发射载波功率；第二获取模块，用于通过FPGA对所述下行基带数据进行测量，获取接收宽度功率。其中，所述测试装置还包括：信令交互模块，用于与所述待测基带单元的高层信令交互，使得所述待测基带单元识别射频拉远单元。其中，所述测试装置与所述待测基带单元之间通过拉远光纤连接。本专利技术的上述技术方案至少具有如下有益效果：本专利技术实施例的基带单元的测试方法及装置中，通过对上行基带数据和下行基带数据的转发，使得对基带单元的测试可以跳过射频处理直接接收基带数据，排除可能由射频转换引入的干扰与问题，在保证基带数据的准确性的同时直接对基带单元进行测试；并能够对上下行基带数据进行测量，实现数字发射载波功率和接收宽带功率的测量上报。附图说明图1表示本专利技术实施例提供的基带单元的测试装置的组成结构示意图；图2表示本专利技术实施例提供的基带单元的测试装置与待测基带单元及外部基带数据处理装置的连接关系图；图3表示应用本专利技术实施例的基带单元的测试装置时实验室环境下的大规模组网测试的连接关系图；图4表示本专利技术实施例提供的基带单元的测试方法的步骤流程图；图5表示本专利技术实施例提供的基带单元的测试装置的硬件系统组成图；图6表示本专利技术实施例提供的基带单元的测试装置的软件系统组成图；图7表示本专利技术实施例提供的基带单元的测试装置的数据物理通道原理图。具体实施方式为使本专利技术要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。本专利技术针对现有技术中对基带单元进行测试的方法会在射频处理时引入误差，影响测量的精度的问题，提供一种基带单元的测试方法及装置，通过对上行基带数据和下行基带数据的转发，使得对基带单元的测试可以跳过射频处理直接接收基带数据，排除可能由射频转换引入的干扰与问题，在保证基带数据的准确性的同时直接对基带单元进行测试；并能够对上下行基带数据进行测量，实现数字发射载波功率和接收宽带功率的测量上报。需要说明的是，本专利技术实施例提供的基带单元的测试方法是由一模拟设备执行，即与本专利技术实施例提供的基带单元的测试方法对应的测试装置是一模拟设备，进一步的，该模拟设备为一模拟射频拉远单元(SimRRU)。采用本专利技术实施例提供的模拟射频拉远单元对待测基带单元进行测试，可以方便快捷地进行实验室大规模组网测试，相对于真实射频拉远单元的体积大和笨重，采用本专利技术实施例进行组网测试更加灵活方便；且相对于真实射频拉远单元的成本，尤其是其中射频器件价格昂贵，采用本专利技术实施例提供的测量方法，可以大量节省成本。为了更清楚的描述本专利技术实施例提供的测试方法及装置，本专利技术的具体实施例中先对本专利技术实施例提供的基带单元的测试装置进行具体描述，如图1所示，本专利技术实施例提供一种基带单元的测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基带单元的测试方法，其特征在于，包括：接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据，并将所述上行基带数据转发至所述待测基带单元；采集所述待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据，并将所述下行基带数据转发至所述外部基带数据处理设备；根据所述上行基带数据和所述下行基带数据分别获取数字发射载波功率和接收宽带功率，并将所述数字发射载波功率和接收宽带功率上报至所述待测基带单元，完成测试。

【技术特征摘要】
1.一种基带单元的测试方法，其特征在于，包括：接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据，并将所述上行基带数据转发至所述待测基带单元；采集所述待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据，并将所述下行基带数据转发至所述外部基带数据处理设备；根据所述上行基带数据和所述下行基带数据分别获取数字发射载波功率和接收宽带功率，并将所述数字发射载波功率和接收宽带功率上报至所述待测基带单元，完成测试。2.根据权利要求1所述的基带单元的测试方法，其特征在于，所述接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据，并将所述上行基带数据转发至所述待测基带单元，具体包括：通过低电压差分信号LVDS接口接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据；将所述上行基带数据转换为对应通路的上行码片级基带数据，并通过通用公共无线电CPRI接口将所述上行码片级基带数据发送至所述待测基带单元。3.根据权利要求1所述的基带单元的测试方法，其特征在于，所述采集所述待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据，并将所述下行基带数据转发至所述外部基带数据处理设备，具体包括：通过CPRI接口采集所述待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据；将所述下行基带数据转换为对应通路的下行码片级基带数据，并通过LVDS接口将所述下行码片级基带数据发送至所述外部基带数据处理设备。4.根据权利要求1所述的基带单元的测试方法，其特征在于，所述根据所述上行基带数据和所述下行基带数据分别获取数字发射载波功率和接收宽带功率，具体包括：通过现场可编程门阵列FPGA对所述上行基带数据进行测量，获取数字发射载波功率；通过FPGA对所述下行基带数据进行测量，获取接收宽度功率。5.根据权利要求1所述的基带单元的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：与所述待测基带单元的高层信令交互，使得所述待测基带单元识别射频拉远单元。6.根据权利要求5所述的基带单元的测试方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭磊民，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44