X射线数据处理装置及其方法以及程序制造方法及图纸

本发明专利技术涉及X射线数据处理装置及其方法以及程序。提供一种不使用比较器等就能补正由像素阵列型的X射线检测器检测出的且受到电荷共享的影响的X射线强度的X射线数据处理装置。X射线数据处理装置根据由光子计数方式的像素阵列型的X射线检测器检测出的X射线的计数值来推定真值，其具备：管理部(210)，其接收并管理每个检测部分的检测值；有效面积率算出部(230)，其使用与检测部分相关的数据、和与射线源以及检测能量的阈值相关的数据来算出检测部分的受到电荷共享的影响的检测能力相对于原本的检测能力的比例，作为检测部分的有效面积率；和补正部(250)，其以算出的有效面积率来补正被管理的计数值，从而推定真值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及针对特定射线源的X射线强度从计数值来推定真值的X射线数据处理装置及其方法以及程序。
技术介绍
在光子计数方式的像素阵列检测器中，由于一般使用单片的传感器，因此在传感器的内部，在像素间不存在明确的边界。一般仅形成在与读出芯片连接的一侧的读出焊盘部分被形成为像素状(参考专利文献1)。由此，当载流子在相邻的像素的边界部分进行扩散时，会出现在这些像素间共有1光子份的电荷的电荷共享(chargeshare)这样的现象。以该电荷共享为原因，即使入射的X射线的强度恒定，在依赖于对各像素设定的阈值的情况下，计数有时会比原本应该的计数多，有时会比原本应该的计数少。过去，或者在忽视电荷共享的影响的情况下进行测定，或者在通过将阈值设定为适当的值而使影响成为最小限度的情况下进行测定，但在这样的方法中，不能消除电荷共享的效应。另一方面，还进行了以下研究，将要消除电荷共享所带来的影响本身的电路安装在读出芯片的像素间(参考非专利文献1)。专利文献专利文献1：JP特开2012-242111号公报专利文献2：JP特开2014-159973号公报非专利文献非专利文献1：H.-E.Nilsson，B.No本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X射线数据处理装置，根据由光子计数方式的像素阵列型的X射线检测器检测出的X射线的计数值来推定真值，其特征在于，具备：管理部，其接收并管理每个检测部分的计数值；有效面积率算出部，其使用与所述检测部分相关的数据、和与射线源以及检测能量的阈值相关的数据来算出所述检测部分的受到电荷共享的影响的检测能力相对于原本的检测能力的比例，作为所述检测部分的有效面积率；和补正部，其以算出的所述有效面积率来补正被管理的所述计数值，从而推定真值。

【技术特征摘要】
2015.06.24 JP 2015-1270431.一种X射线数据处理装置，根据由光子计数方式的像素阵列型的X射线检测器检测出的X射线的计数值来推定真值，其特征在于，具备：管理部，其接收并管理每个检测部分的计数值；有效面积率算出部，其使用与所述检测部分相关的数据、和与射线源以及检测能量的阈值相关的数据来算出所述检测部分的受到电荷共享的影响的检测能力相对于原本的检测能力的比例，作为所述检测部分的有效面积率；和补正部，其以算出的所述有效面积率来补正被管理的所述计数值，从而推定真值。2.根据权利要求1所述的X射线数据处理装置，其特征在于，所述有效面积率算出部针对各射线源以及各检测能量的阈值来算出所述有效面积率，所述补正部将算出的所述有效面积率表...

【专利技术属性】
技术研发人员：松下一之，作村拓人，中江保一，
申请(专利权)人：株式会社理学，
类型：发明
国别省市：日本;JP