数据处理装置、X射线CT装置以及参考校正方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供即使在大部分测量视角下被检体凸出到参考通道的情况下也能进行高精度参考校正的数据处理装置等，为此，X射线CT装置的图像处理装置(数据处理装置)计算出空气校准时测量得到的参考值的每单位管电流的值、即单位空气校准参考值，根据正式拍摄时的输出管电流值和单位空气校准参考值求出符合正式拍摄的X射线条件的参考值(推定参考值)，另外经校正使得正式拍摄时测量参考值以推定参考值进行标准化得到的标准化参考数据收敛于允许误差范围内，从而去除凸出的影响。

Data processing device, X ray CT device, and reference correction method

The present invention provides even in the most measurement from the perspective of the subject protruding into the reference channel condition can be carried out data processing device of high precision reference correction, therefore, the image processing device X ray CT device (data processing device) to calculate air calibration measured reference value per unit tube current value that is, the unit air calibration reference value according to the output shooting tube current value and unit air calibration reference values calculated with X rays filming reference value (presumed reference value) corrected, also take the official photo makes reference to the presumption of measurement reference value of standard reference data convergence standardization is in the allowable error range, thereby removing the effect of protruding.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】数据处理装置、X射线CT装置以及参考校正方法
本专利技术涉及数据处理装置、X射线CT装置以及参考校正方法，具体涉及通过X射线CT装置得到的测量数据的参考校正。
技术介绍
X射线CT装置从被检体的周围照射X射线，利用X射线检测器收集关于透过了被检体的X射线的强度的数据，并根据收集到的数据，将被检体内部的X射线吸收系数的分布信息图像化。从X射线CT装置的X射线源放射的X射线的强度、质量(光谱分布)随时间变动。为了对其进行补偿，针对利用X射线检测器测量得到的数据进行参考校正。参考校正时，一般使用X射线检测器两端的一到多个检测元件通道(channel)作为校正用检测元件(以下，称作参考检测器)，通过该参考检测器直接检测不透过被检体的X射线。X射线CT装置的图像处理装置(数据处理装置)以由参考检测器检测到的X射线强度为基准，校正由其他通道得到的X射线强度级别，并使用校正后的信号进行断层图像等的图像生成。但是，在被检体的体格大的情况、偏离扫描仪的旋转中心配置被检体的情况等，入射到参考检测器的X射线被被检体遮挡，有时得不到正常的参考信号。为了解决由于这样的被检体凸出导致的不良情况，将从两端的参考检测器得到的信号与预定的阈值比较，根据信号强度的大小来判定参考检测器是否被遮挡。在一端参考检测器被遮挡的情况下，仅使用另一端参考检测器的信号作为参考校正用数据，从而抑制了伪影(artifact)的显著化。另外，在专利文献1中公开了以下方法：在各测量视角监视两侧参考检测器各自的输出数据，保存作为运算对象的视角的前一视角为止的最大信号值，在输出数据低于预定阈值的情况下判定为“有凸出”，以发生凸出前的视角为止的最大信号值置换发生了凸出的测量数据。根据该方法，即使是两侧参考通道被遮挡的情况，也能适度进行参考校正。但是，在近年，拍摄代谢综合征(Metabolicsyndrome)所代表的较大型被检体并不罕见。另外，有的扫描床还能在扫描床上载着被检体向左右方向移动，有时扫描床自身也从FOV(FieldOfView：视野范围)凸出。从这样的背景出发，认为即使在扫描中的大部分测量视角产生了凸出的情况下也需要能以良好精度进行凸出校正。另外，为了提高参考校正的精度，优选使用正式拍摄时的实时X射线输出变动成分进行校正。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2003-144427号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题但是，上述专利文献1的方法中，由于利用产生了凸出的视角的前一视角为止的测量值，因此在从刚开始扫描后就产生了凸出的情况下不能校正，另外，由于置换为未凸出的测量视角的数据，因此未以实时X射线输出变动成分进行标准化。本专利技术是鉴于上述的问题点而作出的，其目的在于提供一种即使在大部分测量视角下被检体凸出到参考通道的情况下也能进行高精度参考校正的数据处理装置、X射线CT装置以及参考校正方法。用于解决课题的手段用于实现上述目的的第一专利技术为一种数据处理装置，具备：单位空气校准参考值计算部，其计算单位空气校准参考值，该单位空气校准参考值是空气校准时测量得到的参考数据、即空气校准参考值的每单位管电流的值；管电流值取得部，其取得正式拍摄时的输出管电流值；推定参考值计算部，其根据所述单位空气校准参考值和所述正式拍摄时的输出管电流值来计算推定参考值，该推定参考值是符合正式拍摄时X射线条件的参考值；标准化部，其将所述正式拍摄时测量得到的参考值、即测量参考值以所述推定参考值进行标准化，来计算标准化参考数据；校正处理部，其进行校正，使所述标准化参考数据收敛于允许误差范围内；逆标准化部，其通过以所述推定参考值对校正后的所述标准化参考数据进行逆标准化来得到修正参考数据；以及参考校正部，其取得正式拍摄时测量得到的测量数据，使用所述修正参考数据进行参考校正。第二专利技术为一种X射线CT装置，具备第一专利技术的数据处理装置。第三专利技术为一种参考校正方法，包括：数据处理装置计算单位空气校准参考值的步骤，该单位空气校准参考值是空气校准时测量得到的参考数据、即空气校准参考值的每单位管电流的值；数据处理装置取得正式拍摄时的输出管电流值的步骤；数据处理装置根据所述单位空气校准参考值和所述正式拍摄时的输出管电流值，计算符合正式拍摄时X射线条件的参考值、即推定参考值的步骤；数据处理装置将所述正式拍摄时测量得到的参考值、即测量参考值以所述推定参考值进行标准化，计算标准化参考数据的步骤；数据处理装置进行校正，使所述标准化参考数据收敛于允许误差范围内的步骤；数据处理装置将校正后的所述标准化参考数据以所述推定参考值进行逆标准化，从而得到修正参考数据的步骤；以及数据处理装置取得正式拍摄时测量得到的测量数据，使用所述修正参考数据进行参考校正的步骤。第四专利技术为一种数据处理装置，具备：单位空气校准参考值计算部，其计算单位空气校准参考值，该单位空气校准参考值是空气校准时测量得到的参考数据、即空气校准参考值的每单位管电流的值；管电流值取得部，其取得正式拍摄时的输出管电流值；推定参考值计算部，其根据所述单位空气校准参考值和所述正式拍摄时的输出管电流值来计算符合正式拍摄时的X射线条件的参考值、即推定参考值；以及参考校正部，其取得正式拍摄时测量得到的测量数据，使用所述推定参考值进行参考校正。专利技术效果根据本专利技术，能提供一种即使在大部分测量视角下被检体凸出到参考通道的情况下也能进行高精度参考校正的数据处理装置、X射线CT装置以及参考校正方法。附图说明图1是X射线CT装置1的整体结构图。图2是说明入射到参考检测器的X射线的图。图3是说明入射到参考检测器的X射线与被检体凸出的图。(a)是被检体大的情况，(b)是X射线检测器的通道数少的情况。图4是表示投影数据特征(Profile)的例子的图。(a)是无凸出的情况，(b)是单侧凸出的情况，(c)是两侧凸出的情况。图5是表示投影数据生成处理的整体处理顺序的流程图。图6是表示修正参考数据计算处理顺序的流程图。图7是表示图6所示修正参考数据计算处理各阶段中数据特征的图。图8是表示修正参考数据计算处理顺序的流程图。图9是表示图8所示修正参考数据计算处理各阶段中数据特征的图。具体实施方式以下，参照附图详细说明本专利技术的实施方式。[第一实施方式]首先，说明本专利技术涉及的X射线CT装置1。图1是表示X射线CT装置1的整体结构的图。如图1所示，X射线CT装置1具备扫描机架部100、扫描床105、以及操作台120。扫描机架部100是对被检体照射X射线并检测透过了被检体的X射线的装置。操作台120是控制扫描机架部100的各部分并取得由扫描机架部100测量得到的透过X射线数据(测量数据)，从而根据测量数据进行被检体断层图像等图像生成的装置。扫描床105是被检体躺在其上从而将被检体相对于扫描机架部100的X射线照射范围搬入、搬出的装置。扫描机架部100具备X射线源101、转盘102、准直仪103、X射线检测器106、参考检测器107L、参考检测器107R、数据收集装置108、机架控制装置109、扫描床控制装置110、X射线控制装置111、管电流测量装置112、以及高电压发生装置113。操作台120具备输入装置121、图像处理装置122、存储装置123、系统控制装置124、以及显示装置125。扫描机架部100本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种数据处理装置，其特征在于，具备：单位空气校准参考值计算部，其计算单位空气校准参考值，该单位空气校准参考值是空气校准时测量得到的参考数据、即空气校准参考值的每单位管电流的值；管电流值取得部，其取得正式拍摄时的输出管电流值；推定参考值计算部，其根据所述单位空气校准参考值和所述正式拍摄时的输出管电流值来计算推定参考值，该推定参考值是符合正式拍摄时X射线条件的参考值；标准化部，其将所述正式拍摄时测量得到的参考值、即测量参考值以所述推定参考值进行标准化，来计算标准化参考数据；校正处理部，其进行校正，使所述标准化参考数据收敛于允许误差范围内；逆标准化部，其通过以所述推定参考值对校正后的所述标准化参考数据进行逆标准化来得到修正参考数据；以及参考校正部，其取得正式拍摄时测量得到的测量数据，使用所述修正参考数据进行参考校正。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.10.22 JP 2014-2151121.一种数据处理装置，其特征在于，具备：单位空气校准参考值计算部，其计算单位空气校准参考值，该单位空气校准参考值是空气校准时测量得到的参考数据、即空气校准参考值的每单位管电流的值；管电流值取得部，其取得正式拍摄时的输出管电流值；推定参考值计算部，其根据所述单位空气校准参考值和所述正式拍摄时的输出管电流值来计算推定参考值，该推定参考值是符合正式拍摄时X射线条件的参考值；标准化部，其将所述正式拍摄时测量得到的参考值、即测量参考值以所述推定参考值进行标准化，来计算标准化参考数据；校正处理部，其进行校正，使所述标准化参考数据收敛于允许误差范围内；逆标准化部，其通过以所述推定参考值对校正后的所述标准化参考数据进行逆标准化来得到修正参考数据；以及参考校正部，其取得正式拍摄时测量得到的测量数据，使用所述修正参考数据进行参考校正。2.根据权利要求1所述的数据处理装置，其特征在于，该数据处理装置进一步具备去除所述输出管电流值的噪声的噪声去除部，所述推定参考值计算部使用去除噪声后的所述输出管电流值来计算所述推定参考值。3.根据权利要求1所述的数据处理装置，其特征在于，所述标准化部进行如下处理：以在视角方向对所述测量参考值进行积分得到的积分值来对所述测量参考值进行标准化，由此求得单位测量参考值，以在视角方向对所述推定参考值进行积分得到的积分值来对所述推定参考值进行标准化，由此求得单位推定参考值，通过将所述单位测量参考值以所述单位推定参考值进行标准化来计算所述标准化参考数据。4.根据权利要求1所述的数据处理装置，其特征在于，所述测量参考值以及所述推定参...

【专利技术属性】
技术研发人员：后藤大雅，高桥悠，广川浩一，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，
类型：发明
国别省市：日本,JP