一种误差校准方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种误差校准方法及装置，应用于定位系统。其中，所述误差校准方法包括：获取预设个数的第一采样点的坐标信息；计算所述预设个数的第一采样点的横坐标的样本平均值作为当前最优定位点的横坐标，计算所述预设个数的第一采样点的纵坐标的样本平均值作为当前最优定位点的纵坐标；将所述当前最优定位点的横坐标和纵坐标作为校准后的当前定位坐标。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及定位
，具体而言，涉及一种应用于定位系统的误差校准方法及装置。
技术介绍
定位技术的应用十分广泛，已经渗透到每个人的日常生活。然而如何减小定位信息与真实位置信息之间的误差，仍然是一个急需解决的问题。现有的定位系统通常采用数字图像处理领域的滤波技术减小误差，但上述方式计算复杂，数据存储量大，实现成本较高。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种误差校准方法及装置，以解决上述问题。为了达到上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案如下：本专利技术实施例提供一种误差校准方法，应用于定位系统，所述方法包括：针对所需定位的目标，获取预设个数的第一采样点的坐标信息；计算所述预设个数的第一采样点的横坐标的样本平均值作为当前最优定位点的横坐标，计算所述预设个数的第一采样点的纵坐标的样本平均值作为当前最优定位点的纵坐标；将所述当前最优定位点的横坐标和纵坐标作为所需定位的目标校准后的当前定位坐标。本专利技术另一实施例还提供一种误差校准装置，应用于定位系统，所述误差校准装置包括：第一采样模块，用于针对所需定位的目标，获取预设个数的第一采样点的坐标信息；计算模块，用于计算所述预设个数的第一采样点的横坐标的样本平均值作为当前最优定位点的横坐标，还用于计算所述预设个数的第一采样点的纵坐标的样本平均值作为当前最优定位点的纵坐标；校准模块，用于将所述当前最优定位点的横坐标和纵坐标作为所需定位的目标校准后的当前定位坐标。本专利技术实施例提供的误差校准方法及装置将多个采样点的坐标的样本平均值作为校准后的定位坐标，利用误差自身的随机性使误差在求所述采样点的坐标平均值的过程中被抵消，以使校准后的定位坐标更加接近真实的位置。上述方法在保证校准效果的基础上，降低了计算复杂度和实现难度，减小了存储数据量。附图说明为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1为本专利技术较佳实施例提供的一种定位系统的方框示意图。图2为本专利技术较佳实施例提供的误差校准方法的流程图。图3为本专利技术较佳实施例提供的步骤S102包括的子步骤的示意图。图4为本专利技术较佳实施例提供的一种步骤S120包括的子步骤的示意图。图5为本专利技术较佳实施例提供的另一种步骤S120包括的子步骤的示意图。图6为本专利技术较佳实施例提供的步骤S140包括的子步骤的示意图。图7为本专利技术较佳实施例提供的误差校准装置的连接框图。图8为本专利技术较佳实施例提供的一种速度计算子模块的连接框图。图9为本专利技术较佳实施例提供的另一种速度计算子模块的连接框图。附图标记：100-定位系统，101-存储器，102-存储控制器，103-处理器，104-外设接口，105-输入输出单元，106-检测组件；200-误差校准装置；210-第一采样模块，211-速度计算子模块，2111-第二采样单元，2112-第一计算单元，2113-第三采样单元，2114-第二计算单元，212-采样点调整子模块，2121-判断单元，2122-查询单元，2123-采样点设定单元；220-计算模块；230-校准模块。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本专利技术的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。如图1所示，是本专利技术较佳实施例提供的定位系统100的方框示意图。所述定位系统100包括误差校准装置200、存储器101、存储控制器102、处理器103、外设接口104、输入输出单元105以及检测组件106。所述存储器101存储控制器102、处理器103、外设接口104、输入输出单元105以及检测组件106各元件相互之间直接或间接地电性连接，以实现信号的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。所述误差校准装置200包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于所述存储器101中的软件功能模块。所述处理器103用于执行存储器101中存储的可执行模块，例如所述误差校准装置200包括的软件功能模块或计算机程序。其中，存储器101可以是，但不限于，随机读取存储器(RandomAccessmemory，RAM)，只读存储器(ReadOnlyMemory，ROM)，可编程只读存储器(ProgrammableRead-OnlyMemory，PROM)，可擦除只读存储器(ErasableProgrammableRead-OnlyMemory，EPROM)，电可擦除只读存储器101(ElectricErasableProgrammableRead-OnlyMemory，EEPROM)等。其中，存储器101用于存储程序，所述处理器103在接收到执行指令后，执行所述程序，本专利技术实施例任一实施方式所揭示的流程定义的方法可以应用于处理器103中，或者由处理器103实现。处理器103可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。上述处理器103可以是通用处理器，包括中央处理器(CentralProcessingUnit，简称CPU)、网络处理器(NetworkProcessor，简称NP)等。还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现成可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本专利技术实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。所述外设接口104将各种输入/输出装置耦合至处理器103以及存储器101。在一些实施例中，外设接口104，处理器103以及存储控制器102可以在单个芯片中实现。在其他一些实例中，他们可以分别由独立的芯片实现。可以理解，图1所示的结构仅为示意，定位系统100还可以包括比图1中所示更多或者更少的组件，或者具有与图1所示不同的配置。图1所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。图2是本专利技术实施例提供的一种误差校准方法的流程图，该方法应用于上述定位系统100。下面将对图2所示的具体流程和步骤进行详细阐述。步骤S102，获取预设个数的第一采样点的坐标信息。本实施例中，定位系统100在对运动目标的定位数据中获取一定数量的第一采样点的坐标信息，用于计算当前最优定位点的坐标。其中，所述第一采样点的个数预先在所述定位系统100中进行设本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种误差校准方法，应用于定位系统，其特征在于，所述方法包括：针对所需定位的目标，获取预设个数的第一采样点的坐标信息；计算所述预设个数的第一采样点的横坐标的样本平均值作为当前最优定位点的横坐标，计算所述预设个数的第一采样点的纵坐标的样本平均值作为当前最优定位点的纵坐标；将所述当前最优定位点的横坐标和纵坐标作为所述所需定位的目标校准后的当前定位坐标。

【技术特征摘要】
1.一种误差校准方法，应用于定位系统，其特征在于，所述方法包括：针对所需定位的目标，获取预设个数的第一采样点的坐标信息；计算所述预设个数的第一采样点的横坐标的样本平均值作为当前最优定位点的横坐标，计算所述预设个数的第一采样点的纵坐标的样本平均值作为当前最优定位点的纵坐标；将所述当前最优定位点的横坐标和纵坐标作为所述所需定位的目标校准后的当前定位坐标。2.根据权利要求1所述的误差校准方法，其特征在于，所述获取预设个数的第一采样点的坐标信息的步骤，包括：计算当前运动速度；根据所述当前运动速度按预设规则调整所述预设个数，其中，所述预设个数与所述当前运动速度成反比。3.根据权利要求2所述的误差校准方法，其特征在于，所述计算当前运动速度的步骤，包括：获取多组第二采样点的坐标信息，每组第二采样点包括两个第二采样点，每组的所述两个第二采样点所构成的第一向量的模相等；获取每组的所述两个第二采样点的采样时间间隔作为第一采样时间间隔；计算每个所述第一向量的坐标；计算多个所述第一向量的横坐标的样本平均值和纵坐标的样本平均值，并根据所述第一采样时间间隔、多个所述第一向量的横坐标和纵坐标的样本平均值计算所述当前运动速度。4.根据权利要求2所述的误差校准方法，其特征在于，所述计算当前运动速度的步骤，包括：获取两组第三采样点的坐标信息，其中，第一组所述第三采样点与第二组所述第三采样点一一对应，每两个对应的所述第三采样点构成的第二向量的模相等；获取两个对应的第三采样点的采样时间间隔作为第二采样时间间隔；计算每组第三采样点的横坐标的样本平均值和纵坐标的样本平均值；计算所述两组第三采样点的横坐标的样本平均值的差值和纵坐标的样本平均值的差值；根据所述第二采样时间间隔与所述两组第三采样点的横坐标及纵坐标的样本平均值的差值计算所述当前运动速度。5.根据权利要求2所述的误差校准方法，其特征在于，所述根据所述当前运动速度按预设规则调整所述预设个数的步骤，包括：判断所述当前运动速度所属预设速度范围；查找出与所述预设速度范围对应的采样点个数；将查找出的所述采样点个数作为所述预设个数。6.一种误差校准装置，应用于定位系统，其特征在于，所述误差校准装置包括：第一采样模...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐子渊，
申请(专利权)人：唐子渊，
类型：发明
国别省市：四川;51