温度测试装置加热核心机构制造方法及图纸

本实用新型专利技术是温度测试装置加热核心机构，其结构包括支架(1)，支架(1)底部连接底座(2)，底座(2)中心开有散热孔(3)，支架(1)的中心开有产品固定孔(4)，支架(1)上设4块PTC加热片(5)。本实用新型专利技术的优点：加热核心机构加装2组共4块PTC加热片，每块单独控制，加热核心机构装有上下两个温度传感器，通过温度变化，可在控制器中演算出测试产品的正确温度；提升了加热散热效率，减少了热量逸散，稳定了测试温度，局部加热散热效率提升100％，控制温度误差为±0.5℃。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及的是温度测试装置加热核心机构。
技术介绍
现有的温度测试装置在对产品进行升降温测试时，升降温幅度不能满足测试需求，需要改进加热结构，现有的加热条件为四周分布加热器，对处于中心部的产品进行加热。这种加热方式由于加热器固定在四周，加热器方面的热能直接通过传导的方式逸散到壳体外部，导致加热效率低下。
技术实现思路
本技术提出的是温度测试装置加热核心机构，其目的旨在克服现有技术存在的上述不足，设计制作加热核心机构，将加热器放置与整个测试壳体的中心部，使升降温幅度做到精确控制，提高加热效率，减少热量逸散。本技术的技术解决方案：温度测试装置加热核心机构，其结构包括支架，支架底部连接底座，底座中心开有散热孔，支架的中心开有产品固定孔，支架上设4块PTC加热片。优选的，所述的支架与底座垂直连接。优选的，所述的4块PTC加热片分2组，每组2块，2组PTC加热片分别设置在支架的两个面上。优选的，所述的PTC加热片在支架的一个面上设置在两个对角上，另一个面上的2块PTC加热片与已设置的PTC加热片交错设置。优选的，所述的支架的上部和下部分别设一个温度传感器。优选的，所述的PTC加热片的数据端连接控制器的数据端。优选的，所述的温度传感器的数据端连接控制器的数据端。本技术的优点：加热核心机构加装2组共4块PTC加热片，每块单独控制，加热核心机构装有上下两个温度传感器，通过温度变化，可在控制器中演算出测试产品的正确温度；提升了加热散热效率，减少了热量逸散，稳定了测试温度，局部加热散热效率提升100％，控制温度误差为±0.5℃。附图说明图1是温度测试装置加热核心机构的结构示意图。图中的1是支架、2是底座、3是散热孔、4是产品固定孔、5是PTC加热片。具体实施方式下面结合实施例和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明。如图1所示，温度测试装置加热核心机构，其结构包括支架1，支架1底部连接底座2，底座2中心开有散热孔3，支架1的中心开有产品固定孔4，支架1上设4块PTC加热片5。所述的支架1与底座2垂直连接。所述的4块PTC加热片5分2组，每组2块，2组PTC加热片5分别设置在支架1的两个面上。所述的PTC加热片5在支架1的一个面上设置在两个对角上，另一个面上的2块PTC加热片5与已设置的PTC加热片5交错设置。所述的支架1的上部和下部分别设一个温度传感器(未图示)。所述的PTC加热片5的数据端连接控制器的数据端。所述的温度传感器的数据端连接控制器的数据端。以上所述的仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
温度测试装置加热核心机构，其特征包括支架(1)，支架(1)底部连接底座(2)，底座(2)中心开有散热孔(3)，支架(1)的中心开有产品固定孔(4)，支架(1)上设4块PTC加热片(5)。

【技术特征摘要】
1.温度测试装置加热核心机构，其特征包括支架(1)，支架(1)底部连接底座(2)，底座(2)中心开有散热孔(3)，支架(1)的中心开有产品固定孔(4)，支架(1)上设4块PTC加热片(5)。2.如权利要求1所述的温度测试装置加热核心机构，其特征是所述的支架(1)与底座(2)垂直连接。3.如权利要求1所述的温度测试装置加热核心机构，其特征是所述的4块PTC加热片(5)分2组，每组2块，2组PTC加热片(5)分别设置在支架(1)的两个面上。4.如权利要求3所述的温度测试装置加热核心...

【专利技术属性】
技术研发人员：李一楠，
申请(专利权)人：无锡理衍工业自动化有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32