一种测定微波加热温度对物料吸波能力影响的测定装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种测定微波加热温度对物料吸波能力影响的测定装置，所述测定装置包括微波产生器、环行器、单模波导、激励波导、吸收反射波腔体、样品测量室、测温仪；微波产生器安装在激励波导背离所述环行器的一端上，用于产生微波；样品测量室位于单模波导背离环行器一端的内腔里，用于放置样品；环行器用于定向控制微波导向，微波经由所述激励波导及所述环行器输入所述单模波导；未被样品吸收的微波余量由所述单模波导反射，经由所述环行器进入所述吸收反射波腔体；吸收反射波腔体内设置有中间媒介，所述中间媒介用于吸收微波余量，测温仪用于测量待测样品和所述中间媒介的温度。测定装置结构简单、操作简易，使用方便，实验数据精准一致、偏差小，重复性强。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种针对微波加热物料后温度对物料吸收微波能力变化所用的测定装置。
技术介绍
目前用于衡量物料在微波场中加热后温度对物料吸收微波能力影响的方法是通过测定物料的介电常数和磁导率随温度的变化，并且温度的控制以传统加热为主，并非微波加热的实际效果，难以反映出微波时间加热物料时其吸收微波能力变化；同时当采用测温仪器直接测定物料在微波场中的温度变化来衡量物料吸收微波能力大小时，关注是微波辐射效果或者物料吸波后的表观效应，且温度变化不代表吸波能力。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种针对微波加热物料后温度对物料吸收微波能力变化的测定测定装置。本技术目的是通过以下技术方案实现的：一种测定微波加热温度对物料吸波能力影响的测定装置，其特征在于：所述测定装置包括微波产生器、环行器、单模波导、激励波导、吸收反射波腔体、样品测量室、测温仪；所述单模波导、所述激励波导、所述吸收反射波腔体分别连接在所述环行器上，所述单模波导的轴线与所述激励波导的轴线同轴，并且垂直于所述吸收反射波腔体的轴线，并且所述单模波导的轴线、所述激励波导的轴线、所述吸收反射波腔体的轴线位于同一平面上；所述微波产生器安装在所述激励波导背本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测定微波加热温度对物料吸波能力影响的测定装置，其特征在于：所述测定装置包括微波产生器、环行器、单模波导、激励波导、吸收反射波腔体、样品测量室、测温仪；所述单模波导、所述激励波导、所述吸收反射波腔体分别连接在所述环行器上，所述单模波导的轴线与所述激励波导的轴线同轴，并且垂直于所述吸收反射波腔体的轴线，并且所述单模波导的轴线、所述激励波导的轴线、所述吸收反射波腔体的轴线位于同一平面上；所述微波产生器安装在所述激励波导背离所述环行器的一端上，用于产生微波；所述样品测量室位于所述单模波导背离环行器一端的内腔里，用于放置样品；所述环行器用于定向控制微波导向，微波经由所述激励波导及所述环行器输入所述单...

【技术特征摘要】
1.一种测定微波加热温度对物料吸波能力影响的测定装置，其特征在于：所述测定装置包括微波产生器、环行器、单模波导、激励波导、吸收反射波腔体、样品测量室、测温仪；所述单模波导、所述激励波导、所述吸收反射波腔体分别连接在所述环行器上，所述单模波导的轴线与所述激励波导的轴线同轴，并且垂直于所述吸收反射波腔体的轴线，并且所述单模波导的轴线、所述激励波导的轴线、所述吸收反射波腔体的轴线位于同一平面上；所述微波产生器安装在所述激励波导背离所述环行器的一端上，用于产生微波；所述样品测量室位于所述单模波导背离环行器一端的内腔里，用于放置样品；所述环行器用于定向控制微波导向，微波经由所述激励波导及所述环行器输入所述单模波导；未被样品吸收的微波余量由所述单模波导反射，经由所述环行器进入所述吸收反射波腔体；所述吸收反射波腔体内设置有中间媒介，所述中间媒介用于吸收微波余量；所述测...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏秀娟，何春林，马少健，莫伟，封金鹏，王桂芳，杨金林，张敏，
申请(专利权)人：广西大学，
类型：新型
国别省市：广西;45