一种用于检测SIM卡尺寸的卡套治具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于检测SIM卡尺寸的卡套治具，卡套治具包括固定板和透明的测量板，固定板和测量板贴合且固定连接；固定板的一角设有用于容纳待测2FF卡的凹槽；对应于凹槽的位置，测量板的内侧雕刻有用于测量3FF卡以及4FF卡的刻线。本实用新型专利技术具有如下技术效果：1、本实用新型专利技术针对2FF小卡检测3FF、4FF冲切是否合格；2、本实用新型专利技术集成8个检测工艺于一身，可减少90％以上的检测时间；3、本实用新型专利技术无需特别的培训，上手快，方便可靠；4、未来在2FF小卡上的其他形态检测，仅需改变卡套上的刻线即可检测。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于检测SIM卡尺寸的卡套治具。
技术介绍
在SIM卡(智能卡)行业，随着卡产品的市场发展，卡制造商在倡导绿色环保发展，节约生产原材料成本的前提下，手机SIM卡从原来单一的2FF卡(Plug-in卡)发展到iphpne4的3FF卡(Mini卡)及iphone5的4FF卡(Nano卡)。而客户的手机无法跟上卡形态的变化，因此运营商要求一张2FF小卡上要含有3FF和4FF小卡，并能按要求取下来，且符合各自的长宽及位置的尺寸标准。而对于卡商来说，一个能方便检测的卡套治具能很大程度上准确快捷地完成检测。目前该类型卡片生产检测依靠卡尺及其它通用检测装置测量完成，无法直观和快速分别合格与不合格品，效率低下。具体而言，具有如下缺点：1、检测效率低，操作繁琐。需要有经验的操作员，且测量结果需核对标准数值。2、检测工艺繁琐，用通用工具测量长宽及位置尺寸，3FF和4FF共需测量8个尺寸。
技术实现思路
针对现有技术的问题，本技术的目的是提供一种卡套治具，其可准确快捷地检测2FF卡上的3FF及4FF卡长宽及位置，方便区分产品合格与否。为了实现上述目的，本技术提供了一种用于检测SIM卡尺寸的卡套本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测SIM卡尺寸的卡套治具，其特征在于，所述卡套治具包括固定板和透明的测量板，所述固定板和所述测量板贴合且固定连接；所述固定板的一角设有用于容纳待测2FF卡的凹槽；对应于所述凹槽的位置，所述测量板的内侧雕刻有用于测量3FF卡以及4FF卡的刻线。

【技术特征摘要】
1.一种用于检测SIM卡尺寸的卡套治具，其特征在于，所述卡套治具包括固定板和透明的测量板，所述固定板和所述测量板贴合且固定连接；所述固定板的一角设有用于容纳待测2FF卡的凹槽；对应于所述凹槽的位置，所述测量板的内侧雕刻有用于测量3FF卡以及4FF卡的刻线。2.如权利要求1所述的卡套治具，其特征在于，所述固定板和所述测量板的长宽尺寸一致。3.如权利要求1所述的卡套治具，其特征在于，所述凹槽的长宽尺寸不小于2FF卡的长宽尺寸。4.如权利要求3所述的卡套治具，其特征在于，所述凹槽的厚度大于2FF卡的厚度。5.如权利要求1所述的卡套治具，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈德政，李耿，冯晴，
申请(专利权)人：东信和平科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44