一种板状产品缺陷全反射成像系统技术方案

本实用新型专利技术公开一种板状产品缺陷全反射成像系统，包括线形光源、被检品支架、相机；线形光源的输出光的横截面为长条形；被检品支架水平放置；线形光源水平安装在被检品支架的侧方；被检品置放于被检品支架上；线形光源的输出光，指向于被检品侧方截面；输出光具有一个聚焦线；输出光在聚焦线处的上边界，位于被检品上表面所在平面以下；输出光在聚焦线处的下边界，位于被检品下表面所在平面以上；相机安装在被检品支架上方；相机竖直向下对被检品平面拍摄。优点是：对任何透明及半透明板状产品，都能实现对其内部缺陷的高对比度成像，不产生内部缺陷和灰尘混淆；缺陷图像对比度高，鲁棒性高。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于机器视觉检测
，涉及一种板状产品缺陷全反射成像系统；特别适用于透明及半透明板状产品内部缺陷的成像。
技术介绍
当前显示屏生产线的机器视觉检测系统，需要有能力检测出一种由于掺入杂质而产生的缺陷。以往在对这类透明及半透明板状产品内部缺陷成像时。一般是使用侧光源，从被检品所在平面以外，沿该平面方向低角度照明；但是由于这类缺陷与产品表面的灰尘在成像特征上非常接近，实际中很难加以区分。经常出现灰尘与内部缺陷的混淆；而且由于外表面被照亮，缺陷对比度也往往较差，影响检测效果。因此，需要一种能够仅对板状产品内部缺陷进行成像而不会对其正反表面上的灰尘成像的方法。
技术实现思路
本技术公开了一种板状产品缺陷全反射成像系统，以解决现有技术中灰尘与内部缺陷的混淆，缺陷对比度低，影响检测效果等问题。本技术包括线形光源、被检品支架、相机；线形光源的输出光的横截面为长条形；被检品支架水平放置；线形光源水平安装在被检品支架的侧方；被检品置放于被检品支架上；线形光源的输出光，指向于被检品侧方截面；相机安装在被检品支架上方；相机竖直向下对被检品平面拍摄。本技术线形光源输出光具有一个聚焦线；线形光源输出光具有一个聚焦线；输出光在聚焦线处的上边界，位于被检品上表面所在平面以下；输出光在聚焦线处的下边界，位于被检品下表面所在平面以上。本技术的积极效果在于：利用光线进入板状被检品后，在上下表面间不断发生全反射；直到遇到缺陷区域发生折射或反射，从而改变传播方向并破坏全反射条件才能够射出被检品表面，对透明及半透明板状产品内部缺陷成像；照明光完全被约束在被检品内部；对任何透明及半透明板状产品，都能实现对其内部缺陷的高对比度成像，不会对被检品正反表面上的灰尘成像，不产生内部缺陷和灰尘混淆；另外，由于全反射现象会造成背景的灰度值很低，缺陷图像对比度高，鲁棒性高。附图说明图1为本技术结构示意图；图中：1线形光源、2被检品支架、3相机、4被检品、1a输出光、1b聚焦线、4a被检品上表面、4b被检品下表面。具体实施方式以下结合附图详细说明本技术的一个实施例。本技术实施例如图1所示，包括线形光源1、被检品支架2、相机3；线形光源1为一字激光器；被检品支架2水平放置；线形光源1水平安装在被检品支架2的侧方；被检品4置放于被检品支架2上；线形光源1的输出光1a，指向于被检品4侧方截面；输出光1a具有一个聚焦线1b；输出光聚焦线1b平行于被检品4侧方截面的中间线；输出光1a在聚焦线1b处的上边界，位于被检品上表面4a所在平面以下；输出光1a在聚焦线1b处的下边界，位于被检品下表面4b所在平面以上；相机3安装在被检品支架2上方；相机3竖直向下对被检品4平面拍摄。实际中典型的线形光源输出光的横截面为长条形；例如,奥普特OPT-LIG255等机器视觉线扫描条形光源。工作过程是；点亮线形光源，使其输出光照射到被检品的横截面上，经折射进入到被检品内部。由数学及光学知识可知，这些光线在被检品的上下表面之间会不断发生全反射。导致光线不能从被检品上下表面射出，只能向被检品另一侧的横截面传播。在此过程中，如果被检品内部存在任何缺陷。都会导致光线的传播方向发生改变，这就会破坏全反射条件，使光线从被检品上下表面射出，并进入相机镜头。因此，使用相机拍照即可获得被检品内部缺陷图像。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种板状产品缺陷全反射成像系统；其特征在于：包括线形光源、被检品支架、相机；线形光源的输出光的横截面为长条形；被检品支架水平放置；线形光源水平安装在被检品支架的侧方；被检品置放于被检品支架上；线形光源的输出光，指向于被检品侧方截面；相机安装在被检品支架上方；相机竖直向下对被检品平面拍摄。

【技术特征摘要】
1.一种板状产品缺陷全反射成像系统；其特征在于：包括线形光源、被检品支架、相机；线形光源的输出光的横截面为长条形；被检品支架水平放置；线形光源水平安装在被检品支架的侧方；被检品置放于被检品支架上；线形光源的输出光，指向于被检品侧方截面；相机安装在被...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙淑英，
申请(专利权)人：孙淑英，
类型：新型
国别省市：吉林;22