用于高速通信插座的测试设备及其操作方法技术

本公开涉及用于高速通信插座的测试设备及其操作方法。一种测试单元包括一种测试单元，包括：基底、位于所述基底中的多个通孔、多个具有高度和宽度并且每个都从相应的通孔向所述基底的边缘延伸的引脚迹线、多个具有高度和宽度的端迹线并且每条端迹线从相应的引脚迹线的端部向所述基底的边缘延伸、多个具有高度和宽度并且每个都从相应的引脚迹线的一侧延伸的分支迹线、多个从相应的端迹线、分支迹线或引脚迹线的端部延伸至所述基底的边缘的迹线，其中，每条端迹线与相应的分支迹线相邻。

Test equipment for high speed communication socket and operation method thereof

The present disclosure relates to a test device for a high speed communication socket and a method of operating the same. A test unit includes a test unit includes: a substrate, on the base of a plurality of through holes, a plurality of height and width and each from the corresponding hole to the substrate edge extending pin has a plurality of traces, the height and width of the end of each trace and trace from the end the corresponding pin trace end to the substrate edge extension, has a plurality of height and width and each from the corresponding pin traces the extension of one side of the branch, a plurality of traces from the corresponding end trace, branch traces or pin trace extends to the surface of the edge of the trace. At the end of each trace and corresponding adjacent branch trace.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开涉及一种用于将网络电缆连接到设备的网络连接插座的测试框架。
技术介绍
随着电通信设备及其相关应用变得更加复杂和强大，其收集及与其它设备共享信息的能力也变得更加重要。这些智能的、网络互联的设备的激增带来了对提高其连接到的网络上的数据吞吐量能力的需求，以便提供满足该要求所必要的提升的数据速率。作为结果，现有的通信协议标准被不断改进或新的通信协议标准被创建。几乎所有的这些标准都要求高清晰度信号经由有线网络的传送，或者直接或间接地从该传送中显著受益。需要以一致的方式支持这些高清晰度信号的传输，其中这些高清晰度信号可以具有更大的带宽及相应地，更高频率需求。然而，即使各种标准的更多最近版本提供了理论上更高的数据速率或速度，其速度仍然受限于某些物理组件目前的设计。不幸的是，由于对什么是在多-千兆赫和更高的频率上实现一致的信号质量所必要的缺乏理解，这些物理组件的设计饱受困扰。例如，通信插座被用在通信装置和设备中来连接或耦合电缆，该电缆用于传输和接收代表所传送的数据的电信号。标准插座(RJ)是用于连接电信和数据设备的标准化物理接口。RJ标准化物理接口包括插座结构和布线图案两者。用于数据设备的常用RJ标准化物理接口是RJ45物理网络接口，也被称为RJ45插座。RJ45插座被广泛用于局域网，诸如那些实行电气和电子工程师协会(IEEE)802.3以太网协议的局域网。RJ45插座在各种标准中被描述，所述标准包括由美国国家标准协会(ANSI)/电信工业协会(TIA)在ANSI/TIA-1096-A中颁布的标准。所有的电接口组件，诸如电缆和插座，其中包括RJ45插座，不仅抵抗电流的初始流动，也反对任何对它的改变。此属性被称为电抗。两种相关类型的电抗是感抗和容抗。感抗的产生可，例如，基于电流通过发生抵抗的电缆的移动，该抵抗导致可在电缆中引起电压的磁场。另一方面，容抗可由在来自两个相对表面的电子被靠近放置在一起时出现的静电电荷产生。为了减少或避免所传送信号的任何降级，通信电路的各种组件优选地具有匹配的阻抗。如果不这样，具有一个阻抗值的负载将反射由具有不同阻抗水平的电缆承载的信号的部分或产生其回声，从而导致信号故障。由于这个原因，数据通信设备的设计者和制造商，诸如电缆供应商，设计并测试其电缆，以验证电缆的阻抗值及电阻水平和电容水平遵从某些性能参数。RJ45插座也是几乎每一个通信电路中的重要组件，然而，插座制造商还没有提供与其性能同等级的关注。因此，虽然涉及现有RJ45插座的问题在测试中有很好的记录，且现有的RJ45插座对高频信号线的负面影响被了解，业界似乎不愿意解决物理层这一重要组件的问题。因此，对改进的高速插座存在需要。
技术实现思路
本专利技术的一个实施例公开了一种测试单元，其包括：基底；位于所述基底中的多个通孔；多个具有高度和宽度的引脚迹线，并且每条引脚迹线从相应的通孔向所述基底的边缘延伸；多个具有高度和宽度的端迹线，每条端迹线从相应的引脚迹线的端部向所述基底的边缘延伸；多个具有高度和宽度的分支迹线，并且每条分支迹线从相应的引脚迹线的一侧延伸；和多个从相应的端迹线、分支迹线或引脚迹线的端部延伸至所述基底的边缘的迹线，其中，每条端迹线与相应的分支迹线相邻，每条端迹线在一侧与相应的分支迹线相邻，而在相对侧与引脚迹线相邻，并且每条引脚迹线与一侧上的另一条引脚迹线相邻。在另一个实施例中，每条引脚迹线与每条迹线隔开第一距离。在另一个实施例中，每条端迹线与每条迹线隔开第二距离。在另一个实施例中，每条分支迹线与相邻的端迹线隔开第三距离。在另一个实施例中，相邻的引脚迹线隔开第四距离。在另一个实施例中，所述测试单元包括所述基底中的接地平面，所述接地平面与每条迹线隔开一定距离。在另一个实施例中，相邻迹线的高度和宽度以及隔开相邻迹线的距离被调节以使得所述相邻迹线被磁性耦合。在另一个实施例中，通过调节所述接地平面和每条迹线之间的第一距离来调节每条迹线的电感和电容。在另一个实施例中，相邻的端迹线和分支迹线的高度和宽度被调节以使得所述端迹线被磁性耦合到相邻的分支迹线。在另一个实施例中，所述基底是RO XT8100罗杰斯材料。在另一个实施例中，每条迹线的电容被调节到大约0.51皮法(pF)到大约2pF之间。在另一个实施例中，所述测试单元包括第二接地平面，所述第二接地平面位于第一接地平面和所述基底的与所述基底的具有所述多条迹线的表面相对的表面之间。在另一个实施例中，通过调节所述第一接地平面和所述第二接地平面之间的距离以及所述第一接地平面和每条迹线之间的距离来调节每条迹线的电感和电容。在另一个实施例中，RJ 45插座的引脚连接到每个通孔。在另一个实施例中，每条迹线的端部被耦合到连接单元。在另一个实施例中，所述连接单元是RJ 45连接器。在另一个实施例中，相邻的引脚迹线的高度和宽度以及隔开相邻的引脚迹线的距离被调节以使得所述相邻引脚迹线被磁性耦合。在另一个实施例中，相邻的端迹线和分支迹线的高度和宽度以及隔开相邻的端迹线和分支迹线的距离被调节以使得所述相邻的端迹线和分支迹线被磁性耦合。在另一个实施例中，通过调节所述接地平面与每条端迹线和每条分支迹线之间的距离来调节每条端迹线和分支迹线的电感和电容。在另一个实施例中，通过调节所述接地平面和每条端迹线之间的预定距离来沿着所述迹线的长度调节每条引脚迹线的电感和电容。本专利技术的另一个实施例包括一种测试高速通信插座的方法，其包括步骤：通过修改每条相邻迹线和嵌入所述基底中的接地平面之间的距离来沿每条相邻迹线的长度调节相邻迹线的电容和电感；调节基底上相邻迹线的高度、宽度和分隔距离以使得两条相邻的迹线被磁性耦合；从第一信号发生器穿过每个相邻的迹线向高速通信插座传输信号；从所述高速通信插座穿过电缆传输所述信号；在信号接收装置接收所述信号；以及将接收到的信号与传输的信号比较以确定所述信号的差异。在另一个实施例中，所述高速通信插座是RJ 45通信插座。在另一个实施例中，所述基底是RO XT8100罗杰斯材料。在另一个实施例中，每条相邻迹线的电容被调节到大约0.51pF到大约2pF之间。附图说明图1示出了用于高速通信插座的测试单元，图2示出图1的测试单元的匹配部分，图3是图1测试单元的示意图；图4描绘了形成在图1的测试单元中的电路的示图；图5描绘了用于高速通信插座的测试单元的一个实施例；以及图6描绘了用于高速通信插座的两个测试单元的连接的一个实施例。具体实施方式图1示出了用于高速通信插座的测试单元100。测试单元100，或测试框架，包括引脚连接部102，其被配置为附加到高速通信插座，诸如但不限于，RJ 45通信插座。迹线104、106、108、110、112、114、116和118从引脚连接部102放射状地延伸至测试单元100的外边缘。每条迹线104、106、108、110、112、114、116和118的端部在测试单元100的边缘处终止，以允许通信单元(未示出)的连接。连接单元120、122、124、126、128、130、132和134可以是任何类型的连接器，包括但不限于RJ 45连接器。图2描绘了连接部102的放大视图，连接部102包括通孔202、204、206、208、210、212、214和216，通过调整这些通孔的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试单元，包括：基底；位于所述基底中的多个通孔；多个具有高度和宽度的引脚迹线，每条引脚迹线从相应的通孔向所述基底的边缘延伸；多个具有高度和宽度的端迹线，每条端迹线从相应的引脚迹线的端部向所述基底的边缘延伸；多个具有高度和宽度的分支迹线，每条分支迹线从相应的引脚迹线的一侧延伸；多个从相应的端迹线、分支迹线或引脚迹线的端部延伸至所述基底的边缘的迹线，其中，每条端迹线与相应的分支迹线相邻，每条端迹线在一侧与相应的分支迹线相邻，而在相对侧与引脚迹线相邻，并且每条引脚迹线与一侧上的另一条引脚迹线相邻。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.03.24 US 14/223,3641.一种测试单元，包括：基底；位于所述基底中的多个通孔；多个具有高度和宽度的引脚迹线，每条引脚迹线从相应的通孔向所述基底的边缘延伸；多个具有高度和宽度的端迹线，每条端迹线从相应的引脚迹线的端部向所述基底的边缘延伸；多个具有高度和宽度的分支迹线，每条分支迹线从相应的引脚迹线的一侧延伸；多个从相应的端迹线、分支迹线或引脚迹线的端部延伸至所述基底的边缘的迹线，其中，每条端迹线与相应的分支迹线相邻，每条端迹线在一侧与相应的分支迹线相邻，而在相对侧与引脚迹线相邻，并且每条引脚迹线与一侧上的另一条引脚迹线相邻。2.根据权利要求1所述的测试单元，其中每条引脚迹线与每条迹线隔开第一距离。3.根据权利要求1所述的测试单元，其中每条端迹线与每条迹线隔开第二距离.4.根据权利要求1所述的测试单元，其中每条分支迹线与相邻的端迹线隔开第三距离。5.根据权利要求1所述的测试单元，其中相邻的引脚迹线隔开第四距离。6.根据权利要求1所述的测试单元，包括所述基底中的接地平面，所述接地平面与每条迹线隔开一定距离。7.根据权利要求1所述的测试单元，其中相邻迹线的高度和宽度以及隔开相邻迹线的距离被调节以使得所述相邻迹线被磁性耦合。8.根据权利要求6所述的测试单元，其中通过调节所述接地平面和每条迹线之间的第一距离来调节每条迹线的电感和电容。9.根据权利要求4所述的测试单元，其中相邻的端迹线和分支迹线的高度和宽度被调节以使得所述端迹线被磁性耦合到相邻的分支迹线。10.根据权利要求1所述的测试单元，其中所述基底是RO XT8100罗杰斯材料。11.根据权利要求8所述的测试单元，其中每条迹线的电容被调节到大约0.51皮法(pF)到大约2pF之间。12.根据权利要求6所述的测试单元，包括第二接地平面，所述第二接地平面位于第一接地平面和所述基底的与所述基底的具有...

【专利技术属性】
技术研发人员：B·鲁滨逊，
申请(专利权)人：定点连接系统股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US