新型可调节测试插座盖制造技术
【技术实现步骤摘要】
新型可调节测试插座盖
本专利技术涉及一种芯片测试插座盖，具体为一种新型可调节测试插座盖。
技术介绍
随着科学技术的发展，电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的合格性进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，而保留合格的芯片。然而，由于芯片属于高精密产品，在对其进行检测的时候，需要将检测模具的探针准确对准芯片上的引脚，因此，对裸露的芯片放置在测试工装夹具时，需要对裸芯片进行准确定位，才能对裸芯片进行准确检测。而传统的测试设备只能同一个测试设备应用于一种厚度的芯片测试，即使同样长宽尺寸的芯片，由于芯片厚度不同，也需要制作新的插座盖来保证精密测量，造成成本过高。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：为克服上述问题，提供一种能测试不同厚度芯片的新型可调节测试插座盖。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种新型可调节测试插座盖，其特征在于，包括中空的底座，所述底座上侧设置有上壳体，所述底座的一侧与所述上壳体的一侧可旋转的连接，所述上壳体上在与所述底座连接侧的相对一侧设置有可旋转的锁定件，所述锁定件可锁扣在所述底座的卡扣上，所述上壳体...
【技术保护点】
一种新型可调节测试插座盖，其特征在于，包括中空的底座，所述底座上侧设置有上壳体，所述底座的一侧与所述上壳体的一侧可旋转的连接，所述上壳体上在与所述底座连接侧的相对一侧设置有可旋转的锁定件，所述锁定件可锁扣在所述底座的卡扣上，所述上壳体的下侧还弹性固定有压板，所述上壳体中间设置有圆柱形的中空部，所述中空部的内壁上设置有内螺纹，所述中空部内设置有压圈，所述压圈上设置有与所述内螺纹配合的外螺纹，所述压圈上固定连接有旋钮部，所述压圈和旋钮部之间固定有刻度盘，所述刻度盘上设置有多个定位孔，所述上壳体上设置有与所述定位孔对应的定位件，所述刻度盘上在所述压圈一侧还设置有限位件，所述限位件限制压圈旋转的角度。
【技术特征摘要】
1.一种新型可调节测试插座盖，其特征在于，包括中空的底座，所述底座上侧设置有上壳体，所述底座的一侧与所述上壳体的一侧可旋转的连接，所述上壳体上在与所述底座连接侧的相对一侧设置有可旋转的锁定件，所述锁定件可锁扣在所述底座的卡扣上，所述上壳体的下侧还弹性固定有压板，所述上壳体中间设置有圆柱形的中空部，所述中空部的内壁上设置有内螺纹，所述中空部内设置有压圈，所述压圈上设置有与所述内螺纹配合的外螺纹，所述压圈上固定连接有旋钮部，所述压圈和旋钮部之间固定有刻度盘，所述刻度盘上设置有多个定位孔，所述上壳体上设置有与所述定位孔对应的定位件，所述刻度盘上在所述压圈一侧还设置有限位件，所述限位件限制压圈旋转的角度。2.如权利要求1所述的新型可调节测试插座盖，其特征在于，所述定位件为定位销，所述定位销从所述上壳体下侧贯穿后伸入所述定位孔中，所述定位销的下端还连接有固定座，所述固定座上还设置有按钮件，所述按钮件贯穿所述上壳体后伸出。3....
【专利技术属性】
技术研发人员：周惠春，拉美西斯，
申请(专利权)人：安拓锐高新测试技术苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。