一种零差保护区外多相CT饱和分相与门闭锁方法技术

本发明专利技术公开了一种零差保护区外多相CT饱和分相与门闭锁方法，包括步骤1，利用分相差动保护分别判别各分相是否区外CT饱和；步骤2，利用步骤1中的所有分相判别结果与门闭锁零序差动。本发明专利技术可以准确可靠的在区外多相CT饱和时对零序差动进行闭锁，防止误动，同时本发明专利技术也适用于区外单相CT饱和，具有普遍适用性，简单可靠，不需用增加新的复杂判据和附件逻辑。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种闭锁方法，具体涉及一种零差保护区外多相CT饱和分相与门闭锁方法。
技术介绍
由于零序差动保护在单相高阻接地时灵敏度较高，在变压器保护、线路保护等保护中均配置了零序差动保护作为主保护。但是零序差动保护受区外故障CT饱和影响较大，尤其是三相CT饱和时，由于三相CT饱和时刻不同，区外故障时会持续存在零序差流，在一个工频周期内不存在连续的无差流区域，所以基于目前通用的CT饱和闭锁判据：判别差流连续数据窗区域内无差流点数无法对零序差动进行区外故障饱和闭锁。目前零序差动保护仅考虑区外单相CT饱和，并没有能够在区外故障多相CT饱和对零序差动进行闭锁的方法。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种零差保护区外多相CT饱和分相与门闭锁方法。为了达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案是：一种零差保护区外多相CT饱和分相与门闭锁方法，包括以下步骤，步骤1，利用分相差动保护分别判别各分相是否区外CT饱和；步骤2，利用步骤1中的所有分相判别结果与门闭锁零序差动。采用同步识别或小区无差流等饱和判别方法，判别各分相是否区外CT饱和。分相差流未达到差流启动门槛，则此相直接判为区外CT饱和。本专利技术所达到的有益效果：本专利技术可以准确可靠的在区外多相CT饱和时对零序差动进行闭锁，防止误动，同时本专利技术也适用于区外单相CT饱和，具有普遍适用性，简单可靠，不需用增加新的复杂判据和附件逻辑。附图说明图1为本专利技术的逻辑图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本专利技术的技术方案，而不能以此来限制本专利技术的保护范围。如图1所示，一种零差保护区外多相CT饱和分相与门闭锁方法，包括以下步骤：步骤1，利用分相差动保护分别判别各分相是否区外CT饱和。由于分相差动保护与零序差动保护共用保护电流，但分相差动分相计算差流，因此在多相CT饱和，即使最严重的三相CT饱和时，分相差动每一相不会持续有差流，存在连续的无差流区域，所以均可以按相分别判出本相是否发生区外CT饱和，且相互之间不受影响。各分相区外CT饱和判别有两种方法：第一种，采用同步识别或小区无差流等饱和判别方法，判别是否发生CT饱和，若饱和将饱和标志置1，否则置0；第二种，分相差流未达到差流启动门槛，则此相直接判为区外CT饱和。分相区外CT饱和判别方法可以为小区无差流判据或其它区外饱和判据。步骤2，利用步骤1中的所有分相判别结果与门闭锁零序差动，即A相CT饱和判别结果&&B相CT饱和判别结果&&C相CT饱和判别结果，三相与门结果去闭锁零序差动，可以准确可靠地对零序差动进行闭锁，防止误动。上述方法可以准确可靠的在区外多相CT饱和时对零序差动进行闭锁，防止误动，同时该方法也适用于区外单相CT饱和，具有普遍适用性，简单可靠，不需用增加新的复杂判据和附件逻辑。以上所述仅是本专利技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种零差保护区外多相CT饱和分相与门闭锁方法，其特征在于：包括以下步骤，步骤1，利用分相差动保护分别判别各分相是否区外CT饱和；步骤2，利用步骤1中的所有分相判别结果与门闭锁零序差动。

【技术特征摘要】
1.一种零差保护区外多相CT饱和分相与门闭锁方法，其特征在于：包括以下步骤，步骤1，利用分相差动保护分别判别各分相是否区外CT饱和；步骤2，利用步骤1中的所有分相判别结果与门闭锁零序差动。2.根据权利要求1所述的一种零差保护区外多相CT饱...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭晓，行武，胡兵，王哲，
申请(专利权)人：南京国电南自电网自动化有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32