大尺寸光学镜片表面质量检测方法及系统技术方案

本申请公开了一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法，包括：对大尺寸光学镜片中心部分进行面型精度测量，获取中心部分面型精度值；判断所述中心部分面型精度值是否在预设阈值范围内；若所述中心部分面型精度值在预设阈值范围内，则获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息；依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息得到所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果。应用本发明专利技术提供的一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法时，由于在获取大尺寸光学镜片中心部分面型精度值之后增加了对大尺寸光学镜片边缘部分进行质量检测的步骤，对大尺寸光学镜片的整个表面进行了全面的质量检测，使得大尺寸光学镜片表面质量检测结果更加准确，提高了检测准确率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学检测
，更具体地说，涉及一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法，还涉及一种大尺寸光学镜片表面质量检测系统。
技术介绍
在光学镜片表面质量检测的领域中，往往通过对光学镜片表面的面型精度和光洁度的检测来判断光学镜片是否合格。随着光学镜片需求的变化，大尺寸的光学镜片需求量越来越多，现有技术中通常对大尺寸光学镜片表面质量检测时，通常利用激光干涉仪来检测其面型精度，检测范围约为101.6mm*101.6mm，而大尺寸光学镜片的面积要远大于101.6mm*101.6mm，对大尺寸光学镜片的边缘以及接近边缘的部分的表面质量无法检测，因此，当大尺寸光学镜片的边缘以及接近边缘的部分出现刮伤点时，现有技术中的检测方法导致大尺寸的光学镜片的面型精度测量出现一定百分比的超差，导致大尺寸光学镜片表面质量的检测不准确。因此，如何对大尺寸光学镜片表面质量进行准确有效检测是本领域技术人员急需要解决的技术问题。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术提供一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法，能够对对大尺寸光学镜片表面质量进行准确有效检测。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法，包括：对大尺寸光学镜片中心部分进行面型精度测量，获取中心部分面型精度值；判断所述中心部分面型精度值是否在预设阈值范围内；若所述中心部分面型精度值在预设阈值范围内，则获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息；依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息得到所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果。优选地，在上述大尺寸光学镜片表面质量检测方法中，获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息，具体包括：生成标准球面波；将所述标准球面波转换为能够覆盖所述大尺寸平面镜片面积的标准平面波，并将所述标准平面波发送至所述大尺寸光学镜片表面；获取所述标准平面波经过所述大尺寸光学镜片透射后形成的所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息。优选地，在上述大尺寸光学镜片表面质量检测方法中，依据所述大尺寸光学镜片的边缘部分的图像信息得到大尺寸光学镜片表面质量检测结果，具体包括：依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息判断所述大尺寸光学镜片边缘部分是否具有表面缺陷；若否，则所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果为所述大尺寸光学镜片表面质量合格；若是，则所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果为所述大尺寸光学镜片表面质量不合格。优选地，在上述大尺寸光学镜片表面质量检测方法中，依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息判断所述大尺寸光学镜片边缘部分是否具有表面缺陷，具体包括：若所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息为具有明暗条纹的光斑图像，则判定所述大尺寸光学镜片边缘部分具有表面缺陷；若所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息为亮度均匀的光斑图像，则判定所述大尺寸光学镜片边缘部分没有表面缺陷。本专利技术还提供了一种大尺寸光学镜片表面质量检测系统，包括：激光干涉仪，用于对大尺寸光学镜片的中心部分进行面型精度测量，获取中心部分面型精度值；判断模块，用于判断所述中心部分面型精度值是否在预设阈值范围内；辅助测量仪，用于获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息。数据处理模块，用于依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息得到所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果。优选地，在上述一种大尺寸光学镜片表面质量检测系统中，所述辅助测量仪包括：刀口仪，用于生成标准球面波；设置于所述刀口仪与所述大尺寸平面镜片之间的准直透镜，用于将所述标准球面波转换为能够覆盖所述大尺寸平面镜片面积的标准平面波，并将所述标准平面波发送至所述大尺寸光学镜片表面，所述准直透镜的直径与所述大尺寸光学镜片的直径相同；图像采集器，用于获取所述标准平面波经过所述大尺寸光学镜片透射后形成的所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息。优选地，在上述大尺寸光学镜片表面质量检测系统中，所述准直透镜为双胶合透镜。优选地，在上述大尺寸光学镜片表面质量检测系统中，所述图像采集器为CMOS相机或CCD相机。优选地，在上述大尺寸光学镜片表面质量检测系统中，所述激光干涉测量仪为双频激光干涉测量仪。从上述技术方案可以看出，本专利技术所提供的一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法，包括：对大尺寸光学镜片中心部分进行面型精度测量，获取中心部分面型精度值；判断所述中心部分面型精度值是否在预设阈值范围内；若所述中心部分面型精度值在预设阈值范围内，则获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息；依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息得到所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果。应用本专利技术提供的一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法时，由于在获取大尺寸光学镜片中心部分面型精度值之后增加了对大尺寸光学镜片边缘部分进行质量检测的步骤，对大尺寸光学镜片的整个表面进行了全面的质量检测，使得大尺寸光学镜片表面质量检测结果更加准确，提高了检测准确率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法示意图；图2为本专利技术实施例提供的辅助测量仪对大尺寸光学镜片的测量示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1，图1为本专利技术实施例提供的一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法示意图。在一种具体的实施方式中，本专利技术提供了一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法，包括以下步骤：步骤S10：对大尺寸光学镜片中心部分进行面型精度测量，获取中心部分面型精度值；鉴于面型精度测量的仪器能够检测的范围较小，为了准确获取面型精度值，选择对大尺寸光学镜片的中心部分进行面型精度测量，其中心部分具体指以光学镜片的光轴为中心的测量仪器所能够测量的范围。进行面型精度测量的具体方法请参考现有技术，在此不再赘述。步骤S20：判断所述中心部分面型精度值是否在预设阈值范围内；不同种类的大尺寸光学镜片对其面型精度的要求各不相同，预设阈值根据不同要求进行确定，通常情况下光学镜片的面型精度值范围为0.3nm-10nm，因此，预设阈值可以从上述范围内进行取值。步骤S30：若所述中心部分面型精度值在预设阈值范围内，则获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息；若所述中心部分面型精度值在预设阈值范围内，说明大尺寸光学镜片的面型精度基本符合要求，但是大尺寸光学镜片是否合格，还需要对其边缘部分的质量进行检测。大尺寸光学镜片边缘部分具体为除去大尺寸光学镜片中心部分的其它部分。等获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息目的是对边缘部分进行辅助的定性测量，定性测量的成本低，速度快，能够快速检测边缘部分具有的划痕或者表面凸起。步骤S40：依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息得到所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果。应用本专利技术提供的一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法时，由于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法，其特征在于，包括：对大尺寸光学镜片中心部分进行面型精度测量，获取中心部分面型精度值；判断所述中心部分面型精度值是否在预设阈值范围内；若所述中心部分面型精度值在预设阈值范围内，则获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息；依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息得到所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种大尺寸光学镜片表面质量检测方法，其特征在于，包括：对大尺寸光学镜片中心部分进行面型精度测量，获取中心部分面型精度值；判断所述中心部分面型精度值是否在预设阈值范围内；若所述中心部分面型精度值在预设阈值范围内，则获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息；依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息得到所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果。2.如权利要求1所述的大尺寸光学镜片表面质量检测方法，其特征在于，获取所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息，具体包括：生成标准球面波；将所述标准球面波转换为能够覆盖所述大尺寸平面镜片面积的标准平面波，并将所述标准平面波发送至所述大尺寸光学镜片表面；获取所述标准平面波经过所述大尺寸光学镜片透射后形成的所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息。3.如权利要求2所述的大尺寸光学镜片表面质量检测方法，其特征在于，依据所述大尺寸光学镜片的边缘部分的图像信息得到大尺寸光学镜片表面质量检测结果，具体包括：依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息判断所述大尺寸光学镜片边缘部分是否具有表面缺陷；若否，则所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果为所述大尺寸光学镜片表面质量合格；若是，则所述大尺寸光学镜片表面质量检测结果为所述大尺寸光学镜片表面质量不合格。4.如权利要求3所述的大尺寸光学镜片表面质量检测方法，其特征在于，依据所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信息判断所述大尺寸光学镜片边缘部分是否具有表面缺陷，具体包括：若所述大尺寸光学镜片边缘部分的图像信...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡天佐，单明星，夏岩岩，
申请(专利权)人：长春博信光电子有限公司，
类型：发明
国别省市：吉林;22