一种控制器制造技术

技术编号:13878434 阅读:121 留言:0更新日期:2016-10-22 18:31
本发明专利技术提供了一种控制器,所述控制器包括:坏块管理单元,用于获取坏块列表,将所述坏块列表存储至随机存储器RAM;坏块映射单元,利用坏块映射方法确定当前块Block的操作地址不在所述坏块列表中时,则确定所述当前块Block是好块;检错纠错单元,用于在所述控制器进行读写操作时,对读写数据进行检错纠错;其中,所述RAM输出ram_dout与及RAM地址ram_addr位于同一个时钟周期;如此,所述RAM输出ram_dout与及RAM地址ram_addr位于同一个时钟周期,所以可以在一个时钟周期内确定出坏块,进而提高了读写操作的速度;且所述检错纠错单元可以在数据长度为512字节中纠正出1位错,检测出2位错,提高了检错纠错效率,进一步确保了NAND FLASH芯片的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于数据存储
,尤其涉及一种控制器
技术介绍
Flash Memory属于一种非挥发性存储器,在国内也通常被叫作闪存(闪速存储器)。作为一种优良的单管存储器,它的优点在于体积小、功耗低、速度快、成本低。近年来,Flash Memory已成为集成电路(IC,Integrated Circuit)技术发展的主要驱动器,主要包含有NOR、NAND、DiNOR、AND等多种技术架构,其中以NAND FLASH和NOR FLASH这两种架构在市场的使用率最高。虽然NAND FLASH技术逐渐成熟,但在NAND FLASH芯片的使用上还是有着一些复杂性,比如:没有采用独立的数据线和地址线,所有的指令、地址和数据信息共同复用一个I/O口,以及在使用中有可能出现位反转(bit-flipping)、需要坏块(bad blocks)管理等问题。这些问题导致NAND FLASH芯片整体的读写速度和数据可靠性降低。基于此,目前亟需一种NAND FLASH控制器,以能对坏块进行管理,对数据进行纠错检错,以使NAND FLASH芯片在运行过程中能够快速确定坏块并提高纠错检错率,进而保证NAN本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种控制器,其特征在于,所述控制器包括:坏块管理单元,用于获取坏块列表,将所述坏块列表存储至随机存储器RAM;坏块映射单元,利用坏块映射方法确定当前块Block的操作地址不在所述坏块列表中时,则确定所述当前块Block是好块;检错纠错单元ECC,用于在所述控制器进行读写操作时,对读写数据进行检错纠错;其中,所述RAM输出ram_dout与及RAM地址ram_addr位于同一个时钟周期。

【技术特征摘要】
1.一种控制器,其特征在于,所述控制器包括:坏块管理单元,用于获取坏块列表,将所述坏块列表存储至随机存储器RAM;坏块映射单元,利用坏块映射方法确定当前块Block的操作地址不在所述坏块列表中时,则确定所述当前块Block是好块;检错纠错单元ECC,用于在所述控制器进行读写操作时,对读写数据进行检错纠错;其中,所述RAM输出ram_dout与及RAM地址ram_addr位于同一个时钟周期。2.如权利要求1所述的控制器,其特征在于,所述坏块映射单元还用于:利用坏块映射方法确定当前块Block的操作地址处于所述坏块列表,则确定所述当前块Block是坏块,跳过所述当前块Block进行写/擦操作。3.如权利要求2所述的控制器,其特征在于,所述坏块映射方法包括:RAM顺序比较法及单周期组合逻辑法。4.如权利要求3所述的控制器,其特征在于,所述RAM顺序比较法包括:将所请求的块地址req_addr与所述坏块列表中的坏块地址逐一比较;其中,所述坏块地址按照从小到大的顺序存放至所述RAM中。5.如权利要求3所述的控制器,其特征在于,所述单周期组合逻辑法包括:将所述坏块列表标记为阵列A储存至一组寄存器中;根据所述请求的块地址req_addr,按...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢凯毅谢元禄张坤刘璟
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

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