散热测试装置制造方法及图纸

技术编号:13843471 阅读:67 留言:0更新日期:2016-10-16 19:12
本实用新型专利技术涉及一种可用于散热膜散热性能测试的散热测试装置。其包括隔离罩、支架、发热元件、温度检测装置以及供压装置。该热测试装置及散热测试方法,通过在隔离罩内将发热元件与提供发热所需的供压装置相连,通过温度检测装置监测并记录发热元件的表面温度情况,并根据该监测和记录结果分析待测试的散热元件的散热能力,可以排除因热对流和热传导带来的检测误差,使散热元件的散热能力能够得到客观公正的反映。该散热测试装置可广泛应用在碳纳米材料和/或金属散热材料等制成的散热膜的散热测试过程中,具有测试操作简单、方便、测试效率高等优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子产品散热元件研究领域,尤其是涉及一种散热测试装置
技术介绍
在电子产品行业中,某些电子元件在工作时会产生很高的温度,易对元器件造成损伤,比如电子产品的CPU和GPU等。碳纳米等材料由于具有良好的导热性能和散热性能,常用于电子器件的散热。以手机为例,一般的散热方法通常是在手机发热元件的背面贴一层散热膜,直接对此电子元件散热,然而目前并没有专门装置或方法来评判散热膜的散热能力。
技术实现思路
基于此,有必要提供一种可用于散热膜散热性能测试的散热测试装置。一种散热测试装置,包括:隔离罩,所述隔离罩具有测试腔;支架,所述支架设在所述测试腔内以用于支撑待测试的散热元件;发热元件,所述发热元件用于设在所述散热元件上且与所述散热元件相接触;温度检测装置,所述温度检测装置的触头与所述发热元件接触,以测量所述发热元件的表面温度;以及供压装置,与所述发热元件电连接,以给所述发热元件提供发热所需的电压。在其中一个实施例中,所述隔离罩透明。在其中一个实施例中,所述支架为镂空结构且其用于与所述散热元件相接触的表面的面积远小于所述散热元件的底面积。在其中一个实施例中,所述发热元件有多个,每个所述发热元本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种散热测试装置,其特征在于,包括:隔离罩,所述隔离罩具有测试腔;支架,所述支架设在所述测试腔内以用于支撑待测试的散热元件;发热元件,所述发热元件用于设在所述散热元件上且与所述散热元件相接触;温度检测装置,所述温度检测装置的触头与所述发热元件接触,以测量所述发热元件的表面温度;以及供压装置,与所述发热元件电连接,以给所述发热元件提供发热所需的电压。

【技术特征摘要】
1.一种散热测试装置,其特征在于,包括:隔离罩,所述隔离罩具有测试腔;支架,所述支架设在所述测试腔内以用于支撑待测试的散热元件;发热元件,所述发热元件用于设在所述散热元件上且与所述散热元件相接触;温度检测装置,所述温度检测装置的触头与所述发热元件接触,以测量所述发热元件的表面温度;以及供压装置,与所述发热元件电连接,以给所述发热元件提供发热所需的电压。2.如权利要求1所述的散热测试装置,其特征在于,所述隔离罩透明。3.如权利要求1所述的散热测试装置,其特征在于,所述支架为镂空结构且其用于与所...

【专利技术属性】
技术研发人员:周阳肖辉
申请(专利权)人:昆明纳太科技有限公司
类型:新型
国别省市:云南;53

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