自动校平方法以及自动校平装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及自动校平方法以及自动校平装置。构成为具备：1个倾斜传感器，设置于校平基板；校平机构部，能够使所述校平基板在至少2个方向上倾斜；以及控制装置，对该校平机构部进行控制，使所述校平基板倾斜为需要的状态，该控制装置在根据未得到来自所述倾斜传感器的倾斜检测信号的状态的校平中，执行以使所述校平基板的倾斜的变化按照所设定的搜索路径的方式使所述校平基板倾斜而在使倾斜发生变化的过程中取得来自所述倾斜传感器的信号的辅助校平，在该辅助校平的过程中得到来自所述倾斜传感器的倾斜检测信号的情况下，基于来自所述倾斜传感器的检测结果来对所述校平机构部进行控制来执行正式校平。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及能够使用简单的结构高精度地校平广范围的倾斜角的自动校平方法以及自动校平装置。
技术介绍
在测量机等要求高精度的校平的装置中，具备能够高精度地检测水平的倾斜传感器，基于来自该倾斜传感器的信号，以装置成为水平的方式进行校平。可是，在高精度的倾斜传感器中，倾斜角的检测范围窄，在倾斜角大的情况下不能校平。因此，在以往的自动校平装置中，设置具有高精度的检测精度的高精度倾斜传感器和精度低但是能够检测广范围的倾斜角的通常倾斜传感器。在超过高精度的倾斜传感器的检测范围的倾斜角的情况下，基于通常倾斜传感器的检测结果来进行粗校平，进而，基于高精度倾斜传感器的检测结果来进行精密校平。因此，需要精度不同的2个倾斜传感器，部件件数变多，构造变得复杂，制作成本增大。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供能够使用1个倾斜传感器进行以广范围的倾斜角而且高精度的校平的自动校平方法以及自动校平装置。为了达成上述目的，本专利技术的自动校平方法是，一种自动校平方法，所述自动校平方法是具备设置于校平基板的1个倾斜传感器的自动校平装置中的自动校平方法，其中，该自动校平方法包含辅助校平和正式校平，在所述辅助校平中，使所述校平基板的倾斜发生变化，在使倾斜发生变化的过程中取得来自所述倾斜传感器的信号，在所述正式校平中，基于来自所述倾斜传感器的信号水平地校平所述校平基板。此外，在本专利技术的自动校平方法中，所述辅助校平根据针对所述自动校平装置所具有的最大的校平范围残留规定的富余量来设定的驱动限度使所述校平基板的倾斜发生变化。此外，在本专利技术的自动校平方法中，所述自动校平装置具有在水平地校平所述校平基板时得到的校平结果来作为绝对位置，所述辅助校平从所述绝对位置开始。此外，在本专利技术的自动校平方法中，每当执行自动校平时取得校平结果，基于该校平结果更新所述绝对位置。此外，本专利技术的自动校平装置构成为具备：1个倾斜传感器，设置于校平基板；校平机构部，能够使所述校平基板在至少2个方向上倾斜；以及控制装置，对该校平机构部进行控制，使所述校平基板倾斜为需要的状态，该控制装置在根据未得到来自所述倾斜传感器的倾斜检测信号的状态的校平中，执行以使所述校平基板的倾斜的变化按照所设定的搜索路径的方式使所述校平基板倾斜而在使倾斜发生变化的过程中取得来自所述倾斜传感器的信号的辅助校平，在该辅助校平的过程中得到来自所述倾斜传感器的倾斜检测信号的情况下，基于来自所述倾斜传感器的检测结果来对所述校平机构部进行控制来执行正式校平。此外，在本专利技术的自动校平装置中，所述控制装置执行所述辅助校平，在所述辅助校平中，根据针对所述校平机构部所具有的最大的校平范围残留规定的富余量来设定的驱动限度使所述校平基板的倾斜发生变化，在使倾斜发生变化的过程中取得来自所述倾斜传感器的信号。此外，在本专利技术的自动校平装置中，所述控制装置存储在水平地校平所述校平基板时得到的校平结果来作为绝对位置，所述辅助校平从所述绝对位置开始。此外，在本专利技术的自动校平装置中，所述校平机构部具有对倾斜限度进行检测的极限传感器，所述控制装置存储该极限传感器检测出倾斜限度时的所述校平基板的位置来作为绝对位置，所述辅助校平从所述绝对位置开始。进而此外，在本专利技术的自动校平装置中，所述控制装置每当执行自动校平时取得校平结果并且基于该校平结果更新所述绝对位置。根据本专利技术，是一种自动校平方法，所述自动校平方法是具备设置于校平基板的1个倾斜传感器的自动校平装置中的自动校平方法，其中，该自动校平方法包含辅助校平和正式校平，在所述辅助校平中，使所述校平基板的倾斜发生变化，在使倾斜发生变化的过程中取得来自所述倾斜传感器的信号，在所述正式校平中，基于来自所述倾斜传感器的信号水平地校平所述校平基板，因此，能够仅使用1个倾斜传感器的简单的结构从超过该倾斜传感器的检测范围的状态进行自动校平。此外，根据本专利技术，所述辅助校平根据针对所述自动校平装置所具有的最大的校平范围残留规定的富余量来设定的驱动限度使所述校平基板的倾斜发生变化，因此，能够进行与所述倾斜传感器的检测范围对应的辅助校平。此外，根据本专利技术，所述自动校平装置具有在水平地校平所述校平基板时得到的校平结果来作为绝对位置，所述辅助校平从所述绝对位置开始，因此，在所述辅助校平开始时，没有设定绝对位置的需要，立即开始校平工作。此外，根据本专利技术，每当执行自动校平时取得校平结果，基于该校平结果更新所述绝对位置，因此，在所述辅助校平开始时，没有设定绝对位置的需要，能够立即从前次的校平状态开始校平工作。此外，根据本专利技术，构成为具备：1个倾斜传感器，设置于校平基板；校平机构部，能够使所述校平基板在至少2个方向上倾斜；以及控制装置，对该校平机构部进行控制，使所述校平基板倾斜为需要的状态，该控制装置在根据未得到来自所述倾斜传感器的倾斜检测信号的状态的校平中，执行以使所述校平基板的倾斜的变化按照所设定的搜索路径的方式使所述校平基板倾斜而在使倾斜发生变化的过程中取得来自所述倾斜传感器的信号的辅助校平，在该辅助校平的过程中得到来自所述倾斜传感器的倾斜检测信号的情况下，基于来自所述倾斜传感器的检测结果来对所述校平机构部进行控制来执行正式校平，因此，能够仅使用1个倾斜传感器的简单的结构从超过该倾斜传感器的检测范围的状态进行自动校平。此外，根据本专利技术，所述控制装置执行所述辅助校平，在所述辅助校平中，根据针对所述校平机构部所具有的最大的校平范围残留规定的富余量来设定的驱动限度使所述校平基板的倾斜发生变化，在使倾斜发生变化的过程中取得来自所述倾斜传感器的信号，因此，能够进行与倾斜传感器的检测范围对应的辅助校平。此外，根据本专利技术，所述控制装置存储在水平地校平所述校平基板时得到的校平结果来作为绝对位置，所述辅助校平从所述绝对位置开始，因此，在所述辅助校平开始时，没有设定绝对位置的需要，立即开始校平工作。此外，根据本专利技术，所述校平机构部具有对倾斜限度进行检测的极限传感器，所述控制装置存储该极限传感器检测出倾斜限度时的所述校平基板的位置来作为绝对位置，所述辅助校平从所述绝对位置开始，因此，在所述辅助校平开始时，没有设定绝对位置的需要，立即开始校平工作。进而此外，根据本专利技术，所述控制装置每当执行自动校平时取得校平结果并且基于该校平结果更新所述绝对位置，因此，在所述辅助校平开始时，没有设定绝对位置的需要，能够立即从前次的校平状态开始校平工作。附图说明图1是本专利技术的实施例的自动校平（leveling）装置的平面图。图2是该自动校平装置的正面图。图3是示出该自动校平装置的控制装置的框图。图4是示出本实施例的校平工作和倾斜传感器的检测范围的关系的说明图。图5是示出本实施例的校平工作的流程图。具体实施方式以下，参照附图并说明本专利技术的实施例。图1、图2示出了本专利技术的实施例的自动校平装置。在图1、图2中，1示出自动校平装置，2示出载置有该自动校平装置1的部位例如座板。此外，4示出了校平基板，5示出了固定轴，6示出了右驱动轴，7示出了左驱动轴。此外，在前述校平基板4设置测定机等需要校平的装置、设备。前述固定轴5、前述右驱动轴6、前述左驱动轴7相对于前述校平基板4向垂直下方延伸，下端部分别为圆锥状的尖端。前述固定轴被固定地设置，前述右驱动轴6、前述左驱动轴7分别被限制本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动校平方法，所述自动校平方法是具备设置于校平基板的1个倾斜传感器的自动校平装置中的自动校平方法，其中，该自动校平方法包含辅助校平和正式校平，在所述辅助校平中，使所述校平基板的倾斜发生变化，在使倾斜发生变化的过程中取得来自所述倾斜传感器的信号，在所述正式校平中，基于来自所述倾斜传感器的信号水平地校平所述校平基板。

【技术特征摘要】
2015.03.31 JP 2015-0726251.一种自动校平方法，所述自动校平方法是具备设置于校平基板的1个倾斜传感器的自动校平装置中的自动校平方法，其中，该自动校平方法包含辅助校平和正式校平，在所述辅助校平中，使所述校平基板的倾斜发生变化，在使倾斜发生变化的过程中取得来自所述倾斜传感器的信号，在所述正式校平中，基于来自所述倾斜传感器的信号水平地校平所述校平基板。2.根据权利要求1所述的自动校平方法，其中，所述辅助校平根据针对所述自动校平装置所具有的最大的校平范围残留规定的富余量来设定的驱动限度使所述校平基板的倾斜发生变化。3.根据权利要求1所述的自动校平方法，其中，所述自动校平装置具有在水平地校平所述校平基板时得到的校平结果来作为绝对位置，所述辅助校平从所述绝对位置开始。4.根据权利要求3所述的自动校平方法，其中，每当执行自动校平时取得校平结果，基于该校平结果更新所述绝对位置。5.一种自动校平装置，其中，构成为具备：1个倾斜传感器，设置于校平基板；校平机构部，能够使所述校平基板在至少2个方向上倾斜；以及控制装置，对该校平机构部进行控制，使所述校平基板倾斜为需要的状态，该控制装置在根据未得到来自所述倾斜传感器的倾斜检测信号的状态的校平中，执行以使所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：椴山誉，弥延聪，
申请(专利权)人：株式会社拓普康，
类型：发明
国别省市：日本;JP