一种低温下超导磁体磁场测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种低温下超导磁体磁场测量装置，包括用于提供低温环境的低温杜瓦和穿过低温杜瓦的测量杆，所述测量杆上位于低温杜瓦内部位置处设置有高斯计安装架，高斯计安装架上设置有用于测量超导磁体磁场的高斯计，超导磁体设置在低温杜瓦内，所述低温杜瓦上开设有供测量杆通过的通孔，所述低温杜瓦上位于所述通孔位置处设置有密封件。本实用新型专利技术可以实现低温下超导磁体的中心孔磁场测量，且可实现轴向中心磁场的测量，测量精度高，使用操作方便，实用性强，便于推广使用。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于超导磁体设备设计
，具体涉及一种低温下超导磁体磁场测量装置。
技术介绍
由于超导线圈工作时需要处于极低的温度下，低温超导磁体系统一般都将超导线圈浸泡在液氦内，使得超导线圈维持在4.2K温度，保证超导线圈处于超导状态。低温超导磁体系统可提供高稳定度、高均匀度、高场强的磁场，是高性能MRI(高性能医疗用核磁共振成像仪)等相关装置的首选磁体系统。对于超导磁体磁场的测量，是每一台超导磁体制造完成后必不可少的一个环节，也是验证超导磁体设计和制造是否满足使用要求的重要步骤。传统的超导磁体，一般都具有室温孔，室温孔温度与大气温度一致，这样非常容易实现测量，但是低温超导磁体系统一般需要单独的低温杜瓦，这样的超导磁体磁场测量需要特殊工装才可进行。因此需要一种结构简单、制造方便且易于安装的低温下超导磁体磁场测量装置，可以实现低温下超导磁体的中心孔磁场测量，且可实现轴向中心磁场的测量，测量精度高。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种低温下超导磁体磁场测量装置，其结构简单、制造方便且易于安装，可以实现低温下超导磁体的中心孔磁场测量，且可实现轴向中心磁场的测量，测量精度高，使用操作方便，实用性强，便于推广使用。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：一种低温下超导磁体磁场测量装置，其特征在于：包括用于提供低温环境的低温杜瓦和穿过低温杜瓦的测量杆，所述测量杆上位于低温杜瓦内部位置处设置有高斯计安装架，高斯计安装架上设置有用于测量超导磁体磁场的高斯计，超导磁体设置在低温杜瓦内，所述低温杜瓦上开设有供测量杆通过的通孔，所述低温杜瓦上位于所述通孔位置处设置有密封件。上述的一种低温下超导磁体磁场测量装置，其特征在于：所述密封件包括法兰和设置在法兰凹槽内的密封圈。上述的一种低温下超导磁体磁场测量装置，其特征在于：所述通孔包括第一通孔和第二通孔，所述第一通孔与第二通孔位置相对应。上述的一种低温下超导磁体磁场测量装置，其特征在于：所述测量杆为中空杆。上述的一种低温下超导磁体磁场测量装置，其特征在于：所述高斯计为霍尔效应高斯计。上述的一种低温下超导磁体磁场测量装置，其特征在于：所述密封圈为橡胶圈。本技术与现有技术相比具有以下优点：1、本技术的结构简单，设计合理，实现及使用操作方便。2、本技术可以实现低温下的超导磁体中心孔的磁场测量，而且可以实现超导磁体轴向中心磁场和超导磁体径向方向距中心任意距离处磁场测量。3、本技术通过伸缩拉杆可调节超导磁体在低温杜瓦内的中心位置，误差小，测量精度高。综上所述，本技术结构简单、制造方便且易于安装，可以实现低温下超导磁体的中心孔磁场测量，且可实现轴向中心磁场的测量，测量精度高，使用操作方便，实用性强，实用性强，便于推广使用。下面通过附图和实施例，对本技术的技术方案做进一步的详细描
述。附图说明图1为本技术的结构示意图。附图标记说明:1—测量杆； 2—法兰； 3—低温杜瓦；3-1—第一通孔； 3-2—第二通孔； 4-1—高斯计安装架；4-2—高斯计； 5—超导磁体； 6—拉杆。具体实施方式如图1所示，本技术包括用于提供低温环境的低温杜瓦3和穿过低温杜瓦3的测量杆1，所述测量杆1上位于低温杜瓦3内部位置处设置有高斯计安装架4-1，高斯计安装架4-1上设置有用于测量超导磁体5磁场的高斯计4-2，超导磁体5设置在低温杜瓦3内，所述低温杜瓦3上开设有供测量杆1通过的通孔，所述低温杜瓦3上位于所述通孔位置处设置有密封件。如图1所示，本实施例中，所述密封件包括法兰2和设置在法兰2凹槽内的密封圈。如图1所示，本实施例中，所述通孔包括第一通孔3-1和第二通孔3-2，所述第一通孔3-1与第二通孔3-2位置相对应。本实施例中，所述测量杆1为中空杆。本实施例中，所述高斯计4-2为霍尔效应高斯计。本实施例中，所述密封圈为橡胶圈。具体实施时，超导磁体5通过拉杆6吊装在低温杜瓦3的内部，通过外部电源对超导磁体5放电，会在超导磁体5的磁体中心产生磁场，通过测量杆1上的高斯计4-2可对超导磁体5的中心孔磁场进行测量。对于轴向中心磁场的测量，将测量杆1沿轴向移动，由于密封圈套装在测量杆1上，减少磁场泄漏，移动测量杆1到待测量位置时，利用安装测量杆1上的高斯
计4-2测量磁场值，当测量杆1的位置发生变化，高斯计4-2的位置也发生变化，根据测量杆1位置的不同读取高斯计4-2测量的不同数值，依次测完所有数据即可。以上所述，仅是本技术的实施例，并非对本技术作任何限制，凡是根据本技术技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本技术技术方案的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种低温下超导磁体磁场测量装置，其特征在于：包括用于提供低温环境的低温杜瓦(3)和穿过低温杜瓦(3)的测量杆(1)，所述测量杆(1)上位于低温杜瓦(3)内部位置处设置有高斯计安装架(4‑1)，高斯计安装架(4‑1)上设置有用于测量超导磁体(5)磁场的高斯计(4‑2)，超导磁体(5)设置在低温杜瓦(3)内，所述低温杜瓦(3)上开设有供测量杆(1)通过的通孔，所述低温杜瓦(3)上位于所述通孔位置处设置有密封件。

【技术特征摘要】
1.一种低温下超导磁体磁场测量装置，其特征在于：包括用于提供低温环境的低温杜瓦(3)和穿过低温杜瓦(3)的测量杆(1)，所述测量杆(1)上位于低温杜瓦(3)内部位置处设置有高斯计安装架(4-1)，高斯计安装架(4-1)上设置有用于测量超导磁体(5)磁场的高斯计(4-2)，超导磁体(5)设置在低温杜瓦(3)内，所述低温杜瓦(3)上开设有供测量杆(1)通过的通孔，所述低温杜瓦(3)上位于所述通孔位置处设置有密封件。2.按照权利要求1所述的一种低温下超导磁体磁场测量装置，其特征在于：所述密封件包括法兰(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：李超，马鹏，石力卓，葛正福，孙星瑞，杨世杰，杜社军，
申请(专利权)人：西安聚能超导磁体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61