本实用新型专利技术涉及电路检测技术领域，特别是通路检测电路及检测装置，通路检测电路包括：一组测试I/O口，与一组通路的输入接口连接；一组采集I/O口，与一组通路的输出接口连接；处理器，与一组测试I/O口和一组采集I/O口连接，用于根据测试电平和测试数据判断一组通路中各通路的工作状态。通路检测装置包括上述通路检测电路。上述通路检测电路及检测装置，通过将电路板上需测试的一组通路的输入接口与测试I/O口连接，输出接口与采集I/O口连接，测试I/O口输出一组测试电平至一组通路，采集I/O口采集输出接口处的电平并作为测试数据，并通过处理器根据测试电平和测试数据判断一组通路中各通路的状态，例如开路或短路，从而提高了通路检测的可靠性以及便利性。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电路检测
，特别是涉及通路检测电路及检测装置。
技术介绍
随着手机等电子消费类产品的价格一路下降，以及驱动部分结构越来越紧凑，用于连接显示屏的主电路板，不仅需要传输显示屏所需要的电压信号等，其同时还会作为一些其他主板发出的信号的通路使用。而后者，往往是要连接了主电路板后才能有正常的功能，如有些信号是用于控制或驱动主电路板的马达和麦克风的，而对于显示屏是没有作用的，因此，在模组生产时，检测这些通路是否正常是非常必要的。目前的测试方案，是通过设计较复杂的电路，通过驱动LED灯是否点亮来判断该电路是否存在通短路的情况。然而，现有的测试方案存在以下几个缺点：1、需要额外的元器件，测试成本增加；2、增加了连通的通路，如果存在元器件虚焊、失效等情况，并不能直接反映出FPC上线路的通断情况；3、需要人工对灯亮或灯灭的情况进行判断，长时间测试容易导致因为人体的疲劳而误判；4、电路过于复杂，如果存在更多的通路需要测试，由于不仅需要判断通路，还要判断短路的情况，会使得电路非常复杂，例如，判断是否短路时不仅要判断相邻焊盘，还要判断左右两边的焊盘是否会短路。
技术实现思路
基于此，有必要针对如何提高通短路检测的可靠性以及便利性问题，提供一种通路检测电路及检测装置。一种通路检测电路，用于检测电路板上一组通路的开路或短路，一组通路
中的每一所述通路具有一输入接口和一输出接口，所述通路检测电路包括：一组测试I/O口，与所述一组通路的输入接口连接，用于输出一组测试电平至所述一组通路；一组采集I/O口，与所述一组通路的输出接口连接，用于采集所述输出接口处的电平并作为测试数据；处理器，与所述一组测试I/O口和所述一组采集I/O口连接，用于根据所述测试电平和所述测试数据判断一组通路中各所述通路的工作状态。在其中一个实施例中，所述一组测试I/O口包括与所述通路数量相同的多个测试I/O口，每一所述测试I/O口与一所述通路的输入接口连接。在其中一个实施例中，所述一组采集I/O口包括一个采集I/O口，所述通路检测电路还包括：一组测试电阻，所述一组测试电阻包括与所述通路数量相同的多个测试电阻和一接地电阻，每一所述测试电阻与一所述通路的输出接口连接，且各所述测试电阻连接在一起并串联所述接地电阻后接地，各所述测试电阻的连接点与所述采集I/O口连接，其中各所述测试电阻的阻值不同。在其中一个实施例中，所述一组采集I/O口包括与所述通路数量相同的多个采集I/O口，且每一所述采集I/O口分别与一所述通路的输出接口连接。在其中一个实施例中，所述一组测试I/O口、一组采集I/O口以及所述处理器为一集成电路。在其中一个实施例中，所述工作状态为开路、短路或正常。在其中一个实施例中，还包括：显示器，所述显示器与所述处理器连接，用于区别显示所述通路的所述工作状态。一种通路检测装置，包括通路检测电路，其中通路检测电路用于检测电路板上一组通路的开路或短路，一组通路中的每一所述通路具有一输入接口和一输出接口，所述通路检测电路包括：一组测试I/O口，与所述一组通路的输入接口连接，用于输出一组测试电平至所述一组通路；一组采集I/O口，与所述一组通路的输出接口连接，用于采集所述输出接口
处的电平并作为测试数据；处理器，与所述一组测试I/O口和所述一组采集I/O口连接，用于根据所述测试电平和所述测试数据判断一组通路中各所述通路的工作状态。与现有技术相比，本技术通路检测电路及检测装置，通过将电路板上需测试的一组通路的输入接口与测试I/O口连接，输出接口与采集I/O口连接，测试I/O口输出一组测试电平至一组通路，采集I/O口采集输出接口处的电平并作为测试数据，并通过处理器根据测试电平和测试数据判断一组通路中各通路的状态，例如开路或短路，从而提高了通路检测的可靠性以及便利性。附图说明图1为本技术一实施例通路检测电路结构示意图；图2为本技术另一实施例通路检测电路连接示意图；图3为本技术另一实施例通路检测电路结构示意图；图4为本技术另一实施例通路检测电路结构示意图；图5为本技术另一实施例通路检测电路结构示意图。具体实施方式为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。请参阅图1，其为本技术通路检测电路一实施例的结构示意图，该通路检测电路用于检测电路板50上一组通路的开路或短路，其中，一组通路中的每一通路具有一输入接口51和一输出接口52。需要说明的是，一组通路可以包括一个通路或多个通路，本实施例对于一组通路中所包含的通路数量不进行限定。如图1所示，通路检测电路包括一组测试I/O口110、一组采集I/O口120以及处理器130。一组测试I/O口110与一组通路的输入接口51连接，用于输出一组测试电平至一组通路。一组采集I/O口与一组通路的输出接口52连接，用于采集输出接口52处的电平并作为测试数据。处理器130分别与一组测试I/O口110和一组采集I/O口120连接，用于根据测试电平和测试数据判断一组通路
中各通路的工作状态，例如开路、短路或正常等工作状态。在一个测试过程中，通过将电路板上需测试的一组通路的输入接口与测试I/O口连接，输出接口与采集I/O口连接，利用测试I/O口输出一组测试电平至一组通路，采集I/O口采集输出接口处的电平并作为测试数据，处理器根据测试电平和测试数据判断一组通路中的各个通路的状态，例如通路正常、开路或短路，从而提高了通路检测的可靠性以及便利性。请参阅图2，其为本技术通路检测电路一实施例的连接示意图，本实施例中，一组测试I/O口110包括与通路数量相同的多个测试I/O口，每一个测试I/O口与一通路的输入接口51连接。当然，一组测试I/O口110还可以包括比通路数量多的测试I/O口，多余的测试I/O口可以作为候补测试I/O口或闲置。如：本实施例中，待测试的一组通路包括通路1、2……N共N个通路，N个通路的输入接口分别对应输入接口1、输入接口2至输入接口N，N个通路的输出接口分别对应输出接口1、输出接口2至输出接口N，此时一组测试I/O口110包括测试I/O口1、测试I/O口2至测试I/O口N，其中N为自然数。具体的，测试I/O口1与输入接口1连接，测试I/O口2与输入接口2连接，依次类推，测试I/O口N与输入接口N连接。当需要测试其中某一个或某多个通路时，对应的测试I/O口输出测试电平至对应的输入接口，测试电平进入通路，通过采集通路的输出接口处的电平即可判断相应通路的状况。其中，一组采集I/O口120可以只包括一个采集I/O口，也可以包括多个采集I/O口，下面结合图3至图5进行说明。请参阅图3，其为一组采集I/O口120只包括一个采集I/O口时，本技术通路检测电路的连接示意图，如图3所示，此时该通路检测电路还包括一组测试电阻。具体的，一组测试电阻包括与通路数量相同的多个测试电阻和一接地电阻，每一测试电阻与一通路的输出接口连接，且各测试电阻连接在一起形成一连接点140，该连接点140串联接地电阻后接地，并且，该本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种通路检测电路，用于检测电路板上一组通路的开路或短路，一组通路中的每一所述通路具有一输入接口和一输出接口，其特征在于，所述通路检测电路包括：一组测试I/O口，与所述一组通路的输入接口连接，用于输出一组测试电平至所述一组通路；一组采集I/O口，与所述一组通路的输出接口连接，用于采集所述输出接口处的电平并作为测试数据；处理器，与所述一组测试I/O口和所述一组采集I/O口连接，用于根据所述测试电平和所述测试数据判断一组通路中各所述通路的工作状态。
【技术特征摘要】
1.一种通路检测电路，用于检测电路板上一组通路的开路或短路，一组通路中的每一所述通路具有一输入接口和一输出接口，其特征在于，所述通路检测电路包括：一组测试I/O口，与所述一组通路的输入接口连接，用于输出一组测试电平至所述一组通路；一组采集I/O口，与所述一组通路的输出接口连接，用于采集所述输出接口处的电平并作为测试数据；处理器，与所述一组测试I/O口和所述一组采集I/O口连接，用于根据所述测试电平和所述测试数据判断一组通路中各所述通路的工作状态。2.如权利要求1所述的通路检测电路，其特征在于，所述一组测试I/O口包括与所述通路数量相同的多个测试I/O口，每一所述测试I/O口与一所述通路的输入接口连接。3.如权利要求2所述的通路检测电路，其特征在于，所述一组采集I/O口包括一个采集I/O口，所述通路检测电路还包括：一组测试电阻，所述一组测试电阻包括与所述通路数量相同...
【专利技术属性】
技术研发人员：秦瑞琳，江凤丹，
申请(专利权)人：TCL显示科技惠州有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。