【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微电子
,具体涉及一种集总模型的构建方法,可用于单片微波集成电路设计、混合微波集成电路设计以及在片测试。技术背景近几十年以来,随着微波、毫米波技术的快速发展,无线移动通信技术和微波集成电路技术得到迅速发展和推广应用。由于微带线、共面波导、槽线和共面带状线等传输线结构都是平面结构,他们的特点就是尺寸控制在一个平面内,因而在设计、加工过程中更加方便。其中,微带线和共面波导这两种传输线是组成微波集成电路的最为重要的结构。微带线是一种最为流行的平面传输线,微带传输线被应用于低电平射频微波技术中。它的优点是制造费用低、尺寸特别小、重量特别轻、工作频带宽、以及具有与固体器件的良好配合性;其主要缺点是损耗较大,不能在高电平的情况下使用。由于微带线结构简单,便于器件的集成和电路的调试,使得微带线已经成为射频、微波电路中首选的电路结构。共面波导的基本结构是由一条中心导带和两边的半无限大的地平面组成,中心导带作为信号传输线,两边带线作为接地线。共面波导支持准TEM模式传播,与传统的微带线相比,具有易于加工、易于并联和串联各种微波器件、不需要包裹和通孔、辐射损耗小等优点。他的特性阻抗仅由导带宽度和槽宽决定,因此尺寸可以很小,但是损耗会随之增加。与此同时,由于两条相邻的线之间有地,他们之间的互相干扰比较微弱,所以共面波导构成的电路可以比微带线电路更加密集,特别适合微波集成电路和单片微波集成电路的应用。共面波导的准TEM模具有频率色散性弱的优点,这为设计宽带电路和器件提供了可能性。在印刷电路板上的许多器件中,有许多类型的微带传输线和共面波导,他们之间连接会 ...
【技术保护点】
一种带通共面波导微带无通孔过渡结构集总模型的构建方法,包括:(1)根据过渡结构的物理特征构建等效电路:1a)将共面波导结构的中心信号线等效为输入电感L1,将共面波导与微带之间过渡段的频率选择效应等效为过渡电容C1,将过渡段的损耗效应等效为过渡电阻R1,将微带部分等效为输出电感L2,并将输入电感L1、过渡电容C1、过渡电阻R1和输出电感L2依次串联连接,形成干路;1b)将共面波导中心信号线与地线之间的电容效应等效为接地电容C2,将共面波导中心信号线与地线之间的损耗效应等效为接地电阻R2;接地电阻R2的一端通过接地电容C2接地,另一端连接到输入电感L1与过渡电容C1的连接处;(2)通过三维电磁仿真软件仿真得到所用带通共面波导微带无通孔过渡结构的散射参数S1;(3)根据散射参数S1提取等效电路中的电容、电阻和电感元件的初始值,即:输入电感L1的初始值为h1、过渡电容C1的初始值为q1、过渡电阻R1的初始值为w1、输出电感L2的初始值h2、接地电容C2的初始值q2和接地电阻R2的初始值w2;(4)对(3)得到的等效电路中各元件的初始值进行仿真优化,直到等效电路仿真的散射参数S2与三维电磁仿真的 ...
【技术特征摘要】
1.一种带通共面波导微带无通孔过渡结构集总模型的构建方法,包括:(1)根据过渡结构的物理特征构建等效电路:1a)将共面波导结构的中心信号线等效为输入电感L1,将共面波导与微带之间过渡段的频率选择效应等效为过渡电容C1,将过渡段的损耗效应等效为过渡电阻R1,将微带部分等效为输出电感L2,并将输入电感L1、过渡电容C1、过渡电阻R1和输出电感L2依次串联连接,形成干路;1b)将共面波导中心信号线与地线之间的电容效应等效为接地电容C2,将共面波导中心信号线与地线之间的损耗效应等效为接地电阻R2;接地电阻R2的一端通过接地电容C2接地,另一端连接到输入电感L1与过渡电容C1的连接处;(2)通过三维电磁仿真软件仿真得到所用带通共面波导微带无通孔过渡结构的散射参数S1;(3)根据散射参数S1提取等效电路中的电容、电阻和电感元件的初始值,即:输入电感L1的初始值为h1、过渡电容C1的初始值为q1、过渡电阻R1的初始值为w1、输出电感L2的初始值h2、接地电容C2的初始值q2和接地电阻R2的初始值w2;(4)对(3)得到的等效电路中各元件的初始值进行仿真优化,直到等效电路仿真的散射参数S2与三维电磁仿真的散射参数S1一致,得到等效电路各元件的最终值,即:输入电感L1的最终值H1、过渡电容C1的最终值Q1、过渡电阻R1的最终值W1、输出电感L2的最终值H2、接地电容C2的最终值Q2和接地电阻R2的最终值W2,这些最终参数用于单片微波集成电路、混合微波集成电路设计和在片测试的去嵌入计算。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(2)中通过三维电磁仿真软件仿真得到所用带通共面波导微带无通孔过渡结构的散射参数S1,是通过三维电磁仿真软件仿真得到所用带通共面波导微带无通孔过渡结构的散射参数S1: S 1 = S 1 11 S 1 12 S 1 21 S 1 22 , ]]>其中,S111为过渡结构的输入端口电压反射系数,S121为过渡结构的正向电压增益,S112为过渡结构的反向电压增益,S122为过渡结构的输出端口电压反射系数。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤(3)中提取等效电路中电容、电感和电阻的初始值,按如下步骤进行:(3.1)将用三维电磁仿真软件仿真得到的散射参数S1转换成为转移矩阵T: T = A B C D = ( 1 + S 1 11 ) ( 1 - S 1 22 ) + S 1 12 S 1 21 2 S 1 21 Z 0 ( 1 + S 1 11 ) ( 1 + S 1 22 ) - S 1 12 S 1 21 2 S 1 21 1 Z 0 ( 1 - S 1 11 ) ( 1 - S 1 22 ) - S 1 12 S 1 21 2 S 1 21 ( 1 - S 1 11 ) ( 1 + S 1 22 ) + S 1 12 S 1 21 2 S 1 21 , ]]>其中,A为输出开路时的输入输出电压比,B为当输出短路时的转移阻抗,C为当输出开路时的转移导纳,D为当输出短路时的输入输出电流比,Z0为系统的特性阻抗。根据矩阵各项之间的关系得到: A = ( 1 + S 1 11 ) ( 1 - S 1 22 ) + S 1 12 S 1 21 2 S 1 21 B = Z 0 ( 1 + S 1 11 ) ( 1 + S 1 22 ) - S 1 12 S 1 21 2 S 1 21 C = 1 Z 0 ( 1 - S 1 11 ) ( 1 - S 1 22 ) - S 1 12 S 1 21 ...
【专利技术属性】
技术研发人员:马晓华,郑佳欣,马佩军,张恒爽,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:陕西;61
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