【技术实现步骤摘要】
本技术属于表面质量检查设备领域，具体的是检测电子元件表面缺陷的装置。
技术介绍
随着电子科技技术的进步，对电子元件表面质量的要求越来越高。现有的电子元件表面缺陷的检测通常是利用照相机拍摄出电子元件的表面情况照片，然后通过拍摄出的照片来判断电子元件的表面质量。然后，表面有划痕和表面脏污在照片中的表现及其相似，这时，容易将表面脏污的情况归类为表面有划痕的产品，对其进行表面缺陷修复或者报废。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，其对待检测电子元件的表面进行放大，能更直观的检查电子元件的表面情况。本技术采用的技术方案是：一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，包括支座和放大镜，所述放大镜可拆卸安装于支座；在放大镜下方设有电子元件成像装置，所述电子元件成像装置包括与支座可拆卸连接的本体，在本体上设有垂直贯穿本体的方形通孔，所述方形通孔的四个内壁上均安装有平面镜，所述平面镜的镜面由下至上向外延伸；在通孔正下方设有安装于支座的平台。进一步的，所述通孔的上端大于通孔的下端。进一步的，所述支座包括左立板、右立板和底座，所述左立板和右立板的一端与底座固定连接；所述电子元件成像装置的本体一侧与左立板螺栓连接，另一侧与右立板螺栓连接。本技术的有益效果是：一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，电子元件正面直接通过通孔经过放大镜放大后进入观察者的视野，而电子元件侧面的情况通过平面镜反射给放大镜，经过放大镜放大后进入观察者的视野，从而能更直观的检测电子元件的表面情况，提高了观察的准确性，且该一种简易的电子元件表面缺陷检测装置结构简单，使用方便。附图说明图...
【技术保护点】
一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，其特征在于：包括支座(1)和放大镜(2)，所述放大镜(2)可拆卸安装于支座(1)；在放大镜(2)下方设有电子元件成像装置，所述电子元件成像装置包括与支座(1)可拆卸连接的本体(3)，在本体(3)上设有垂直贯穿本体(3)的方形通孔(4)，所述方形通孔(4)的四个内壁上均安装有平面镜(5)，所述平面镜(5)的镜面由下至上向外延伸；在通孔(4)正下方设有安装于支座(1)的平台(6)。
【技术特征摘要】
1.一种简易的电子元件表面缺陷检测装置，其特征在于：包括支座(1)和放大镜(2)，所述放大镜(2)可拆卸安装于支座(1)；在放大镜(2)下方设有电子元件成像装置，所述电子元件成像装置包括与支座(1)可拆卸连接的本体(3)，在本体(3)上设有垂直贯穿本体(3)的方形通孔(4)，所述方形通孔(4)的四个内壁上均安装有平面镜(5)，所述平面镜(5)的镜面由下至上向外延伸；在通孔(4)正下方设有安装于支座(1)的平台...
【专利技术属性】
技术研发人员：廖兴旺，
申请(专利权)人：成都慧信实验设备有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51
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