电性能检测机制造技术

本实用新型专利技术提供了一种电性能检测机，包括工作台、位于工作台上的测试仪和圆盘，所述圆盘上沿圆周方向均匀设置有用于放置电子元件的卡槽，所述卡槽沿圆周边缘设有缺口，所述工作台位于圆盘缺口下方设有用于方便运输电子元件的收集装置。所述收集装置包括倾斜设置的滑道，所述滑道靠近圆盘一端开口朝向缺口下方，所述滑道远离圆盘一端下方设有收集框。所述滑道远离圆盘一端开口设有用于缓冲滑落的电子元件的挡片，所述挡片位于滑道远离圆盘一端开口的下方。上述技术方案解决了无法方便对电子元件进行收集的问题，本实用新型专利技术提供了一种收集方便快速的电性能检测机。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子元件检测设备领域，特别涉及一种电性能检测机。
技术介绍
电子元件是组成电子产品的基础，运用在越来越多的产品中，发挥着非常重要的作用，所以对电子元件电性能的测试提出了更高的要求。中国专利公开号CN203433065U的专利文件公开了一种多工位电性能检测机，包括操作台和安装在操作台上的若干个测试仪，操作台内部设有电控驱动系统，测试仪与电控驱动系统电连接，操作台的上表面固定连接有可旋转的圆盘，圆盘的内圆周侧均匀分布有若干个槽座，圆盘的外圆周一侧的操作台表面固定连接有若干个支架，各个支架上部均连接有电控驱动系统控制伸缩长度的传感器探头，一个传感器探头、一个槽座与一台测试仪组成一个检测台，同一个检测组合内的测试仪分别与传感器探头、槽座的底部电连接。上述技术方案虽然实现了多工位的检测功能，但是该设备在对电子元件检测完之后，需要将合格与不合格的产品从圆盘上取出，并且再进行分类，然而操作台离地具有一定的高度，需要工作人员将电子元件一一取出放置到指定位置，导致收集变得麻烦，无法更加方便的把电子元件收集起来，较高台面的圆盘位置，会增加工作人员的收集速度，使检测效率降低。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种收集方便快速的电性能检测机。本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种电性能检测机，包括工作台、位于工作台上的测试仪和圆盘，所述圆盘上沿圆周方向均匀设置有用于放置电子元件的卡槽，所述卡槽沿圆周边缘设有缺口，所述工作台位于圆盘缺口下方设有用于收集电子元件的收集装置。通过采用上述技术方案，利用在卡槽上开设的缺口和缺口下方的的收集装置，能够使工作人员更加方便地将电子元件从卡槽中取出，并且使其直接掉入到收集装置中，利用收集装置将合格的电子元件进行一个收集，减去了工作人员将电子元件进行分类收集的麻烦，免去了要将电子元件一一取出并且放入收集装置的工作步骤，使整个收集过程更加有序合理，提高了整个检测装置的检测效率。本技术进一步设置为：所述收集装置包括倾斜设置的滑道，所述滑道靠近圆盘一端开口朝向缺口下方，所述滑道远离圆盘一端下方设有收集框。通过采用上述技术方案，利用位于缺口下方的滑道，从而能够使缺口中掉落的电子元件掉落到滑道的上开口中，利用倾斜设置的滑道，将电子元件导向到用于收集不同类的收集框中，缩短了圆盘和收集框之间的距离，免去了工作人员要收集电子元件的麻烦，在取出电子元件的同时，就能利用滑道的作用，直接通入到收集框中，使整个过程方便快捷，提高了检测效率。本技术进一步设置为：所述滑道远离圆盘一端开口设有用于缓冲滑落的电子元件的挡片，所述挡片位于滑道远离圆盘一端开口的下方。通过采用上述技术方案，利用滑道远离圆盘一端开口处的挡片，能够对从滑道中滑出的电子元件在掉落到收集框之前进行一个缓冲，避免了电子元件会由于重力加速度的原因而直接飞出到收集框之外。因为电子元件上的多种部件的精密性要求更高，如果电子元件直接掉落到收集框中，会使元件相互之间发生较大的力的碰撞，可能会导致电子元件的损坏，所以利用挡片在滑道开口下方的缓冲作用，能够使电子元件以较慢的速度落到收集框中，从而就能保证电子元件不会由于强力碰撞而发生损坏。本技术进一步设置为：所述滑道远离圆盘一端设有用于调节挡片和滑道开口距离的卡位块，所述挡片设有连接于挡片两侧的连接件，所述连接件与卡位块沿滑道倾斜方向呈滑动连接。通过采用上述技术方案，利用连接件和卡位块之间的滑动连接，从而就能调节挡片和滑道开口之间的距离，能够改变对于不同质量的电子元件的缓冲力度，就能使电子元件掉落时都可以有最合适的掉落速度，满足不同型号的电子元件的收集要求。本技术进一步设置为：所述工作台上垂直设置有转轴，所述转轴与滑道靠近圆盘一端呈转动连接，所述滑道远离圆盘一端下方设有多个收集框。通过采用上述技术方案，利用滑道和工作台表面上转轴的转动连接，能够使滑道绕着转轴进行一定角度的转动，从而能够使滑道的底端开口对准不同的收集框，能够将合格和不合格产片进行一个分类收集，使收集过程变得更加方便快捷。也能在一个收集框收满之后不用停止检测机去更换收集框，可以直接将滑道的开口对准新的一个收集框重新开始收集，使检测过程中不间断，也就能提高整台机器的检测效率。本技术进一步设置为：所述工作台上设有用于将电子元件从缺口中卡出的执行机构，所述执行机构位于收集装置上方。通过采用上述技术方案，利用执行机构就能免去工作人员需要将电子元件从缺口中拨出到收集装置内，可以直接利用执行机构把电子元件自动取出，使整个收集过程变得更加方便快捷，两者的配合，实现了取出和收集的两个功能效果，提高了整台机器的检测效率。本技术进一步设置为：所述执行机构包括与电子元件相抵触的拨片和固定连接于工作台表面的支撑柱，所述拨片固定连接于支撑柱远离工作台一端。通过采用上述技术方案，利用拨片，当圆盘带着检测完毕后的电子元件运动到和拨片相抵触时，拨片固定连接于支撑柱的顶端无法被推动，从而就能利用拨片给电子元件一个抵触力，使拨片和电子元件接触时能够保持相对静止，把电子元件从缺口中带出，拨片和支撑柱的设置使整个执行机构结构简单，无需人力，又能提高取出的成功率，使整个检测过程更加简化，减少了工作工序。本技术进一步设置为：所述支撑柱远离圆盘一端固定连接有底座，所述底座底面与工作台表面相抵触，所述底座上设有腰型槽，所述底座通过紧固件穿设腰型槽与工作台固定连接。通过采用上述技术方案，利用底座将支撑柱和工作台进行抵触连接，从而能够增加支撑柱与工作台表面的接触面积，再利用紧固件就能使整个执行机构更加稳定地固定在工作台表面，使拨片和电子元件相抵触时，支撑柱不会发生移动，从而就能够提供给电子元件一个抵触力。利用紧固件与腰型槽的配合，就能调节底座在工作台上的位置，从而就能带动拨片改变其在圆盘上方的位置，调节和圆盘的角度，就能适应将不同尺寸大小电子元件取出的特殊需求。还可以利用紧固件的作用，能够将整个执行机构与工作台表面进行拆卸，从而还能方便安装适用于不同形状的圆盘。本技术进一步设置为：所述缺口设有用于支撑电子元件的卡块，所述卡块沿缺口边沿固定连接于圆盘底面，所述卡块表面与电子元件底面相抵触。通过采用上述技术方案，利用圆盘底面位于缺口处的卡块作用，能够对缺口中放置的电子元件提供一个支撑力，使电子元件的底面能够与卡块相抵触，增大了和电子元件的接触面积，从而使电子元件位于缺口中时，不会发生掉落，能够更加稳定地放置在缺口中，从而使每一个测试过程更加稳定，提高检测的准确性。综上所述，本技术具有以下有益效果：利用支撑柱一端固定连接的拨片和电子元件的抵触作用，能够更加快速方便地将电子元件从缺口中取出，配合利用滑道的导向作用，缩短了工作台和收集框的距离，使电子元件能够快速地进入到收集框内，免去了工作人员需要对电子元件进行人工收集分类和取出的麻烦，并且利用可以在工作台上进行一定角度旋转的作用，能够方便对合格与不合格的产品直接在取出时就能进行分类，省去了工作人员对其分选收集的工作步骤。利用挡片的缓冲作用，在利用滑道的收集过程中能够依然保持电子元件的产品的质量不受损坏，使收集装置设计更加合理。附图说明图1是本技术一种电性能检测机的结构示意图；本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电性能检测机，包括工作台（1）、位于工作台（1）上的测试仪（2）和圆盘（3），所述圆盘（3）上沿圆周方向均匀设置有用于放置电子元件的卡槽（4），其特征是：所述卡槽（4）沿圆周边缘设有缺口，所述工作台（1）位于圆盘（3）缺口下方设有用于收集电子元件的收集装置（6）。

【技术特征摘要】
1.一种电性能检测机，包括工作台（1）、位于工作台（1）上的测试仪（2）和圆盘（3），所述圆盘（3）上沿圆周方向均匀设置有用于放置电子元件的卡槽（4），其特征是：所述卡槽（4）沿圆周边缘设有缺口，所述工作台（1）位于圆盘（3）缺口下方设有用于收集电子元件的收集装置（6）。2.根据权利要求1所述的电性能检测机，其特征是：所述收集装置（6）包括倾斜设置的滑道（61），所述滑道（61）靠近圆盘（3）一端开口朝向缺口下方，所述滑道（61）远离圆盘（3）一端下方设有收集框（62）。3.根据权利要求2所述的电性能检测机，其特征是：所述滑道（61）远离圆盘（3）一端开口设有用于缓冲滑落的电子元件的挡片（7），所述挡片（7）位于滑道（61）远离圆盘（3）一端开口的下方。4.根据权利要求3所述的电性能检测机，其特征是：所述滑道（61）远离圆盘（3）一端设有用于调节挡片（7）和滑道（61）开口距离的卡位块（8），所述挡片（7）设有连接于挡片（7）两侧的连接件（9），所述连接件（9）与卡位块（8）沿滑道（61）倾斜方向呈滑动连接。5.根据权利要求2所述的电性能检测机，其特征是：所述工作...

【专利技术属性】
技术研发人员：戈岩，
申请(专利权)人：杭州华锦电子有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33