一种用于测试芯片的手动夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于测试芯片的手动夹具，包括底座，底座的中心处设置有芯片基座，芯片基座的中心处设置有一放置芯片的芯片槽，芯片基座上设置有金手指探针，金手指探针分布在芯片槽的左右两侧，且相对称布置，芯片基座的左右两侧分别设置有左滑块基座和右滑块基座，与金手指探针相对的所述左滑块基座和右滑块基座上分别设置有左滑轨和右滑轨，在左滑轨和右滑轨上分别设置有左压针滑块和右压针滑块，左压针滑块和右压针滑块分别与左旋转手柄和右旋转手柄滑动连接，芯片基座的一端通过扭力弹簧设置有与芯片槽配合的盒盖。本实用新型专利技术结构精巧、实用性强且还能节约成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种手动夹具，尤其涉及一种用于测试芯片的手动夹具。
技术介绍
目前半导体行业发展前景一片大好，多种多样的芯片也接踵而至，随即各类型的测试探针也是多样化发展。随着企业逐步向产业化、规模化发展，市场需求也在逐步扩大，这样芯片生产核心技术的研发动向、工艺设备、技术应用及趋势对于企业提升产品技术规格，提高市场竞争力十分关键。使用金手指来接触芯片针脚来进行芯片测试的技术已经发展很长一段时间了，但是市场化的测试夹具尚无法达到测试厂家的理想效果，大多以体积大、操作不便、效率不高等缺点存在，该领域由于基本处于手动测试阶段，无法实现量产的要求，实际上这种大针脚的芯片测试，基本属于少量型测试，在未来的夹具设计创新上，主要以轻便，实用，简单化为目的来进行创新设计。有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的用于测试芯片的手动夹具，使其更具有产业上的利用价值。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本技术的目的是提供一种用于测试芯片的手动夹具。为实现上述目的，本技术采用如下技术方案：一种用于测试芯片的手动夹具，包括底座，所述底座的中心处设置有芯片基座，所述芯片基座的中心处设置有一放置芯片的芯片槽，所述芯片基座上设置有金手指探针，所述金手指探针分布在芯片槽的左右两侧，且相对称布置，所述芯片基座的左右两侧分别设置有左滑块基座和右滑块基座，与金手指探针相对的所述左滑块基座和右滑块基座上分别设置有左滑轨和右滑轨，在左滑轨和右滑轨上分别设置有左压针滑块和右压针滑块，所述左压针滑块和右压针滑块分别与左旋转手柄和右旋转手柄滑动连接，当左旋转手柄和右旋转手柄旋转后，左压针滑块和右压针滑块滑动将金手指探针与芯片相碰触布置，所述芯片
基座的一端通过扭力弹簧设置有与芯片槽配合的盒盖。进一步的，所述的用于测试芯片的手动夹具，其中，所述盒盖上设置有卡扣，用于扣合在芯片基座上。进一步的，所述的用于测试芯片的手动夹具，其中，与芯片槽相对的所述盒盖上设置有芯片压头。进一步的，所述的用于测试芯片的手动夹具，其中，所述左滑块基座上还设置有左滑块压头，分设在左压针滑块的两侧布置。进一步的，所述的用于测试芯片的手动夹具，其中，所述右滑块基座上还设置有右滑块压头，分设在右压针滑块的两侧布置。进一步的，所述的用于测试芯片的手动夹具，其中，所述底座上设置有匹配芯片基座的凹槽，芯片基座设于凹槽内。借由上述方案，本技术至少具有以下优点：1、结构精巧，本技术整体结构精巧，各部件配合紧密，设计有与芯片基座配合的凹槽，且还设置有旋转滑块机构，有效解决大而笨重的现有测试夹具；2、实用性强，整体轻便小巧。本技术操作简单方便，大大提升了手动测试芯片的效率；3、节约成本，本技术简化了结构，降低加工成本，从而使得夹具整体轻便，有效地降低了夹具的成本。上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1是本技术的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不用来限制本技术的范围。为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。实施例如图1所示，一种用于测试芯片的手动夹具，包括底座1，所述底座1的中心处设置有芯片基座2，所述芯片基座2的中心处设置有一放置芯片的芯片槽3，所述芯片基座2上设置有金手指探针4，所述金手指探针4分布在芯片槽3的左右两侧，且相对称布置，所述芯片基座2的左右两侧分别设置有左滑块基座5和右滑块基座6，与金手指探针4相对的所述左滑块基座5和右滑块基座6上分别设置有左滑轨和右滑轨，在左滑轨和右滑轨上分别设置有左压针滑块7和右压针滑块8，所述左压针滑块7和右压针滑块8分别与左旋转手柄9和右旋转手柄10滑动连接，当左旋转手柄9和右旋转手柄10旋转后，左压针滑块7和右压针滑块8滑动将金手指探针4与芯片相碰触布置，所述芯片基座2的一端通过扭力弹簧设置有与芯片槽3配合的盒盖11。通过金手指探针4和做压针滑块7和右压针滑块8之间的配合使用，能很方便的测试芯片。本技术中所述盒盖11上设置有卡扣12，用于扣合在芯片基座2上，使芯片能更加的稳定的固定在芯片基座2的芯片槽3上。本技术中与芯片槽3相对的所述盒盖11上设置有芯片压头13，通过芯片压头13能使盒盖11将芯片固定的更加稳定，同时也能保护芯片不受盒盖11的反复的盖合而对芯片产生损坏。本技术中所述左滑块基座5上还设置有左滑块压头14，分设在左压针滑块7的两侧布置，所述右滑块基座6上还设置有右滑块压头15，分设在右压针滑块8的两侧布置。通过在左压针滑块7和右压针滑块8上分别安装左滑块压头14和右滑块压头15，能防止防止滑块发生端部翘曲。本技术中所述底座1上设置有匹配芯片基座2的凹槽，芯片基座2设于凹槽内，防止芯片左右偏移，从而影响测试的精确性。本技术中所述金手指探针4采用插接的方式设置在芯片基座2上，方便对金手指探针4的更换，使之维护方便。本技术的工作原理如下：首先将芯片放入芯片基座2上的芯片槽3中，接着将盒盖11翻下，扣入芯片基座2与卡扣12相匹配的卡槽内，此时完成初次压住芯片的动作，从而使芯片保持固定不动，然后旋转左旋转手柄9和右旋转手柄10(定轴旋转)，带动左压针滑块7和右压针滑块8滑动，从而压针滑块7和右压针滑块8分别压住与其对应的金手指探针4并使其发生形变，紧接着形变的金手指探针4接触芯片的针脚底，实现接触，最后完成测试。借由上述方案，本技术至少具有以下优点：1、结构精巧，本技术整体结构精巧，各部件配合紧密，设计有与芯片基座配合的凹槽，且还设置有旋转滑块机构，有效解决大而笨重的现有测试夹具；2、实用性强，整体轻便小巧。本技术操作简单方便，大大提升了手动测试芯片的效率；3、节约成本，本技术简化了结构，降低加工成本，从而使得夹具整体轻便，有效地降低了夹具的成本。以上所述仅是本技术的优选实施方式，并不用于限制本技术，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试芯片的手动夹具，其特征在于：包括底座(1)，所述底座(1)的中心处设置有芯片基座(2)，所述芯片基座(2)的中心处设置有一放置芯片的芯片槽(3)，所述芯片基座(2)上设置有金手指探针(4)，所述金手指探针(4)分布在芯片槽(3)的左右两侧，且相对称布置，所述芯片基座(2)的左右两侧分别设置有左滑块基座(5)和右滑块基座(6)，与金手指探针(4)相对的所述左滑块基座(5)和右滑块基座(6)上分别设置有左滑轨和右滑轨，在左滑轨和右滑轨上分别设置有左压针滑块(7)和右压针滑块(8)，所述左压针滑块(7)和右压针滑块(8)分别与左旋转手柄(9)和右旋转手柄(10)滑动连接，当左旋转手柄(9)和右旋转手柄(10)旋转后，左压针滑块(7)和右压针滑块(8)滑动将金手指探针(4)与芯片相碰触布置，所述芯片基座(2)的一端通过扭力弹簧设置有与芯片槽(3)配合的盒盖(11)。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试芯片的手动夹具，其特征在于：包括底座(1)，所述底座(1)的中心处设置有芯片基座(2)，所述芯片基座(2)的中心处设置有一放置芯片的芯片槽(3)，所述芯片基座(2)上设置有金手指探针(4)，所述金手指探针(4)分布在芯片槽(3)的左右两侧，且相对称布置，所述芯片基座(2)的左右两侧分别设置有左滑块基座(5)和右滑块基座(6)，与金手指探针(4)相对的所述左滑块基座(5)和右滑块基座(6)上分别设置有左滑轨和右滑轨，在左滑轨和右滑轨上分别设置有左压针滑块(7)和右压针滑块(8)，所述左压针滑块(7)和右压针滑块(8)分别与左旋转手柄(9)和右旋转手柄(10)滑动连接，当左旋转手柄(9)和右旋转手柄(10)旋转后，左压针滑块(7)和右压针滑块(8)滑动将金手指探针(4)与芯片相碰触布置，所述芯片基座(2)...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁凤亭，
申请(专利权)人：苏州韬盛电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32