【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术的实施例提供一种不良显示面板的统计方法及装置，涉及显示
，可快速统计出不良显示面板在显示母板内的分布情况，从而快速分析造成显示面板不良的原因。该方法包括：读取不良显示面板上的二维码信息；根据所述二维码信息确定所述不良显示面板在显示母板内的位置信息；根据所述位置信息，输出不良显示面板在所述显示母板内的分布信息。该方法可应用于不良显示面板的统计过程中。【专利说明】一种不良显示面板的统计方法及装置
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种不良显示面板的统计方法及装置。
技术介绍
通常，在IXD工艺中，可以将多个显示面板集中制作在一个显示母板上，例如，一张1.5米*1.3米的显示母板内阵列排布有220个5.2英寸的显示面板，后续经过切割等工艺后制成一个个具有独立显示功能的显示面板。其中，将显示母板切割为多个显示面板后，需要对各个显示面板进行点灯检测，以确定显示面板是否出现亮点、mura斑痕等不良，一旦出现不良的显示面板，需要统一将一个生产批次中的不良显示面板送回制作处进行分析，操作人员通过确定各个不良显示面板在显示母板内的位置，分析出显示母...
【技术保护点】
一种不良显示面板的统计方法，其特征在于，包括：读取不良显示面板上的二维码信息；根据所述二维码信息确定所述不良显示面板在显示母板内的位置信息；根据所述位置信息，输出不良显示面板在所述显示母板内的分布信息。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王志强，赵欣，赵艳艳，任艳伟，唐乌力吉白尔，张琨鹏，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。