【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于检测零件行位公差测量领域,具体地说是一种用于中小型零件中两孔垂直度检测的专用量具及其测量方法。
技术介绍
随着机械制造行业的发展,对零件的行位尺寸精度要求也越来越高,在生产过程中对零件关键尺寸的实时把控显得尤为重要。采用三坐标测量仪可以检测零件各种形位公差,但是设备价格高、测量效率低、对使用者技术要求高,不适合用于制造过程中的实时检测。而传统的两孔垂直度检具通用性不足,零件的相关尺寸发生变化,检具就不再适用,这就对专用量具的设计提出更高的要求。
技术实现思路
本专利技术为了解决垂直度检测装置结构复杂、价格高以及通用性等问题,设计一种用于中小型零件中两孔垂直度检测的专用量具及其测量方法,以期能提高检测效率和降低检测成本,从而能适应于各种中小型零件的两孔垂直度测量。本专利技术为解决技术问题采用如下技术方案:本专利技术一种用于中小型零件中两孔垂直度检测的专用量具,其特征包括:实验平台、测量底座、立柱、装夹机构、百分表、带有刻度和锥度的校棒、待测零件以及可拆卸的固定装置;在所述实验平台上设置有所述测量底座,在测量底座上的两侧分别设置有固定孔和交叉的“T”型槽;在所述测量底座的固定孔中设置有所述立柱,在所述立柱上套装有所述装夹机构,所述装夹机构能围绕所述立柱转动并通过上下滑动来调节在立柱上的位置;在所述装夹机构的末端设置有所述百分表;且所述百分表垂直于所述测量底座;所述校棒设置在所 ...
【技术保护点】
一种用于中小型零件中两孔垂直度检测的专用量具,其特征包括:实验平台(1)、测量底座(2)、立柱(3)、装夹机构(4)、百分表(5)、带有刻度和锥度的校棒(6)、待测零件(7)以及可拆卸的固定装置;在所述实验平台(1)上设置有所述测量底座(2),在测量底座(2)上的两侧分别设置有固定孔和交叉的“T”型槽;在所述测量底座(2)的固定孔中设置有所述立柱(3),在所述立柱(3)上套装有所述装夹机构(4),所述装夹机构(4)能围绕所述立柱(3)转动并通过上下滑动来调节在立柱(3)上的位置;在所述装夹机构(4)的末端设置有所述百分表(5);且所述百分表(5)垂直于所述测量底座(2);所述校棒(6)设置在所述待测零件(7)的水平方向的孔上;所述待测零件(7)通过其竖直方向的孔固定在所述固定装置上;所述固定装置设置在所述“T”型槽中,并能在所述“T”型槽内滑动;所述专用量具是以固定装置为基准,并以所述百分表(5)实现对所述校棒(6)的测量,进而得到所述待测零件(7)两孔垂直度的检测结果。
【技术特征摘要】
1.一种用于中小型零件中两孔垂直度检测的专用量具,其特征包括:实验平台(1)、测
量底座(2)、立柱(3)、装夹机构(4)、百分表(5)、带有刻度和锥度的校棒(6)、待测零件(7)以及
可拆卸的固定装置;
在所述实验平台(1)上设置有所述测量底座(2),在测量底座(2)上的两侧分别设置有固定孔
和交叉的“T”型槽;
在所述测量底座(2)的固定孔中设置有所述立柱(3),在所述立柱(3)上套装有所述装夹机构
(4),所述装夹机构(4)能围绕所述立柱(3)转动并通过上下滑动来调节在立柱(3)上的位置;在
所述装夹机构(4)的末端设置有所述百分表(5);且所述百分表(5)垂直于所述测量底座(2);
所述校棒(6)设置在所述待测零件(7)的水平方向的孔上;所述待测零件(7)通过其竖直方向
的孔固定在所述固定装置上;所述固定装置设置在所述“T”型槽中,并能在所述“T”型槽
内滑动;
所述专用量具是以固定装置为基准,并以所述百分表(5)实现对所述校棒(6)的测量,进而
得到所述待测零件(7)两孔垂直度的检测结果。
2.根据权利要求1所述的用于中小型零件中两孔垂直度检测的专用量具,其特征是:所
述装夹机构(4)包括:螺栓(4a)、横向支架(4b)和螺钉(4c);所述横向支架(4b)通过所述螺栓(4a)
固定在所述立柱(3)上,所述横向支架(4b)的前端设有小孔,用于竖直插入所述百分表(5),并
通过所述螺钉(4c)紧固。
3.根据权利要求1所述的用于中小型零件中两孔垂直度检测的专用量具,其特征是:所
述固定装置包括:膨胀芯轴(8)、芯轴底座(9)和滑块(10);
所述芯轴底座(9)的一侧通过螺纹与所述膨胀芯轴(8)联接,所述芯轴底座(9)的另一侧与滑
块(10)通过螺纹联接,
所述固定装置是通过滑块(10)在所述“T”型槽滑动,从而带动所述芯轴底座(9)的下表面
贴合所述测量底座(2)的上表面移动,进而使得所述待测零件(7)上的校棒(6)能接触到所述百分
表(5)的测量头。
4.一种用于中小型零件中两孔垂直度检测的专...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵韩,刘生强,黄康,钱超,朱永奇,徐锐,潘毅,
申请(专利权)人:合肥工业大学,
类型:发明
国别省市:安徽;34
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