射频功率校准方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种射频功率校准方法、装置及系统，所述方法包括步骤：A)控制待测射频器件发射第一载波射频信号；B)控制功率检测装置检测所述第一载波射频信号；C)从所述待测射频器件中获取由所述第一载波射频信号转换形成的第一测量值，并从所述功率检测装置中获取对所述第一载波射频信号检测形成的第二测量值；D)根据所述第一测量值和所述第二测量值计算射频功率校准系数；以及E)上传所述校准系数至所述待测射频器件。本发明专利技术实现不仅能避免人工手动校准过程中因人为因素造成的错误，还能使得校准过程准确快捷。

【技术实现步骤摘要】
201410690769

【技术保护点】
一种射频功率校准方法，其特征在于，包括步骤：A)控制待测射频器件发射第一载波射频信号；B)控制功率检测装置检测所述第一载波射频信号；C)从所述待测射频器件中获取由所述第一载波射频信号转换形成的第一测量值，并从所述功率检测装置中获取对所述第一载波射频信号检测形成的第二测量值；D)根据所述第一测量值和所述第二测量值计算射频功率校准系数；以及E)上传所述校准系数至所述待测射频器件。

【技术特征摘要】
1.一种射频功率校准方法，其特征在于，包括步骤：
A)控制待测射频器件发射第一载波射频信号；
B)控制功率检测装置检测所述第一载波射频信号；
C)从所述待测射频器件中获取由所述第一载波射频信号转换形成的
第一测量值，并从所述功率检测装置中获取对所述第一载波射频信号检
测形成的第二测量值；
D)根据所述第一测量值和所述第二测量值计算射频功率校准系数；
以及
E)上传所述校准系数至所述待测射频器件。
2.如权利要求1所述的射频功率校准方法，其特征在于，还包括：
配置所述待测射频器件的第一载波增益值；
相应地，步骤D)包括：
根据所述第一载波增益值、所述第一测量值和所述第二测量值计算
射频功率校准系数。
3.如权利要求1所述的射频功率校准方法，其特征在于，在步骤A)
之前，还包括：
配置所述待测射频器件的射频参数，以及配置所述功率检测装置的
检测参数。
4.如权利要求1所述的射频功率校准方法，其特征在于，在步骤E)
之后，还包括：
配置所述待测射频器件的第二载波增益值；
控制所述待测射频器件发射第二载波射频信号；
控制所述功率检测装置检测所述第二载波射频信号；
从所述待测射频器件中读取由所述第二载波射频信号转换形成的
第三测量值，并从所述功率检测装置中获取对所述第二载波射频信号检

\t测形成的第四测量值；
根据所述第二载波增益值、所述第三测量值和所述第四测量值判断
射频功率校准是否成功；
若是，结束校准流程；
若否，发送失败指令以提示是否重新进行射频功率校准。
5.一种射频功率校准装置，其特征在于，包括：
第一控制模块，用于控制待测射频器件发射第一载波射频信号；
第二控制模块，用于控制功率检测装置检测所述第一载波射频信
号；
获取模块，用于从所述待测射频器件中获取由所述第一载波射频信
号转换形成的第一测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：董旭，
申请(专利权)人：航天信息股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11